[實用新型]高能譜線共振分析儀有效
| 申請號: | 201420294484.0 | 申請日: | 2014-06-05 |
| 公開(公告)號: | CN204202749U | 公開(公告)日: | 2015-03-11 |
| 發明(設計)人: | 儲冬紅;彭飛 | 申請(專利權)人: | 衢州普林千葉電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G01J3/447 | 分類號: | G01J3/447;G01J3/12 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 324000 浙江省衢州市*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 高能 共振 分析 | ||
1.高能譜線共振分析儀,其特征在于,主要包括:寬波譜光束產生裝置(1),波譜頻段調控裝置(2),波譜偏振諧波裝置(3),樣品導入裝置(4),樣品高能解離裝置(5),光譜偏振濾光裝置(6),光束譜線共振檢測裝置(7),光束波段信號分析裝置(8),信號顯示與記錄裝置(9);其中,通過寬波譜光束產生裝置(1)進行光束波譜范圍的調節以及光束強度的合理控制,為原子譜線調光分析提供合適波段范圍的光束,結合波譜頻段調控裝置(2)實現光束波譜頻段的調節,對不同波段范圍的多重光譜予以疊加和二次分離,采用波譜偏振諧波裝置(3)進行光束的波譜偏振處理以及光譜波段的諧波分離與篩選,防止波段基線漂移以及多重光束疊加引起的譜線重疊,避免對后續光譜分析造成不利影響;借助于樣品導入裝置(4)用于分析樣品的導入以及樣品的初步預處理實現,實現干擾元素的初步分離,消除基體干擾;通過樣品高能解離裝置(5)實現分析樣品的分子斷裂以及高溫熱裂解處理,實現原子譜線調光分析的多頻段光譜生成,便于提高分析靈敏度和光束譜帶范圍;結合光譜偏振濾光裝置(6)進行光譜的頻段偏振處理以及色譜波段的篩選與隔離分析,便于譜線分析線與測試線的區分,借助于光束譜線共振檢測裝置(7)實現衍射波譜的共振濾波以及波譜振蕩范圍的調光分析與控制,有利于實現干擾譜線的消除;采用光束波段信號分析裝置(8)用于光束波段的譜線分析和樣品解離的光譜衍射波段隔離校正,有利于減少波長差,降低波譜不規則散射干擾;最后,通過信號顯示與記錄裝置(9)實現原子譜線調光分析的信號顯示與記錄;其中,寬波譜光束產生裝置(1)含有高溫離子光束發射電極,該電極材料為六硅氧化鐠錒合金,波譜頻段調控裝置(2)含有十五棱椎型濾光透鏡,該透鏡表面覆蓋有厚度為9.67um的八苯胺膦葵三溴釓鎶納米復合濾光膜;波譜偏振諧波裝置(3)含有九孔衍射透光板,雙凹透鏡,偏振反射透鏡,其中,九孔衍射透光板含有九個直徑為0.89um的衍射圓孔,這九個圓孔的排列方式為正九邊形;雙凹透鏡表面鍍有兩層厚度均為0.78um的六嘧啶九啶酮三苯酯氯化锘釔納米復合透光膜。?
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