[實用新型]一種利用芯片保護二極管測量電路開短路的裝置

有效

• 申請號: 201420233808.X
• 申請日: 2014-05-08
• 公開（公告）號: CN204086438U
• 公開（公告）日: 2015-01-07
• 發明（設計）人: 徐歡夏
• 申請（專利權）人: 江蘇聯康電子有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02
• 代理公司: 南京經緯專利商標代理有限公司 32200
• 代理人: 許方

技術領域

本發明涉及一種利用芯片保護二極管測量電路開短路的裝置。

背景技術

自1958年美國德克薩斯儀器公司發明集成電路（IC）后，隨著硅平面技術的發展，二十世紀六十年代先后發明了雙極型和MOS型兩種重要的集成電路，它標志著由電子管和晶體管制造電子整機的時代發生了量和質的飛躍，創造了一個前所未有的具有極強滲透力和旺盛生命力的新興產業集成電路產業。

IC，即集成電路是采用半導體制作工藝，在一塊較小的單晶硅片上制作上許多晶體管及電阻器、電容器等元器件，并按照多層布線或遂道布線的方法將元器件組合成完整的電子電路。IC中發光二極管都是以串列方式存在，當串列中有其中一發光二極管損毀就會發生短路，造成高電流、高電壓聚集在IC上，造成整個串列的燒壞，因此需要對IC進行測試。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是針對現有技術中的不足提供了一種結構簡單、測試效率高利用芯片保護二極管測量電路開短路的裝置。

本發明為解決上述技術問題采用以下技術方案

????一種利用芯片保護二極管測量電路開短路的裝置，包含測量儀和待測IC，所述測試儀包含DC輸入模塊、顯示模塊、穩壓電路、微處理器和輸入輸出接口，所述待測IC包含保護二極管，所述顯示LED模塊和輸入輸出接口連接在微處理器的相應端口上，所述輸入輸出接口連接待測IC?PIN腳。

優選的，所述微處理器為單片機。

優選的，所述顯示模塊為LED。

優選的，所述單片機為AT89C52。

本發明采用以上技術方案與現有技術相比，具有以下技術效果：

1、結構簡單測試效率高；

2、可以單獨進行IC?測試；能夠測試PCBA板上與IC相連接的CONN焊接是否開短路；可以用此種方法很快捷的測試出焊接效果。不需要組裝成實機進行測試，從而提高測試效率。

附圖說明

圖1是本發明的結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖對本發明的技術方案做進一步的詳細說明：

如圖1所示，一種利用芯片保護二極管測量電路開短路的裝置，包含測量儀和待測IC，所述測試儀包含DC輸入模塊、顯示模塊、穩壓電路、微處理器和輸入輸出接口，所述待測IC包含保護二極管，所述顯示LED模塊和輸入輸出接口連接在微處理器的相應端口上，所述輸入輸出接口連接待測IC?PIN腳。所述微處理器為單片機，所述顯示模塊為LED，所述單片機為AT89C52。

測試方法為：由測試儀發送信號給IC?PIN腳，由于IC?PIN腳內部有保護二極管，二極管本身是有壓降的，從而可以測試出此PIN腳的正確壓降，而得出此PIN腳是否開路或者短路；本實用新型測試效率高，可以單獨進行IC測試，也可以測試PCBA板上與IC相連接的CONN焊接是否開、短路。有了此種測試方法，PCBA在貼片上件之后，就可以用此種方法很快捷的測試出焊接效果。而不需要組裝成實機進行測試，從而提高測試效率。

?信號測試傳遞過程原理：

?A.IC開路測試：1.將IC?的VDD設置為0V；

???????????????2.測試儀的MCU發送高電平數據至待測IC的PIN腳；?

???????????????3.MCU讀IC?PIN腳的信號，如電平沒有發生變化則?

???????????????開路,電平低于發出去的數據則正常。

?B.IC短路測試：1.將IC?的VDD設置為0V；

???????????????2.測試儀的MCU發送高電平數據至待測IC的PIN腳?；

???????????????3.MCU讀IC?PIN腳的信號壓降，如果是此IC內部保

???????????????護二極管的壓降則正常，如低于IC內部保護二極管

???????????????的壓降則與VDD短路?。

?C.IC相鄰PIN腳短路測試：

???????????????1.將IC的VDD設置為0V；

???????????????2.測試儀的MCU發送低電平數據至待測IC的PIN腳1；

???????????????3.測試儀的MCU發送高電平數據至待測IC的PIN腳2；

???????????????4.MCU讀IC?PIN2的信號壓降，如是低電平數據則短

???????????????路，如是高電平數據則正常。

????以上高低電平數據需根據IC的型號不同和使用者的要求不同，可以靈活編譯,IC內部的二極管壓降也因IC的型號不同而異，以上只是測試原理。