[實(shí)用新型]LVDS信號(hào)開短路檢測(cè)裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201420249057.0
• 申請(qǐng)日: 2014-05-15
• 公開（公告）號(hào): CN203929953U
• 公開（公告）日: 2014-11-05
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 彭騫;葉夏偉;趙勇;沈亞非;陳凱;鄧標(biāo)華
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 武漢精測(cè)電子技術(shù)股份有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/02
• 分類號(hào): G01R31/02
• 代理公司: 武漢開元知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 42104
• 代理人: 黃行軍;李滿

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及LVDS信號(hào)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，具體地指一種LVDS信號(hào)開短路檢測(cè)裝置。

背景技術(shù)

LVDS(Low-Voltage Differential Signaling，低壓差分信號(hào))是一種低壓擺幅的差分信號(hào)傳輸技術(shù)，其能實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的高速率、低噪聲、遠(yuǎn)距離、高準(zhǔn)確度的傳輸。目前市場(chǎng)上絕大部分電視機(jī)、顯示器產(chǎn)品所使用的液晶模組都是采用LVDS接口。

液晶模組在出廠前都要經(jīng)過(guò)圖形顯示檢測(cè)以排除顯示缺陷(即液晶顯示器成像是一個(gè)一個(gè)行列排布的像素點(diǎn)，可能存在點(diǎn)、線不發(fā)光的缺陷)，而在檢測(cè)前需要確認(rèn)圖形信號(hào)發(fā)生器和液晶模組之間的LVDS物理接口是否正確連接，以避免由于LVDS物理接口的接觸不良而作出的誤判。目前對(duì)LVDS信道物理連接的檢測(cè)一般是由圖形信號(hào)發(fā)生器內(nèi)的FPGA(Field－Programmable Gate Array，現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列)直接發(fā)送偽碼給LVDS差分對(duì)的P端(+)，然后在N端(－)接收，采用繼電器對(duì)圖形顯示檢測(cè)和開短路檢測(cè)進(jìn)行切換控制，這種檢測(cè)方案具有如下缺點(diǎn)：1)只能判斷開路，不能判斷短路；2)不能同時(shí)進(jìn)行圖形顯示檢測(cè)和開短路檢測(cè)；3)由于繼電器占用較大的面積，不利于PCB布局。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型的目的就是要提供一種LVDS信號(hào)開短路檢測(cè)裝置，該檢測(cè)裝置能同時(shí)進(jìn)行圖形顯示測(cè)試、LVDS總線短路測(cè)試和LVDS總線斷路測(cè)試，并且減小了檢測(cè)裝置的體積。

為實(shí)現(xiàn)此目的，本實(shí)用新型所設(shè)計(jì)的LVDS信號(hào)開短路檢測(cè)裝置，它包括LVDS驅(qū)動(dòng)模塊、電壓防反灌模塊和液晶模組，其特征在于：它還包括圖形信號(hào)發(fā)生器、IIC(Inter-Integrated Circuit，集成電路總線)驅(qū)動(dòng)模塊、模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊和與圖形信號(hào)發(fā)生器連接的顯示器，其中，圖形信號(hào)發(fā)生器的LVDS信號(hào)輸出端通過(guò)LVDS總線連接LVDS驅(qū)動(dòng)模塊的信號(hào)輸入端，LVDS驅(qū)動(dòng)模塊的信號(hào)輸出端通過(guò)LVDS總線連接電壓防反灌模塊的信號(hào)輸入端，電壓防反灌模塊的信號(hào)輸出端通過(guò)LVDS總線連接液晶模組的信號(hào)輸入端，模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊的采樣信號(hào)輸入端通過(guò)采樣用LVDS總線接入與電壓防反灌模塊信號(hào)輸入端連接的LVDS總線，圖形信號(hào)發(fā)生器的IIC信號(hào)通信端通過(guò)IIC總線連接IIC驅(qū)動(dòng)模塊的一個(gè)通信端，IIC驅(qū)動(dòng)模塊的另一個(gè)通信端通過(guò)IIC總線連接模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊的采樣控制端。

上述技術(shù)方案中，它還包括電源、上拉電阻和下拉電阻，其中，與LVDS驅(qū)動(dòng)模塊信號(hào)輸出端連接的LVDS總線的正極端通過(guò)上拉電阻連接電源，與LVDS驅(qū)動(dòng)模塊信號(hào)輸出端連接的LVDS總線的負(fù)極端通過(guò)下拉電阻接地。

上述技術(shù)方案中，它還包括限流電阻，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊的采樣信號(hào)輸入端與采樣用LVDS總線之間通過(guò)限流電阻連接。

上述技術(shù)方案中，它還包括貼片高密插座，所述圖形信號(hào)發(fā)生器和LVDS驅(qū)動(dòng)模塊之間的LVDS總線分為第一LVDS總線分段和第二LVDS總線分段，所述第一LVDS總線分段和第二LVDS總線分段通過(guò)貼片高密插座連通；圖形信號(hào)發(fā)生器和IIC驅(qū)動(dòng)模塊之間的IIC總線分為第一IIC總線分段和第二IIC總線分段，所述第一IIC總線分段和第二IIC總線分段也通過(guò)貼片高密插座連通。

上述技術(shù)方案中，它還包括牛角連接器，所述LVDS驅(qū)動(dòng)模塊和電壓防反灌模塊之間的LVDS總線分為第三LVDS總線分段和第四LVDS總線分段，所述第三LVDS總線分段和第四LVDS總線分段通過(guò)牛角連接器連通；IIC驅(qū)動(dòng)模塊與模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊之間的IIC總線分為第三IIC總線分段和第四IIC總線分段，所述第三IIC總線分段和第四IIC總線分段通過(guò)牛角連接器連接。

上述技術(shù)方案中，所述LVDS驅(qū)動(dòng)模塊和液晶模組之間的電壓防反灌模塊用于防止液晶模組的電壓信號(hào)反灌入LVDS驅(qū)動(dòng)模塊。

本實(shí)用新型的有益效果：

1)本實(shí)用新型直接采集與液晶模組信號(hào)輸入端連接的LVDS總線的六個(gè)支路線的差分電壓值，并與對(duì)應(yīng)的短路電壓閾值和斷路電壓閾值進(jìn)行對(duì)比判斷，另外本實(shí)用新型還通過(guò)技術(shù)人員觀察液晶模組的圖像顯示畫面來(lái)進(jìn)行圖形顯示測(cè)試，實(shí)現(xiàn)了圖形顯示測(cè)試、LVDS總線短路測(cè)試和LVDS總線斷路測(cè)試的同步進(jìn)行。

2)本實(shí)用新型利用IIC總線實(shí)現(xiàn)對(duì)模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊控制命令的下發(fā)和數(shù)據(jù)的傳輸，相較傳統(tǒng)采用大量的繼電器實(shí)現(xiàn)功能切換的方案，裝置體積更小、生產(chǎn)成本更低。直接測(cè)試LVDS總線的差分電壓，比FPGA對(duì)LVDS發(fā)送偽指令判斷節(jié)省時(shí)間。

3)本實(shí)用新型通過(guò)設(shè)置電壓防反灌模塊，有效的提升了檢測(cè)裝置的可靠性和穩(wěn)定性。

附圖說(shuō)明