[實用新型]一種線性光耦線性度自動測試裝置有效
| 申請號: | 201420246912.2 | 申請日: | 2014-05-14 |
| 公開(公告)號: | CN203881868U | 公開(公告)日: | 2014-10-15 |
| 發明(設計)人: | 王允 | 申請(專利權)人: | 王允 |
| 主分類號: | G01R31/00 | 分類號: | G01R31/00 |
| 代理公司: | 鄭州睿信知識產權代理有限公司 41119 | 代理人: | 胡泳棋 |
| 地址: | 450000 河南*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 線性 自動 測試 裝置 | ||
技術領域
本實用新型涉及一種線性光耦線性度自動測試裝置。
背景技術
線性光耦在模擬信號隔離傳輸上被廣泛使用,如信號隔離器、信號調理器、隔離變送器、隔離式模擬量采集模塊、隔離式安全柵等設備中均廣泛使用線性光耦,由于線性光耦的線性度可達到0.01%,因此線性光耦可用在高精度信號隔離傳輸設備上,如0.05%精度高速高精度模擬信號隔離器上,然由于線性光耦做為半導體器件,其線性度參數存在分散性,并非所有的線性光耦的線性度均能達到0.01%,事實上,大多線性光耦的線性度分布在0.01%至0.05%的水平,對于線性度誤差為0.03%以上的線性光耦,當其與運放、阻容等外部電路匹配使用時,整個電路的線性度誤差就可能超過0.05%,如果不提前對線性光耦的線性度進行測試,在高精度模擬信號隔離器批量生產中,會使得產品初次調試合格率不高,額外增加了調試時間,若可以通過對線性光耦線性度進行測試,將線性誤差高于0.03%的線性光耦在使用前剔除出來,就可以極大提高高精度模擬信號隔離設備產品初次調試合格率。
現有對線性光耦線性度測試則是將線性光耦以焊接方式固定在線性光耦固定部件上,再配合使用高精度信號源、高精度標準表,人工選擇高精度信號源輸出不同的基準信號,讀取高精度標準表在不同基準點上的測量數據,依此計算線性光耦的線性度。現有線性度測試存在如下問題:人工對線性光耦線性度測試,需要測試和記錄的數據量較大,造成測試效率低下,而且容易出錯,無法適應高精度模擬信號隔離設備批量生產中對較大數量線性光耦線性度進行測試的要求,嚴重制約著產品的初次調試合格率和生產效率。因此,有必要研制一種對線性光耦線性度進行自動測試的裝置,以便快速、準確、高效的將線性度誤差高于0.03%的線性光耦在使用之前剔除出來,提高高精度模擬信號隔離設備產品初次調試合格率,提高生產效率。
實用新型內容
本實用新型的目的是提供一種線性光耦線性度自動測試裝置,用以解決現有測試方式自動化程度低、操作復雜、效率低的問題。
為實現上述目的,本實用新型的方案包括:
一種線性光耦線性度自動測試裝置,包括測試電路,測試電路主要由信號源電路(21)、信號輸入電路(22)、信號輸出電路(23)、模數轉換模塊(24)和微處理器(25)構成,信號源電路(21)的輸出端連接信號輸入電路(22)的輸入,信號輸入電路(22)的輸出用于連接待測試的線性光耦的輸入端,信號輸出電路(23)的輸入用于連接待測試的線性光耦的輸出端;信號輸出電路(23)的輸出、信號源電路(21)的輸出均通過模數轉換模塊(24)連接微處理器(25)。
所述信號源電路輸出至少三路電壓基準,所述微處理器控制連接所述信號源電路,用于選擇信號源電路的輸出電壓基準。
所述測試電路設置在測試電路板(2)上。
還包括一個線性光耦固定部件(1),所述線性光耦固定部件(1)上設有用于連接待測試的線性光耦各引腳的電連接端子(111),電連接端子(111)與所述測試電路板(2)上的信號輸入電路(22)、信號輸出電路(23)分別對應連接。
所述線性光耦固定部件(1)包括基座(11)和壓板(12);所述電連接端子(111)設于基座(11)上,電連接端子(111)為彈性簧片,所述壓板(12)壓住待測試的線性光耦,以使待測試的線性光耦的引腳與彈性簧片形成穩定接觸。
所述彈性簧片包括簧片,簧片一端固定在基座(11)上,另一端與基座(11)之間設有彈簧,該設置彈簧的一端設有用于容納待測試的線性光耦的引腳的凹槽(112)。
其特征在于,所述基座(11)上還設有用于限位待測試線性光耦的凸起部(L1、L2)。
所述壓板(12)為一個轉盤,該轉盤的旋轉軸與基座(11)所在平面垂直、固定在基座(11)上。
所述轉盤上設有一個導向坡面,所述導向坡面為轉盤上的一個折起結構。
本實用新型的線性光耦測試裝置,采用微處理器,一方面采集信號源的輸出信號,另一方面采集信號源經過線性光耦處理后的信號,將這兩種信號進行比較,以判斷線性光耦的性能,提高了測試的自動化程度,提高了效率。
信號源設置多種電壓基準,在微處理器的控制下對任一個線性光耦進行多種電壓基準的測試,能夠完整的體現線性光耦性能。
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