[實用新型]電子元件檢測裝置及其治具

有效

• 申請號: 201420350320.5
• 申請日: 2014-06-27
• 公開（公告）號: CN203949986U
• 公開（公告）日: 2014-11-19
• 發明（設計）人: 黃文榮;溫漢威;林承賢;賴俊銘;楊建成;吳榮富;宋勝泰
• 申請（專利權）人: 泰藝電子股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京泰吉知識產權代理有限公司 11355
• 代理人: 張雅軍

1.一種電子元件檢測裝置，適用于一待測電子元件的電性測試，該待測電子元件具有多個導電接觸部；其特征在于：?

該電子元件檢測裝置包含一測試電路板及一治具，該測試電路板形成有多個焊接部，該治具包括一絕緣本體、多根探針，及至少一鎖接組件，該絕緣本體，設置于該測試電路板上，該絕緣本體形成有一用以供該待測電子元件容置的容置槽，及多個與該容置槽相連通的貫孔，各該探針可移離地穿設于對應的該貫孔內，各該探針底端焊接于對應的該焊接部，各該探針頂端抵接于對應的該導電接觸部，使各該探針電連接于對應的該焊接部與對應的該導電接觸部之間，該鎖接組件可拆卸地將該絕緣本體鎖固于該測試電路板上。?

2.根據權利要求1所述的電子元件檢測裝置，其特征在于：各該探針具有一外徑，各該貫孔具有一大于該外徑的孔徑。?

3.根據權利要求1或2所述的電子元件檢測裝置，其特征在于：該測試電路板形成有兩個穿孔，該絕緣本體形成有兩個分別與兩穿孔相連通的通孔，該治具包括兩個鎖接組件，各該鎖接組件包含一螺栓及一螺帽，各該鎖接組件的該螺栓穿設于對應的該通孔與對應的該穿孔，且該螺栓螺接在抵接于該測試電路板一側的該螺帽。?

4.一種電子元件檢測裝置，適用于多個待測電子元件的電性測試，各該待測電子元件具有多個導電接觸部；其特征在于：?

該電子元件檢測裝置包含一測試電路板及一治具，該測試電路板形成有多個焊接部，該治具包括一絕緣本體、多根探針，及至少一鎖接組件，該絕緣本體設置于該測試電路板上，該絕緣本體形成有多個分別用以供所述待測電子元件容置的容置槽，及多個安裝單元，各該安裝單元包含多個與對應的該容置槽相連通的貫孔，各該探針可移離地穿設于對應的該貫孔內，各該探針底端焊接于對應的該焊接部，各該探針頂端抵接于對應的該導電接觸部，使各該探針電連接于對應的該焊接部與對應的該導電接觸部之間，該鎖接組件可拆卸地將該絕緣本體鎖固于該測試電路板上。?

5.根據權利要求4所述的電子元件檢測裝置，其特征在于：各?該探針具有一外徑，各該貫孔具有一大于該外徑的孔徑。?

6.根據權利要求4或5所述的電子元件檢測裝置，其特征在于：該測試電路板形成有兩個穿孔，該絕緣本體形成有兩個分別與兩穿孔相連通的通孔，該治具包括兩個鎖接組件，各該鎖接組件包含一螺栓及一螺帽，各該鎖接組件的該螺栓穿設于對應的該通孔與對應的該穿孔，且該螺栓螺接在抵接于該測試電路板一側的該螺帽。?

7.一種治具，適于設置在一測試電路板上并可供一待測電子元件放置，該測試電路板形成有多個焊接部，該待測電子元件形成有多個導電接處部；其特征在于：?

該治具包括一絕緣本體、多根探針，及至少一鎖接組件，該絕緣本體設置于該測試電路板上，該絕緣本體形成有一用以供該待測電子元件容置的容置槽，及多個與該容置槽相連通的貫孔，各該探針可移離地穿設于對應的該貫孔內，各該探針底端焊接于對應的該焊接部，各該探針頂端抵接于對應的該導電接觸部，使各該探針電連接于對應的該焊接部與對應的該導電接觸部之間，該鎖接組件可拆卸地將該絕緣本體鎖固于該測試電路板上。?

8.根據權利要求7所述的治具，其特征在于：各該探針具有一外徑，各該貫孔具有一大于該外徑的孔徑。?

9.根據權利要求7或8所述的治具，其特征在于：該測試電路板形成有兩個穿孔，該絕緣本體形成有兩個分別與兩穿孔相連通的通孔，該治具包括兩個鎖接組件，各該鎖接組件包含一螺栓及一螺帽，各該鎖接組件的該螺栓穿設于對應的該通孔與對應的該穿孔，且該螺栓螺接在抵接于該測試電路板一側的該螺帽。?