[實用新型]下探針式接觸測試裝置有效
| 申請號： | 201420344407.1 | 申請日： | 2014-06-23 |
| 公開（公告）號： | CN203981725U | 公開（公告）日： | 2014-12-03 |
| 發明（設計）人： | 劉衛華 | 申請（專利權）人： | 北京盈和工控技術有限公司 |
| 主分類號： | G01R1/067 | 分類號： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 無 | 代理人： | 無 |
| 地址： | 100037 北京市海*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 探針 接觸 測試 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種下探針式接觸測試裝置，其特征在于，由基座、XY調整臺、氣缸、治具架臺、治具與下探針構成，所述下探針安裝在所述治具的底部，所述治具通過所述治具架臺安裝在所述氣缸上，所述氣缸安裝在所述基座上，所述基座安裝在所述XY調整臺上。
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