[實用新型]一種三相可控硅開關自檢電路

有效

• 申請號: 201420283826.9
• 申請日: 2014-05-28
• 公開（公告）號: CN203840307U
• 公開（公告）日: 2014-09-17
• 發明（設計）人: 祝慶軍;路忠良;常義冬
• 申請（專利權）人: 大連美恒時代科技有限公司
• 主分類號: H03K17/72
• 分類號: H03K17/72
• 代理公司: 大連東方專利代理有限責任公司 21212
• 代理人: 范爍;李洪福

技術領域

本實用新型涉及一種應用于交流電開關控制的三相可控硅開關電路，具體為一種三相可控硅開關自檢電路。

背景技術

現有技術中一般采用交流接觸器來實現三相交流電路的開關控制，但由于交流接觸器內部有動觸頭，長時間的開關動作容易導致接觸器工作時發出比較大的噪音和出現接觸不良，因此實際應用中需經常更換和維護三相電流電路中的交流接觸器，使用不便。

可控硅由于具有結構簡單、控制方便、價格不高等優點而被廣泛應用于各種電子設備和電子產品中，實際應用時只需在可控硅正負極加一定的導通電壓，并在控制極施加觸發信號，兩極間就會導通，且導通壓降非常小，使用可靠方便，其中三相可控硅開關電路便是可控硅的一種常見應用，具體為將可控硅串接在三相交流電的每一相中，通過控制可控硅的導通與關斷，進而實現三相交流電的開關控制，但當可控硅自身損壞時，容易造成開關失靈或者無故導通，進而造成三相交流電的開關控制出現錯誤，從而造成設備的損壞。

發明內容

本實用新型針對以上問題的提出，而研制一種具有可控硅損壞檢測功能的三相可控硅開關自檢電路。

本實用新型的技術方案是：

一種三相可控硅開關自檢電路，應用于三相可控硅開關電路中，所述可控硅采用雙向可控硅，包括：

與雙向可控硅的第一陽極和第二陽極相連接，用于檢測所述雙向可控硅兩端電壓的電壓取樣電路；

連接電壓取樣電路，用于對所述電壓取樣電路檢測到的雙向可控硅兩端電壓與預設電壓進行比較，并輸出比較結果的比較電路；

通過光電隔離電路連接所述比較電路，用于對所述比較結果進行濾波處理的濾波電路；

連接濾波電路，用于對濾波處理后的比較結果進行邏輯運算的邏輯運算電路；

進一步地，電壓取樣電路包括并聯接在雙向可控硅的第一陽極和第二陽極之間的分壓支路Ⅰ，該分壓支路Ⅰ由電阻R13、電阻R14和電容C68相互串聯構成；所述電壓取樣電路還包括共陰極連接的穩壓二極管D5、D7；所述電容C68一端連接所述穩壓二極管D5陽極，另一端連接所述穩壓二極管D7陽極；

進一步地，所述比較電路包括比較器芯片U5；所述比較器芯片U5的同相輸入端與所述電壓取樣電路相連接，用于接收電壓取樣電路輸出的雙向可控硅兩端電壓信號；所述比較器芯片U5的反相輸入端用于接收預設電壓信號；所述比較器芯片U5的輸出端連接所述光電隔離電路；

進一步地，所述濾波電路包括由電阻R10、電阻R12和電阻R15依次串聯構成的分壓支路Ⅱ、二極管D6、電容C10、非門U9和觸發器U10；所述電阻R10一端連接電源VCC，另一端連接光電隔離電路；所述二極管D6與所述電阻R15相并聯；所述電容C10并聯接在所述分壓支路Ⅱ兩端；所述非門的輸入端與所述二極管D6陽極相連接；所述非門的輸出端與所述觸發器U10的引腳A相連接；

進一步地，所述邏輯運算電路包括或非門U7和與門U11；所述與門U11的一輸入端與所述非門U9的輸入端相連接，所述與門U11的另一輸入端與所述觸發器U10的引腳相連接；所述或非門U7的一輸入端與所述非門U9的輸出端相連接，所述或非門U7的另一輸入端與所述觸發器U10的引腳Q相連接；

進一步地，所述電壓取樣電路、比較電路、光電隔離電路、濾波電路和邏輯運算電路共同構成電壓檢測電路；所述電壓檢測電路有3個，分別對應連接三相可控硅開關電路中的一雙向可控硅；

進一步地，所述自檢電路還包括與所述電壓檢測電路相連接，用于根據電壓檢測電路的輸出結果控制雙向可控硅觸發狀態的邏輯控制電路；

進一步地，所述自檢電路還包括與邏輯控制電路相連接的過零觸發電路；

進一步地，所述過零觸發電路包括兩個電路結構相同的過零觸發支路；其中一過零觸發支路包括電阻R2、二極管D4、電容C2、光電耦合器U2、電阻R4、電阻R6和二極管D2；所述光電耦合器U2的發光二極管陽極通過電阻R2連接電源VCC；所述二極管D4與所述電容C2相互并聯接在所述光電耦合器U2的發光二極管陽極和陰極之間；所述電阻R4并聯接在所述光電耦合器U2的第4引腳和第6引腳之間；所述光電耦合器U2的第6引腳連接電阻R6一端和雙向可控硅的控制極，所述電阻R6另一端連接雙向可控硅的第一陽極；所述二極管D2并聯接在所述電阻R6兩端；

進一步地，所述過零觸發電路有3個，分別對應連接三相可控硅開關電路中的一雙向可控硅。