[實用新型]一種新型恒溫抗干擾GaAs光電壓譜測試系統

有效

• 申請號: 201420275451.1
• 申請日: 2014-05-23
• 公開（公告）號: CN203929696U
• 公開（公告）日: 2014-11-05
• 發明（設計）人: 沈洋;陳亮;董艷燕;周占春;徐珍寶;蘇玲愛;金尚忠;沈為民;張淑琴;楊潤光;楊凱;石巖
• 申請（專利權）人: 中國計量學院
• 主分類號: G01N27/00
• 分類號: G01N27/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種新型恒溫抗干擾GaAs光電壓譜測試系統，整體結構的特征在于：由計算機(1)、程控電源(2)，鹵鎢燈(3)、光柵單色儀(4)、斬波器(5)、恒溫光電壓池系統(6)以及鎖相放大器(7)組成；光源發出的白光經過光柵單色儀進行單色光掃描，斬波器對單色光進行調制，然后經過光學系統匯聚后經由光纖引入到光電壓池內，樣品產生的表面光電壓信號經過ITO導電玻璃傳給鎖相放大器進行信號放大，底層ITO導電玻璃接地，最后由計算機進行譜圖采集和計算。

2.根據權利要求1所述的一種新型恒溫抗干擾GaAs光電壓譜測試系統，其特征在于：所述的恒溫光電壓池內部采用抽真空結構。

3.根據權利要求1所述的一種新型恒溫抗干擾GaAs光電壓譜測試系統，其特征在于：所述的恒溫光電壓池用高磁導率鐵氧體吸波材料作外殼。

4.根據權利要求1所述的一種新型恒溫抗干擾GaAs光電壓譜測試系統，其特征在于：所述的恒溫光電壓池用橡膠材料做密封蓋。

5.根據權利要求1所述的一種新型恒溫抗干擾GaAs光電壓譜測試系統，其特征在于：所述的底層ITO導電玻璃采用搭接地方式。