[實(shí)用新型]一種用于異物檢測(cè)的組合機(jī)架有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201420346320.8 | 申請(qǐng)日: | 2014-06-25 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN203929679U | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-11-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張家鑫 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 上海伊斯曼電氣有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N23/10 | 分類(lèi)號(hào): | G01N23/10;G01V5/00 |
| 代理公司: | 上海兆豐知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(有限合伙) 31241 | 代理人: | 李征旦 |
| 地址: | 201607 上海*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 異物 檢測(cè) 組合 機(jī)架 | ||
1.一種用于異物檢測(cè)的組合機(jī)架,其特征在于,包括箱體支架,輸送線、X射源、電箱、左側(cè)上門(mén)板、左側(cè)下門(mén)板、右側(cè)門(mén)板、頂蓋、前門(mén)板和擋簾護(hù)罩,其中:
所述箱體支架的內(nèi)部通過(guò)水平設(shè)置的隔板分成上、下部;
所述輸送線縱向安裝在所述隔板的上表面,且位于所述箱體支架的上部;
所述X射源安裝在所述箱體支架的上部,且位于所述輸送線的上方;
所述電箱安裝在所述箱體支架的下部;
所述左側(cè)上門(mén)板和左側(cè)下門(mén)板一一對(duì)應(yīng)地鉸接在所述箱體支架的左側(cè)的上、下部;
所述右側(cè)門(mén)板鉸接在所述箱體支架的右側(cè);
所述頂蓋固定在所述箱體支架的頂端;
所述前門(mén)板安裝在所述箱體支架的前表面的下部;
所述擋簾護(hù)罩安裝在所述箱體支架的前表面的上部,且所述擋簾護(hù)罩的底部與所述輸送線的上端面相連。
2.如權(quán)利要求1所述的一種用于異物檢測(cè)的組合機(jī)架,其特征在于,所述箱體支架的底部安裝有四個(gè)調(diào)節(jié)撐角和四個(gè)萬(wàn)向輪。
3.如權(quán)利要求1所述的一種用于異物檢測(cè)的組合機(jī)架,其特征在于,所述左側(cè)上門(mén)板、左側(cè)下門(mén)板、右側(cè)門(mén)板和前門(mén)板上分別安裝一門(mén)鎖。
4.如權(quán)利要求1所述的一種用于異物檢測(cè)的組合機(jī)架,其特征在于,所述頂蓋上安裝兩個(gè)風(fēng)扇。
5.如權(quán)利要求1所述的一種用于異物檢測(cè)的組合機(jī)架,其特征在于,所述左側(cè)上門(mén)板上安裝顯示器和鍵盤(pán),所述顯示器位于所述鍵盤(pán)的上方。
6.如權(quán)利要求1所述的一種用于異物檢測(cè)的組合機(jī)架,其特征在于,所述左側(cè)上門(mén)板和左側(cè)下門(mén)板一一對(duì)應(yīng)地通過(guò)不銹鋼鉸鏈鉸接在所述箱體支架的左側(cè)的上、下部;
所述右側(cè)門(mén)板通過(guò)不銹鋼鉸鏈鉸接在所述箱體支架的右側(cè)。
7.如權(quán)利要求1所述的一種用于異物檢測(cè)的組合機(jī)架,其特征在于,所述頂蓋通過(guò)螺絲固定在所述箱體支架的頂端。
8.如權(quán)利要求1所述的一種用于異物檢測(cè)的組合機(jī)架,其特征在于,所述輸送線的下端面通過(guò)螺絲安裝在所述隔板的上表面。
9.如權(quán)利要求1所述的一種用于異物檢測(cè)的組合機(jī)架,其特征在于,
所述箱體支架的前表面的上部開(kāi)設(shè)一擋簾護(hù)罩安裝口,所述擋簾護(hù)罩通過(guò)螺絲安裝在所述擋簾護(hù)罩安裝口,且所述擋簾護(hù)罩的底部通過(guò)螺絲與所述輸送線的上端面相連;
所述箱體支架的前表面的下部開(kāi)設(shè)一前門(mén)板安裝口,所述前門(mén)板通過(guò)彈簧插銷(xiāo)安裝在所述前門(mén)板安裝口上。
10.如權(quán)利要求1所述的一種用于異物檢測(cè)的組合機(jī)架,其特征在于,所述右側(cè)門(mén)板上開(kāi)設(shè)有若干散熱孔。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
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