[實用新型]一種提高紅外輻射成像分辨率的裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201420348578.1 | 申請日: | 2014-06-27 |
| 公開(公告)號: | CN204228606U | 公開(公告)日: | 2015-03-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳堅;吳令奇;吳周令 | 申請(專利權(quán))人: | 無錫利弗莫爾儀器有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/63 | 分類號: | G01N21/63 |
| 代理公司: | 合肥天明專利事務(wù)所 34115 | 代理人: | 金凱 |
| 地址: | 214135 江蘇省無錫市無錫新區(qū)太湖國*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 提高 紅外 輻射 成像 分辨率 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及激光誘導(dǎo)紅外輻射成像技術(shù)領(lǐng)域,具體是一種提高紅外輻射成像分辨率的裝置。
背景技術(shù)
通過對物體在激光照射下產(chǎn)生的紅外輻射波進行檢測分析來獲取物體信息是一種用途比較廣泛的無損檢測技術(shù)。這種技術(shù)也稱為光熱輻射技術(shù)(Photo?thermal?radiometry)?;诠鉄彷椛錅y量技術(shù)的成像技術(shù)在無損檢測、醫(yī)療診斷等領(lǐng)域獲得了廣泛的應(yīng)用,包括對各種復(fù)合材料缺陷的檢測、表征、損傷與評估,半導(dǎo)體缺陷的測量、早期癌癥檢測等。
光熱輻射技術(shù)的基本測量原理是:一束激光束入射到樣品的表面,樣品吸收激光的能量后會引起局部溫度變化,從而引起樣品的紅外熱輻射的變化。因激光照射而引起的紅外熱輻射與樣品本身的物質(zhì)特性有關(guān),通過測量激光照射引起的紅外熱輻射信號,可以獲得樣品的吸收系數(shù)、熱擴散系數(shù)等物質(zhì)特性。
在現(xiàn)有的激光誘導(dǎo)的光熱輻射測量技術(shù)中,通常是利用較大面積的激光光束照射物體,再利用紅外探測器陣列(例如紅外相機等),直接獲得樣品的二維圖像。該方法的優(yōu)點是成像速度快;缺點是成像分辨率取決于紅外探測器陣列及其相關(guān)紅外成像系統(tǒng),分辨率低;另外,因為需要進行大面積照射,為保證靈敏度,也需要采用大功率的激光器,因而設(shè)備的制造和使用成本也比較昂貴。
實用新型內(nèi)容
本實用新型的目的在于提供一種提高紅外輻射成像分辨率的裝置,能夠提高激光激發(fā)紅外輻射成像的分辨率。
本實用新型的技術(shù)方案為:
一種提高紅外輻射成像分辨率的裝置,該裝置包括分別與待測樣品光路連接的輻照激光器和紅外探測器陣列,所述輻照激光器與待測樣品之間依次設(shè)有激光分光裝置、激光調(diào)制裝置和激光聚焦裝置,所述待測樣品與紅外探測器陣列之間依次設(shè)有紅外輻射成像裝置和紅外濾光裝置。
本實用新型通過采用多個聚焦的激光束對待測樣品進行分區(qū)域輻照成像,獲得待測樣品上不同區(qū)域的一系列的二維紅外輻射圖像;利用在可見光波段的輻照激光能夠聚焦成比較小的光斑這一特性,并且通過合理控制各個激光輻照點之間的距離,實現(xiàn)了利用具有較大像素尺寸的紅外探測器陣列來獲得較小尺寸的激光輻照點的紅外輻射信息,突破了紅外探測器陣列的像素尺寸對成像分辨率的限制,大大提高了激光激發(fā)紅外輻射成像的分辨率,有助于拓展該技術(shù)的應(yīng)用領(lǐng)域。
附圖說明
圖1~圖3是本實用新型所述的提高紅外輻射成像分辨率的原理示意圖;
圖4是本實用新型所述的提高紅外輻射成像分辨率的裝置的結(jié)構(gòu)示意圖(反射式);
圖5是本實用新型所述的提高紅外輻射成像分辨率的裝置的結(jié)構(gòu)示意圖(透射式)。
具體實施方式
下面結(jié)合附圖和具體實施例對本實用新型作進一步說明。
如圖1所示,原有的激光激發(fā)紅外輻射成像技術(shù)中,通常是用一束面積較大的激光束對待測樣品進行輻照,利用紅外探測器陣列來獲得激光引起的紅外輻射的二維圖像。這樣的成像方式中,成像分辨率是由紅外探測器陣列的最小像素尺寸和成像鏡頭系統(tǒng)來決定的。紅外輻射本身的波長比較長,通常用來檢測的波段在8~12微米左右。由于波長的限制,紅外探測器陣列的最小像素尺寸不可能做得太小,比較好的也在20微米左右,無法進行高分辨率成像。
如圖2所示,本實用新型采用多個激光束對待測樣品進行輻照,每一個激光束都聚焦到待測樣品上。此時,待測樣品上只有激光輻照點所產(chǎn)生的紅外輻射能夠成像在紅外探測器陣列上。由于所采用的激光束通常在可見光波段,波長相對比較短,可以會聚成比較小的光斑,比如1~2微米。當(dāng)這些激光束彼此之間的距離大于紅外探測器陣列的像素尺寸時,成像在紅外探測器陣列上的這些激光輻照點對應(yīng)不同的像素,因而是可分辨的。這種情況下,成像分辨率取決于激光輻照點的尺寸和紅外探測器陣列的像素尺寸中較小的那個。顯然,激光輻照點的尺寸要遠遠小于紅外探測器陣列的像素尺寸。由此可見,本實用新型利用激光激發(fā)紅外輻射成像的分辨率大大提高了。
如圖3所示,改變激光輻照點在待測樣品上的位置,采集這次所有激光輻照點的圖像,照此類推,通過依次掃描、采集來獲得待測樣品的全部的圖像信息。
實施例1:如圖4所示,一種反射式的提高紅外輻射成像分辨率的裝置,包括有順次設(shè)置的輻照激光器1、激光分光裝置2、激光調(diào)制裝置3、激光聚焦裝置4、待測樣品5、紅外輻射成像裝置6、紅外濾光裝置7和紅外探測器陣列8。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





