[實用新型]一種非晶帶厚度測量裝置

有效

• 申請號: 201420377664.5
• 申請日: 2014-07-09
• 公開（公告）號: CN203972796U
• 公開（公告）日: 2014-12-03
• 發明（設計）人: 周增躍
• 申請（專利權）人: 浙江正耀環?？萍加邢薰?/a>
• 主分類號: B22D11/06
• 分類號: B22D11/06;B22D11/12;B22D2/00
• 代理公司: 杭州天欣專利事務所(普通合伙) 33209
• 代理人: 屠福河

1.一種非晶帶厚度測量裝置，包括機架，其特征在于：還包括張力輥、用于測試非晶帶厚度的厚度測量裝置和用于調節厚度測量裝置的調節裝置，所述機架上設置有轉軸，所述張力輥套裝在轉軸上，所述張力輥的數量為兩組，這兩組張力輥平行設置，所述調節裝置包括一號升降電機、升降架、固定架和一號絲桿，所述厚度測量裝置固定在升降架上，所述厚度測量裝置位于張力輥的上方，所述一號升降電機固定在固定架上，所述固定架固定在機架上，所述一號升降電機與一號絲桿連接，所述升降架配合在絲桿上且由一號絲桿控制其升降。

2.根據權利要求1所述的非晶帶厚度測量裝置，其特征在于：所述調節裝置還包括一號滑塊和一號導軌，所述一號導軌固定在固定架上，所述一號滑塊固定在升降架上，所述一號滑塊和一號導軌匹配。

3.根據權利要求2所述的非晶帶厚度測量裝置，其特征在于：所述一號導軌與張力輥垂直設置。