[實(shí)用新型]一種單路采樣輸出的內(nèi)置三相繼電器開(kāi)路檢測(cè)電路

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201420399891.8
• 申請(qǐng)日: 2014-07-17
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN204028274U
• 公開(kāi)（公告）日: 2014-12-17
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李兆剛;鄔永強(qiáng)
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 浙江萬(wàn)勝電力儀表有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/02
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/02
• 代理公司: 暫無(wú)信息
• 代理人: 暫無(wú)信息

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及一種電力儀表，具體來(lái)說(shuō)是一種單路采樣輸出的內(nèi)置三相繼電器開(kāi)路檢測(cè)電路。

背景技術(shù)

隨著內(nèi)置控制繼電器的三相電力儀表的應(yīng)用越來(lái)越廣泛，而內(nèi)置繼電器的開(kāi)路檢測(cè)十分重要，現(xiàn)場(chǎng)出現(xiàn)一相或兩相繼電器開(kāi)路，不能及時(shí)檢測(cè)與報(bào)警，嚴(yán)重時(shí)造成三相設(shè)備的燒壞。目前內(nèi)置繼電器的開(kāi)路檢測(cè)采用三路獨(dú)立采樣，需要三路MCU資源，有時(shí)由于MCU資源的限制，簡(jiǎn)單的通過(guò)負(fù)荷電流的有無(wú)來(lái)判斷繼電器開(kāi)路，不能真實(shí)反應(yīng)現(xiàn)場(chǎng)電壓開(kāi)路情況。

發(fā)明內(nèi)容

本實(shí)用新型所要解決的技術(shù)問(wèn)題在于提供一種節(jié)省MCU資源的單路采樣輸出的內(nèi)置三相繼電器開(kāi)路檢測(cè)電路。

為了達(dá)到上述目的，本實(shí)用新型所采用的技術(shù)方案是：

一種單路采樣輸出的內(nèi)置三相繼電器開(kāi)路檢測(cè)電路，包括三相繼電器信號(hào)輸入端，與三相繼電器信號(hào)輸入端分別連接的取值非等比例的三相電阻網(wǎng)絡(luò)，所述的三相電阻網(wǎng)絡(luò)并聯(lián)后與采樣電阻連接形成單路采樣電路，所述的采樣電阻另一端接入接地點(diǎn)，所述的三相電阻網(wǎng)絡(luò)并聯(lián)后還與MCU的AD端口連接。

更具體地，所述的三相電阻網(wǎng)絡(luò)并聯(lián)后與計(jì)量芯片的第七路AD采樣輸入端相連，所述的計(jì)量芯片與MCU相連。

本實(shí)用新型的有益效果在于：

本實(shí)用新型通過(guò)將取值非等比例的三相電阻網(wǎng)絡(luò)并聯(lián)后與采樣電阻R連接形成單路采樣電路，三相電阻網(wǎng)絡(luò)并聯(lián)后與AD端口連接，簡(jiǎn)化了故障檢測(cè)電路，該故障檢測(cè)電路只有一路信號(hào)輸出端口，不同的開(kāi)路故障對(duì)應(yīng)不同的信號(hào)值，外部的數(shù)據(jù)處理設(shè)備可以利用該狀態(tài)信息進(jìn)行內(nèi)置繼電器的開(kāi)路狀態(tài)檢測(cè)，相比于傳統(tǒng)檢測(cè)電路，有效地節(jié)省了MCU資源。

附圖說(shuō)明

圖1是本實(shí)用新型第一種實(shí)施方式的原理框圖

圖2是本實(shí)用新型第二種實(shí)施方式的原理框圖

具體實(shí)施方式

下面結(jié)合附圖1、附圖2對(duì)本實(shí)用新型做進(jìn)一步的詳細(xì)描述。

如附圖1所示的一種單路采樣輸出的內(nèi)置三相繼電器開(kāi)路檢測(cè)電路，包括三相繼電器信號(hào)輸入端Ua、Ub、Uc，與三相繼電器信號(hào)輸入端分別連接的取值非等比例且比例識(shí)別明顯的電阻網(wǎng)絡(luò)A、電阻網(wǎng)絡(luò)B和電阻網(wǎng)絡(luò)C，所述的三相電阻網(wǎng)絡(luò)并聯(lián)后與采樣電阻R連接形成單路采樣電路，所述的采樣電阻R另一端接入接地點(diǎn)Un，形成取樣回路。所述的三相電阻網(wǎng)絡(luò)并聯(lián)后還與MCU的AD端口連接。

在三相繼電器出線(xiàn)端，通過(guò)取值非等比例的電阻網(wǎng)絡(luò)A、電阻網(wǎng)絡(luò)B和電阻網(wǎng)絡(luò)C取樣，三相疊加合成單路采樣電路，與MCU的AD端口連接實(shí)現(xiàn)單路采樣，與之連接的MCU根據(jù)輸入電壓值、取樣網(wǎng)絡(luò)值，將計(jì)算矢量合成的理論值與出線(xiàn)段實(shí)際采樣電壓值比較，進(jìn)而就判斷三相繼電器出線(xiàn)端各路電壓開(kāi)路情況。

如附圖2所示，三相電阻網(wǎng)絡(luò)并聯(lián)后也可與計(jì)量芯片的第七路AD采樣輸入端相連，所述的計(jì)量芯片與MCU相連。此處MCU可以通過(guò)讀取計(jì)量芯片的第七路AD采樣值，根據(jù)不同的采樣與計(jì)算矢量合成的理論值比較，從而判斷三相繼電器出線(xiàn)端各相電壓開(kāi)路情況。

本實(shí)用新型通過(guò)將取值非等比例的三相電阻網(wǎng)絡(luò)并聯(lián)后與采樣電阻R連接形成單路采樣電路，三相電阻網(wǎng)絡(luò)并聯(lián)后與AD端口連接，簡(jiǎn)化了故障檢測(cè)電路，該故障檢測(cè)電路只有一路信號(hào)輸出端口，不同的開(kāi)路故障對(duì)應(yīng)不同的信號(hào)值，外部的數(shù)據(jù)處理設(shè)備可以利用該狀態(tài)信息進(jìn)行內(nèi)置繼電器的開(kāi)路狀態(tài)檢測(cè)，相比于傳統(tǒng)檢測(cè)電路，有效地節(jié)省了MCU資源。本實(shí)用新型的保護(hù)范圍并不僅限于上述實(shí)施方式，凡是屬于本實(shí)用新型原理的技術(shù)方案均屬于本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。對(duì)于本領(lǐng)域的技術(shù)人員而言，在不脫離本實(shí)用新型的原理的前提下進(jìn)行的若干改進(jìn)，這些改進(jìn)也應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。