[實(shí)用新型]一種電子元件調(diào)試檢測(cè)箱有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201420450239.4 | 申請(qǐng)日: | 2014-08-11 |
| 公開(公告)號(hào): | CN204008728U | 公開(公告)日: | 2014-12-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉永濤;王富良;于吉利 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 國家電網(wǎng)公司;國網(wǎng)山東陵縣供電公司 |
| 主分類號(hào): | G01R1/04 | 分類號(hào): | G01R1/04 |
| 代理公司: | 無 | 代理人: | 無 |
| 地址: | 10076*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 電子元件 調(diào)試 檢測(cè) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種調(diào)試檢測(cè)箱,尤其涉及一種電子元件調(diào)試檢測(cè)箱。
背景技術(shù)
電子元器件產(chǎn)業(yè)的技術(shù)政策應(yīng)立足于提高電子元器件產(chǎn)業(yè)的自主創(chuàng)新能力,就加強(qiáng)電子元器件的核心技術(shù)、關(guān)鍵技術(shù)、共性技術(shù)、基礎(chǔ)技術(shù)研究開發(fā);增加電子元器件的技術(shù)儲(chǔ)備,采用先進(jìn)技術(shù):縮短研制周期、降低研制生產(chǎn)成本;促進(jìn)科研成果產(chǎn)業(yè)化;保護(hù)知識(shí)產(chǎn)權(quán)、優(yōu)化標(biāo)準(zhǔn)系列,加強(qiáng)質(zhì)量檢測(cè)等方面制定相應(yīng)政策,同時(shí),技術(shù)政策應(yīng)包含技術(shù)強(qiáng)制,對(duì)現(xiàn)有落后的或行將落后的工藝、技術(shù)及產(chǎn)品,以法律或法規(guī)形式禁止使用或取締。目前我國的電子元器件基本上仍是以中低檔產(chǎn)品為主,許多高檔產(chǎn)品仍有賴于進(jìn)口,急需提高自主研制、自主創(chuàng)新能力,因此需制定《加速電子元器件產(chǎn)業(yè)發(fā)展的稅制和貸款制度的優(yōu)惠政策》,該政策應(yīng)有利于提高我國電子元器件產(chǎn)業(yè)自主研制、自主創(chuàng)新和科研成果轉(zhuǎn)化能力,有利于電子元器件產(chǎn)業(yè)的可持續(xù)發(fā)展和有利于電子元器件產(chǎn)業(yè)成為電子信息產(chǎn)業(yè)強(qiáng)國的重要保障和支撐。該政策重點(diǎn)是實(shí)行技術(shù)優(yōu)惠,對(duì)自主研發(fā)或率先引進(jìn)和采用新/先進(jìn)工業(yè)技術(shù)、工藝、材料、結(jié)構(gòu)、原理的,實(shí)行優(yōu)惠的財(cái)政稅收政策和銀行信貸利率政策。所以有必要對(duì)電子元器件進(jìn)行檢測(cè),現(xiàn)有的電子元件檢測(cè)儀使用不方便,不具有豎直升降調(diào)節(jié)功能,也不具有水平移動(dòng)調(diào)節(jié)功能,測(cè)試電子元件不方便,更不具有歸類電子元件的功能。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的主要目的在于提供一種方便分類電子元件,第一旋轉(zhuǎn)輪通過升降管可以控制電子元件檢測(cè)儀豎直升降,第二旋轉(zhuǎn)輪通過水平移動(dòng)板可以控制電子元件檢測(cè)儀水平移動(dòng),從而可以方便調(diào)節(jié)電子元件檢測(cè)儀的立體移動(dòng);掛物板沿著插塊可以在箱蓋內(nèi)水平移動(dòng),從而方便待檢測(cè)的電子元件與電子元件檢測(cè)儀對(duì)接,方便按次序?qū)拥碾娮釉{(diào)試檢測(cè)箱。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型采取的技術(shù)方案為:
