[實(shí)用新型]基于SERS機(jī)理的微流檢測(cè)器有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201420221155.3 | 申請(qǐng)日: | 2014-04-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN203929644U | 公開(公告)日: | 2014-11-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐紅星;沈昊 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院物理研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N21/65 | 分類號(hào): | G01N21/65 |
| 代理公司: | 北京智匯東方知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11391 | 代理人: | 范曉斌;郭海彬 |
| 地址: | 100190 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 sers 機(jī)理 檢測(cè)器 | ||
1.一種基于SERS機(jī)理的微流檢測(cè)器,其特征在于,包括至少一個(gè)微流道結(jié)構(gòu),所述微流道結(jié)構(gòu)包括:
基底(10),具有上表面(11)以及從所述上表面(11)向下凹入的溝槽,所述溝槽具有檢測(cè)區(qū)(121);
金屬光柵(20),形成在所述溝槽的所述檢測(cè)區(qū)(121)內(nèi),所述金屬光柵(20)限定了所述溝槽的供待測(cè)物質(zhì)通過的多個(gè)微流道(21)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微流檢測(cè)器,其特征在于,所述溝槽的深度為100~10000nm。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微流檢測(cè)器,其特征在于,所述金屬光柵(20)的高度設(shè)置成使得所述金屬光柵(20)不低于所述基底(10)的所述上表面(11)所在的水平面。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微流檢測(cè)器,其特征在于,所述金屬光柵(20)為由相互間隔開的多個(gè)金屬薄片構(gòu)成的線型光柵,每一所述金屬薄片沿豎向設(shè)置且與所述溝槽的延伸方向基本平行地延伸。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微流檢測(cè)器,其特征在于,所述金屬光柵(20)的周期為100~1000nm,占空比為0.01~0.99。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微流檢測(cè)器,其特征在于,所述溝槽還具有分別位于所述檢測(cè)區(qū)(121)兩側(cè)的引流區(qū)(122)和回流區(qū)(123);
其中,在橫向于所述溝槽的延伸方向上的寬度方向上,所述引流區(qū)(122)和所述回流區(qū)(123)的寬度大于所述檢測(cè)區(qū)(121)的寬度。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的微流檢測(cè)器,其特征在于,所述引流區(qū)(122)和所述回流區(qū)(123)為矩形槽結(jié)構(gòu),所述引流區(qū)(122)和/或所述回流區(qū)(123)的所述寬度為1~10000μm。
8.根據(jù)權(quán)利要求6或7所述的微流檢測(cè)器,其特征在于,所述溝槽還具有前級(jí)區(qū)(124)和后級(jí)區(qū)(125);
所述前級(jí)區(qū)(124)位于所述檢測(cè)區(qū)(121)與所述引流區(qū)(122)之間,并從所述引流區(qū)(122)朝著所述檢測(cè)區(qū)(121)以漸縮的方式延伸;以及
所述后級(jí)區(qū)(125)位于所述檢測(cè)區(qū)(121)與所述回流區(qū)(123)之間,并從所述回流區(qū)(125)朝著所述檢測(cè)區(qū)(121)以漸縮的方式延伸。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的微流檢測(cè)器,其特征在于,所述前級(jí)區(qū)(124)和所述后級(jí)區(qū)(125)內(nèi)形成有周期性排列的導(dǎo)流柱(126),所述導(dǎo)流柱(126)的周期為100~1500nm,每一所述導(dǎo)流柱為直徑為50~700nm的圓柱體。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的微流檢測(cè)器,其特征在于,還包括由透明材料形成的封裝部(30),所述封裝部(30)設(shè)置在所述基底(10)的所述上表面(11)處,以從所述溝槽的上方封閉所述溝槽。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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