[實用新型]一種太陽能電池溫度調節裝置有效
| 申請號: | 201420306042.3 | 申請日: | 2014-06-10 |
| 公開(公告)號: | CN203932020U | 公開(公告)日: | 2014-11-05 |
| 發明(設計)人: | 韓帥君;勾憲芳 | 申請(專利權)人: | 中節能太陽能科技(鎮江)有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66;H01L31/18 |
| 代理公司: | 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 徐瑩 |
| 地址: | 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 太陽能電池 溫度 調節 裝置 | ||
技術領域
本實用新型涉及太陽能電池制造技術領域,具體涉及一種太陽能電池測試機構。
背景技術
現代社會隨著能源問題的逐漸突出,太陽能作為一種可再生能源在現代能源結構中扮演著越來越重要的角色。而晶體硅太陽能電池在整個太陽能行業中,不論是從轉換效率還是產量方面均占據著絕對的優勢。
作為晶體硅電池制作中的一個重要環節,測試工序是對已經制造完成的太陽能電池片進行測試的過程。通過太陽光的模擬,測試生產出的太陽能電池片的質量以及具體的各項電性能參數。在標準的晶體硅太陽能電池的測試過程中,最重要的三項因素分別是光譜、光強和溫度。溫度作為一項重要參數,對太陽能電池測試準確度有著重要影響。
在太陽能電池測試中,對晶體硅太陽能電池而言,標準測試溫度為25攝氏度,但是實際上硅片從燒結爐出爐的溫度一般在30度以上,在燒結爐口至測試臺之間運動時溫度會進一步下降,但是部分測試機臺行走距離有限,在運動到測試臺時溫度仍然超過測試溫度上限,此時測試的參數是不準確的。另外,部分時間由于外圍溫濕度不受控制,當整體環境溫度過低時,電池片溫度會超過測試溫度要求的下限,此時測試結果同樣不準確。而測試結果有誤直接導致出售的電池片存在功率誤差,降低產品質量。因此,在現有的測試機基礎上,增加溫度調節裝置顯得很有必要。
實用新型內容
實用新型目的:本實用新型的目的在于針對現有技術的不足,提供一種在電測試前防止電池片溫度過高過低、降低測試誤差的太陽能電池溫度調節裝置。
技術方案:本實用新型所述的一種太陽能電池溫度調節裝置,包括溫度測試探頭、降溫風扇、加熱臺、電性能測試臺、連接燒結爐和加熱臺的第一行走臂、連接加熱臺和電性能測試臺的第二行走臂和與溫度測試探頭相連的顯示屏,所述降溫風扇設置在所述第一行走臂的上方,兩個所述溫度測試探頭分別設置在第一行走臂的始端及末端;通過溫度測試探頭測得燒結后電池片的溫度并通過顯示屏顯示出來,若燒結后的電池片溫度較高,在第一行走臂上通過降溫風扇進行降溫,再次通過溫度測試探頭測得電池片的溫度,若溫度過低在加熱臺上對電池片進行加熱,使電池片測試溫度達到要求的測試溫度,然后通過傳第二行走臂將電池片傳遞到電性能測試臺對電池片進行測試。
進一步,所述加熱臺上設有可升降的頂針,可使電池片在頂針上自由升降以更好的接觸加熱臺進行加熱,以達到所需要的溫度。
進一步,所述第一行走臂和第二行走臂為皮帶傳送裝置,皮帶傳輸平穩、震動小,可有效降低傳送過程中的電池片碎片情況,避免測試過程中對已制造完成的電池片的破壞,保證電池片質量不受影響。
有益效果:本實用新型可達到使燒結后的電池片降溫的目的,同時,在室內溫度不受控制情況下,可以通過加熱裝置使電池片的溫度達到電性能測試要求的溫度范圍內,保證了電池片測試前溫度的穩定性,完全杜絕溫度不達標導致的測試數據不準確問題。
附圖說明
圖1為本實用新型的結構示意圖。
具體實施方式
下面對本實用新型技術方案進行詳細說明,但是本實用新型的保護范圍不局限于所述實施例。
實施例:一種太陽能電池溫度調節裝置,如圖1所示,包括溫度測試探頭1;4、降溫風扇2、加熱臺6、電性能測試臺8、第一行走臂3、第二行走臂7和PC機9,用于傳遞電池片的第一行走臂3和第二行走臂7分別對應連接燒結爐和加熱臺6、加熱臺6和電性能測試臺8,降溫風扇2設置在第一行走臂3的上方,兩個溫度測試探頭1;4分別設置在第一行走臂3的始端及末端,加熱臺6上設有可升降的頂針5,可使電池片在頂針5上升降以更好的進行加熱,顯示屏9與溫度測試探頭1;4相連以顯示測得的溫度。
電池片從燒結爐出爐至第一行走臂3上,通過始端的溫度測試探頭1測得燒結后電池片的溫度,若溫度過低則可以打開冷卻風扇2使電池片溫度迅速降低到室溫狀態,末端的另一溫度測試探頭4測得冷卻后的電池片溫度,而后打開加熱臺6經加熱臺6進行加熱,在溫濕度不受控制的情況下仍然保證電池片的測試溫度在要求范圍內,最后電池片經第二行走臂7傳遞到電性能測試臺8進行測試,保證了溫度的穩定性。
如上所述,盡管參照特定的優選實施例已經表示和表述了本實用新型,但其不得解釋為對本實用新型自身的限制。在不脫離所附權利要求定義的本實用新型的精神和范圍前提下,可對其在形式上和細節上作出各種變化。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