一種電子元件調(diào)試檢測(cè)箱,包括底板,底板上設(shè)有箱體、儲(chǔ)物桶以及回收桶,儲(chǔ)物桶布置在箱體的一側(cè),回收桶布置在箱體的另一側(cè),儲(chǔ)物桶的頂部設(shè)有取物口,回收桶的側(cè)壁設(shè)有回收口,回收桶上設(shè)有儲(chǔ)物池,儲(chǔ)物池的頂部設(shè)有進(jìn)料口,箱體內(nèi)設(shè)有電子元件檢測(cè)儀,電子元件檢測(cè)儀設(shè)置在水平移動(dòng)板上,水平移動(dòng)板設(shè)置在支撐板上,支撐板設(shè)置在升降管的端部,箱體的內(nèi)底部設(shè)有導(dǎo)向管,導(dǎo)向管呈豎直布置,升降管套裝在導(dǎo)向管內(nèi),導(dǎo)向管設(shè)有第一旋轉(zhuǎn)輪,第一旋轉(zhuǎn)輪的軸向位置設(shè)有第一旋帽,第一旋轉(zhuǎn)輪的外周面設(shè)有外螺紋,升降管的表面設(shè)有外螺紋,第一旋轉(zhuǎn)輪與升降管通過螺紋連接,水平移動(dòng)板的底部設(shè)有滑塊,滑塊設(shè)置在支撐板上,支撐板上設(shè)有導(dǎo)向筒,水平移動(dòng)板穿過導(dǎo)向筒,導(dǎo)向筒設(shè)有第二旋轉(zhuǎn)輪,第二旋轉(zhuǎn)輪為外螺紋輪,水平移動(dòng)板的上表面上螺紋槽,第二旋轉(zhuǎn)輪與水平移動(dòng)板通過螺紋連接,第二旋轉(zhuǎn)輪的軸向位置套裝有第二旋帽,箱體的頂部設(shè)有箱蓋,箱蓋設(shè)有插塊,插塊插接有掛物板,掛物板設(shè)有若干呈等間距布置的掛桿,掛桿的下端設(shè)有夾子,掛物板的端部設(shè)有平衡塊,平衡塊布置在箱體的外側(cè)。
進(jìn)一步地,所述水平移動(dòng)板的端部設(shè)有限位塊。
進(jìn)一步地,所述限位塊的直徑比水平移動(dòng)板的長(zhǎng)度長(zhǎng)。
進(jìn)一步地,所述導(dǎo)向筒設(shè)置在墊塊上,墊塊設(shè)置在支撐板上。
進(jìn)一步地,所述升降管的下端設(shè)有限位環(huán),限位環(huán)的直徑比升降管的直徑大。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于國家電網(wǎng)公司;國網(wǎng)山東陵縣供電公司;,未經(jīng)國家電網(wǎng)公司;國網(wǎng)山東陵縣供電公司;許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201420450239.4/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測(cè)量?jī)x器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測(cè)量?jī)x器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測(cè)量?jī)x器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測(cè)量?jī)x器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路
- 調(diào)試系統(tǒng)、調(diào)試方法和調(diào)試控制方法
- 一種終端調(diào)試方法和裝置
- 設(shè)備自動(dòng)工程調(diào)試方法、裝置、系統(tǒng)和計(jì)算機(jī)設(shè)備
- 基于串口的遠(yuǎn)程設(shè)備調(diào)試系統(tǒng)及方法
- 一種安卓系統(tǒng)動(dòng)態(tài)調(diào)試的方法及系統(tǒng)
- 調(diào)試裝置和遠(yuǎn)程調(diào)試系統(tǒng)
- 一種調(diào)試方法、裝置及系統(tǒng)
- 一種應(yīng)用程序開發(fā)的調(diào)試系統(tǒng)及方法
- 樓宇設(shè)備的異地調(diào)試控制方法、裝置和計(jì)算機(jī)設(shè)備
- 一種芯片調(diào)試系統(tǒng)及芯片調(diào)試方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





