[實用新型]一種用于太赫茲時域光譜測量裝置中的插片式夾具

有效

• 申請號: 201420296828.1
• 申請日: 2014-06-05
• 公開（公告）號: CN203870009U
• 公開（公告）日: 2014-10-08
• 發明（設計）人: 廖曉玲;王強;馮精良
• 申請（專利權）人: 中國計量學院
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01;G01J3/02
• 代理公司: 杭州求是專利事務所有限公司 33200
• 代理人: 杜軍

技術領域

本實用新型專利涉及一種夾具，特別是涉及一種用于太赫茲時域光譜測量裝置中的插片式夾具。?

技術背景

太赫茲時域光譜技術是采用飛秒激光器激發砷化鎵晶體輻射出的太赫茲波對物質等進行探測的一種新技術。在太赫茲時域光譜系統中，樣品的太赫茲時域波形是利用延遲裝置改變不同時刻穿過樣品的太赫茲脈沖電場強度的泵浦光和探測光的光程差來測量的。實驗過程中的主要誤差來源是泵浦光、樣品折射反射和人為因素。泵浦光受環境溫度和濕度的影響會產生較大的幅值和相位改變，樣品的折射和反射對樣品面與太赫茲波的準直度十分敏感，換樣品的時間長短及放置樣品的準確度等與測量精度密切相關，這些因素對測量數據的重復性和透過樣品的太赫茲波的強度等有較大影響，多種因素相互作用導致較大測量誤差的產生。?

現有的太赫茲時域光譜測量裝置中，常用于直徑為1cm的藥片的測量，測量裝置也是針對圓形設計。這種裝置每次只能裝入一片藥片，對一個點進行檢測，實驗效率低，精度難以保證，且裝入取出樣品時易導致氮氣箱內環境溫度和濕度發生變化。這些變化對實驗結果都有一定的影響，嚴重時實驗數據低于可信值，導致實驗失敗。且隨著太赫茲波無損檢測技術的發展，目前的實驗對象已不再局限于特定圓形的藥片，還有方形甚至不規則形狀的板狀材料。為了其有效信息不至于被嚴重影響，在測試過程中就必須保證樣品相對于太赫茲光線的垂直精度和箱內環境的基本不變，顯然以往的測量方式和裝置已不能再適應新的對象。?

為了解決上述問題，擴大太赫茲時域光譜檢測裝置的應用范圍，提高樣品相對于太赫茲光線的垂直精度和實驗效率，保證箱內環境的基本一致，本實用新型專利提出一種用于夾持太赫茲時域光譜檢測裝置中板狀樣品的夾具。該夾具可以準確夾持樣品，保證樣品與實驗平臺的垂直精度，實驗過程中可手動上下移動樣品，實現對不同點的測試以獲取更多的實驗數據?；诖丝梢栽谕粯悠飞现谱鲗Ρ葏^域，通過上下抽動夾具完成對比實驗。該夾具不僅為太赫茲時域光譜檢測裝置提供了更廣的檢測對象范圍，且現實了裝夾一次樣品完成多個實驗，降低了因反復裝夾樣品引起的誤差和占用的時間，提高了樣品測試的效率。?

目前雖然也有類似樣品架裝置，但目前的裝置難以保證樣品相對于太赫茲光線的垂直精度，而且在放入樣品后不能調節樣品架更改樣品的測試點。隨著實驗次數的增加以及放入樣品數目增多，使用現有裝置很容易造成樣品測試步驟的遺漏和混淆，難以保證樣品測試的可靠性。?

發明內容

鑒于現有技術的不足，本實用新型提供一種用于太赫茲時域光譜測量裝置中的插片式夾具，?

一種用于太赫茲時域光譜測量裝置中的插片式夾具，包括第一主體和多個第二主體，

所述的第一主體為長方體結構，第一主體的面積最大側面的幾何中心開有一個第一長方形通孔，第一主體沿第一長方體通孔四周刻有刻度，第一主體的上底面開有一個與第一長方體通孔相通的第一長方體盲孔，

所述的每個第二主體為長方體結構，第二主體的最大側面的邊長與第一主體的最大側面的邊長比例一致；第二主體的面積最大側面的幾何中心開有一個第二長方形通孔。

所述的第二主體厚度各不相同。?

所述第二主體的第二長方形通孔的長度各不相同。?

本實用新型的有益效果：本實用新型能夠夾持形狀規則或不規則的板狀待測物，具有操作簡單、夾持穩固、靈活調節的優點。?

附圖說明：

圖1為本實用新型實施例夾具的結構示意圖；

圖2為本實用新型第二主體的結構示意圖

具體實施方式：

以下通過具體的實例說明本實用新型專利的使用方式。

如圖1所示，一種用于太赫茲時域光譜測量裝置中的插片式夾具，包括第一主體1和多個第二主體2，?

所述的第一主體為長方體結構，第一主體的面積最大側面的幾何中心開有一個第一長方形通孔3，第一主體沿第一長方體通孔四周刻有刻度4，第一主體的上底面開有一個與第一長方體通孔3相通的第一長方體盲孔6，

如圖2所示，所述的每個第二主體2的為長方體結構，第二主體的最大側面的邊長與第一主體的最大側面的邊長比例一致；第二主體的面積最大側面的幾何中心開有一個第二長方形通孔5。

所述的第二主體2厚度d各不相同。?

所述第二主體的第二長方形通孔的長度D各不相同。?