[實用新型]雙色激光磨礦粒度在線分析儀

有效

• 申請號: 201420242979.9
• 申請日: 2014-05-13
• 公開（公告）號: CN203811510U
• 公開（公告）日: 2014-09-03
• 發明（設計）人: 郝成;楊志剛;王建民
• 申請（專利權）人: 河北聯合大學
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02
• 代理公司: 唐山永和專利商標事務所 13103
• 代理人: 張云和

技術領域

本實用新型涉及激光粒度儀，具體為一種利用激光散射原理測量磨礦粒度分布的粒度儀，既雙色激光磨礦粒度在線分析儀。

背景技術

磨礦分級作業在冶金礦山、有色礦山、部分黃金和非金屬礦山選礦廠生產中具有非常重要的地位。目前實際采用的磨礦粒度檢測的方法是手工檢測，過程繁瑣，勞動條件差，而最主要的缺點是周期長，不能滿足自動控制的實時、在線要求。

對于一般的顆粒測試而言，主要方法有顯微鏡法、篩分法、沉降法、光子相干法、質譜法和光散射法等，各有優缺點和適用范圍，相對而言，最先進、最適合實現磨礦粒度實時在線檢測的方法是光散射法。

目前光散射法結構的粒度儀，由于有物理干擾，對應某些尺寸的顆粒的光角度太大或太小都不能很好地接受或分辨其光能信號，信噪比極低，所以需要復雜、昂貴的光學系統和光學信號數據采集系統，從而導致現有的能夠測量粒度分布的儀器十分昂貴。

實用新型內容

針對上述技術問題，本實用新型提供一種結構簡單、成本低廉的雙色激光磨礦粒度在線分析儀，具體的技術方案為：

一種雙色激光磨礦粒度在線分析儀，依次包括發射單元、光學系統、接收單元、信號處理和控制單元；

所述的發射單元包括兩個紅外半導體激光二極管，分別為平行放置的紅外半導體激光二極管和垂直放置的紅外半導體激光二極管；

所述的光學系統依次包括直角棱鏡、樣品池和傅立葉成像透鏡；平行放置的紅外半導體激光二極管發出的光線從直角棱鏡的一個直角面進入、從斜面射出，垂直放置的紅外半導體激光二極管發出的光線從直角棱鏡的斜面反射，兩個紅外半導體激光二極管發出的光線在直角棱鏡的斜面上匯合，再依次經過樣品池和傅立葉成像透鏡；

所述的接收單元為CCD圖像傳感器，接受傅立葉成像透鏡透射出的光線，并傳輸給信號處理和控制單元。

本實用新型提供的雙色激光磨礦粒度在線分析儀，由于不需要對信噪比低部分的光信號的數據采集，簡化了光學系統結構，降低了成本。

附圖說明

圖1是本實用新型的結構示意圖。

具體實施方式

結合附圖說明本實用新型的具體實施方式，如圖1所示，雙色激光磨礦粒度在線分析儀，依次包括發射單元、光學系統、接收單元、信號處理和控制單元；

所述的發射單元包括兩個紅外半導體激光二極管，分別為平行放置的紅外半導體激光二極管1和垂直放置的紅外半導體激光二極管2；

所述的光學系統依次包括直角棱鏡3、樣品池4和傅立葉成像透鏡5；平行放置的紅外半導體激光二極管1發出的光線從直角棱鏡3的一個直角面進入、從斜面射出，垂直放置的紅外半導體激光二極管2發出的光線從直角棱鏡3的斜面反射，兩個紅外半導體激光二極管發出的光線在直角棱鏡3的斜面上匯合，再依次經過樣品池4和傅立葉成像透鏡5；

所述的接收單元為CCD圖像傳感器6，接受傅立葉成像透鏡5透射出的光線，并傳輸給信號處理和控制單元7。

平行放置的紅外半導體激光二極管1發射紅外激光，波長850nm。垂直放置的紅外半導體激光二極管2發射紅外激光，波長1064nm，平行光束，光斑直徑5mm。

樣品池4為透光材料制成的樣品池，經均化、去除氣泡后，使礦漿顆粒流自由流過測量區域。入射光束射向被測顆粒，傅立葉成像透鏡5接收經過顆粒散射后的光線并成像，其圖像是圓斑和圓環，CCD圖像傳感器6感光面位于像平面，其感光點陣沿徑向分布，CCD圖像傳感器6將徑向的光強信號轉換為電壓信號發送給信號處理和控制單元7。