[實用新型]微型光學(xué)掃描測距裝置、系統(tǒng)及光學(xué)測距系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201420460856.2 | 申請日: | 2014-08-15 |
| 公開(公告)號: | CN204240979U | 公開(公告)日: | 2015-04-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳士凱;劉義春;李宇翔;黃玨珅;林凌 | 申請(專利權(quán))人: | 上海思嵐科技有限公司 |
| 主分類號: | G01C3/10 | 分類號: | G01C3/10 |
| 代理公司: | 上海百一領(lǐng)御專利代理事務(wù)所(普通合伙) 31243 | 代理人: | 馬育麟 |
| 地址: | 201203 上海市浦東新區(qū)張*** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 微型 光學(xué) 掃描 測距 裝置 系統(tǒng) | ||
1.一種微型光學(xué)掃描測距裝置,其特征在于,包括:
一底座;
一小基線光學(xué)測距系統(tǒng),安裝于所述底座;
一掃描模塊,其包括一轉(zhuǎn)盤和傾斜地連接于所述轉(zhuǎn)盤的一反光鏡片,其中所述反光鏡片位于所述光學(xué)測距系統(tǒng)的上方,所述轉(zhuǎn)盤可轉(zhuǎn)動地連接于所述底座;和
一數(shù)據(jù)處理模塊,連接于所述轉(zhuǎn)盤和所述底座,計量所述反光鏡片旋轉(zhuǎn)的角度信息。
2.如權(quán)利要求1所述的微型光學(xué)掃描測距裝置,其特征在于,所述小基線光學(xué)測距系統(tǒng)固定于所述底座。
3.如權(quán)利要求1或2所述的微型光學(xué)掃描測距裝置,其特征在于,所述數(shù)據(jù)處理模塊為一編碼器,包括一編碼器碼盤和一脈沖感應(yīng)元件,其中所述編碼器碼盤固定于所述轉(zhuǎn)盤,所述脈沖感應(yīng)元件固定于所述底座,且所述脈沖感應(yīng)元件位于所述編碼器碼盤附近不產(chǎn)生接觸的空間處。
4.如權(quán)利要求1,2或3所述的微型光學(xué)掃描測距裝置,其特征在于,進一步包括安裝于所述底座的一動力模塊,其包括一動力部件和一傳動部件,其中所述傳動部件連接于所述動力部件和所述轉(zhuǎn)盤,得以使所述動力部件施加動力給所述轉(zhuǎn)盤,促使所述轉(zhuǎn)盤的轉(zhuǎn)動。
5.如權(quán)利要求1,2,3或4所述的微型光學(xué)掃描測距裝置,其特征在于,所述小基線光學(xué)測距系統(tǒng)包括一成像透鏡、一感光芯片、一準直光源以及連接于所述感光芯片的一處理器電路,其中所述感光芯片和所述成像透鏡光軸保持一個大于0°并小于90°的夾角,所述成像透鏡的中心光軸與所述準直光源之間形成一基線,所述準直光源發(fā)射的準直光束與所述基線的垂線呈一角度。
6.如權(quán)利要求5所述的微型光學(xué)掃描測距裝置,其特征在于,所述小基線光學(xué)測距系統(tǒng)進一步包括一固定結(jié)構(gòu),得以使所述成像透鏡、所述感光芯片、所述準直光源和所述處理器電路固定于所述底座。
7.如權(quán)利要求6所述的微型光學(xué)掃描測距裝置,其特征在于,所述掃描模塊進一步包括一支撐元件,其中所述支撐元件得以使所述反光鏡片傾斜地安裝于?所述轉(zhuǎn)盤的邊緣。
8.如權(quán)利要求1,2,3,4,5或7所述的微型光學(xué)掃描測距裝置,所述反光鏡片與所述底座所在平面呈45°夾角。
9.如權(quán)利要求4所述的微型光學(xué)掃描測距裝置,其特征在于,所述掃描模塊進一步包括一軸承,其連接于所述轉(zhuǎn)盤和所述傳動部件之間,得以傳遞動力給所述轉(zhuǎn)盤。
10.如權(quán)利要求1,2或9所述的微型光學(xué)掃描測距裝置,其特征在于,所述光學(xué)測距系統(tǒng)為三角光學(xué)測距系統(tǒng)或TOF測距系統(tǒng)。
11.一種光學(xué)測距系統(tǒng),其特征在于,包括:
一成像透鏡;
一感光芯片,安裝于所述成像透鏡的后方,其中所述感光芯片與所述成像透
鏡光軸呈一夾角,其中所述夾角大于0°并小于90°;
一準直光源,其與所述成像透鏡的中心光軸之間形成一間隔距離;和
一處理器電路,連接于所述感光芯片。
12.如權(quán)利要求11所述的光學(xué)測距系統(tǒng),其特征在于,所述準直光源為激光。
13.如權(quán)利要求11所述的光學(xué)測距系統(tǒng),其特征在于,所述準直光源為LED光源,且所述光學(xué)測距系統(tǒng)進一步包括一聚焦透鏡,安裝于所述LED光源的前方,以聚焦所述LED光源。
14.如權(quán)利要求11,12或13所述的光學(xué)測距系統(tǒng),其特征在于,所述感光芯片為CMOS感光陣列芯片、CCD感光陣列芯片或PSD。
15.如權(quán)利要求14所述的光學(xué)測距系統(tǒng),其特征在于,所述感光芯片與所述成像透鏡之間呈25°夾角。
16.一種光學(xué)掃描測距系統(tǒng),其特征在于,包括:
一轉(zhuǎn)盤;
一反光鏡片,其傾斜地連接于所述轉(zhuǎn)盤;
一數(shù)據(jù)處理模塊,連接于轉(zhuǎn)盤,計量所述反光鏡片旋轉(zhuǎn)的角度信息;
一動力部件,其連接于所述轉(zhuǎn)盤,傳遞動力給所述轉(zhuǎn)盤,得以使所述反光鏡
片在所述轉(zhuǎn)盤的轉(zhuǎn)動下轉(zhuǎn)動;和
一光學(xué)測距系統(tǒng),安裝于所述反光鏡片的下方。
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