[實(shí)用新型]一種減小開關(guān)時(shí)間的VDMOS器件版圖結(jié)構(gòu)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201420229711.1 | 申請(qǐng)日: | 2014-05-06 |
| 公開(公告)號(hào): | CN203910811U | 公開(公告)日: | 2014-10-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 白朝輝 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 西安衛(wèi)光科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L29/78 | 分類號(hào): | H01L29/78;H01L29/423 |
| 代理公司: | 西安通大專利代理有限責(zé)任公司 61200 | 代理人: | 蔡和平 |
| 地址: | 710065 *** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 減小 開關(guān)時(shí)間 vdmos 器件 版圖 結(jié)構(gòu) | ||
1.一種減小開關(guān)時(shí)間的VDMOS器件版圖結(jié)構(gòu),包括器件元胞,所述器件元胞包括由下至上依次分布的襯底層和外延層,在外延層中分布有有源區(qū)和漂移區(qū),在外延層的上部分布有場氧層和柵氧層,在場氧層和柵氧層的上部分布有多晶硅層,在多晶硅層上方分布有第一鈍化層,在有源區(qū)多晶硅窗口中部和第一鈍化層上方分布有鋁電極層,鋁電極層上方分布有第二鈍化層;其特征在于,有源區(qū)劃分的區(qū)域?yàn)橛性磪^(qū)多晶硅窗口,有源區(qū)多晶硅窗口周邊分布的多晶硅層上對(duì)稱分布有挖空的多晶孔。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的減小開關(guān)時(shí)間的VDMOS器件版圖結(jié)構(gòu),其特征在于,所述有源區(qū)多晶硅窗口為正方形、條形或正六邊形。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的減小開關(guān)時(shí)間的VDMOS器件版圖結(jié)構(gòu),其特征在于,所述挖空的多晶孔為長方形,長方形的挖空的多晶孔對(duì)應(yīng)在正方形、條形或正六邊形的有源區(qū)多晶硅窗口的對(duì)應(yīng)邊上,且挖空的多晶孔的寬度不超過兩個(gè)器件元胞有源區(qū)多晶硅窗口之間寬度的1/2,長度與器件元胞有源區(qū)多晶硅窗口邊長相等。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的減小開關(guān)時(shí)間的VDMOS器件版圖結(jié)構(gòu),其特征在于,所述多晶硅層呈多孔網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)。
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H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
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H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類型區(qū)分的
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