[實用新型]一種三維測量系統有效

申請號：	201420243248.6	申請日：	2014-05-08
公開（公告）號：	CN203824531U	公開（公告）日：	2014-09-10
發明（設計）人：	秦品樂;王運龍;孟賢玉	申請（專利權）人：	青島三友智控科技有限公司
主分類號：	G01B11/25	分類號：	G01B11/25
代理公司：	暫無信息	代理人：	暫無信息
地址：	266555 山東省青島***	國省代碼：	山東;37
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種三維測量系統
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【權利要求書】：

1.一種三維測量系統，其特征在于，包括：

雙目相機：其功能為采用二維標定靶對其進行標定，得到相機之間的空間外參數及兩個相機各自的內參數，從而為三維重構提供必要的參數；

光柵干涉投影裝置：用以將光影投射到光柵上產生干涉條紋后投射于被測物；

所述光柵干涉投影裝置包括激光器、第一分光鏡、第二分光鏡、光柵、兩個透鏡組成的透鏡組、第一棱鏡、第二棱鏡、第一反射鏡及第二反射鏡；激光器通過分光鏡被分為兩路，經過光柵后分別經過兩個透鏡投射于第一棱鏡、第二棱鏡后相干涉形成干涉條紋，然后投射到第一反射鏡后，經過反射后再投射到第二反射鏡，再次反射后投射到被測的部件上。

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