[實用新型]二極管芯片測試電路

有效

• 申請號: 201420217385.2
• 申請日: 2014-04-30
• 公開（公告）號: CN203811720U
• 公開（公告）日: 2014-09-03
• 發明（設計）人: 王銳;夏群;柳虎
• 申請（專利權）人: 成都先進功率半導體股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 四川力久律師事務所 51221
• 代理人: 王蕓;熊曉果

1.一種二極管芯片測試電路，其特征在于，包括多個并聯的測試子電路和用于為所述測試子電路供電的第一電源和第二電源，所述測試子電路、第一電源和第二電源集成在同一個PCB電路板上；其中每個所述測試子電路均包括用于連接一組串聯的二極管芯片的兩個端子，所述兩個端子中的一個端子通過第一電阻電連接所述第一電源的正極，另一個端子電連接三極管的集電極，所述三極管通過第二電阻電連接所述第二電源的負極，所述三極管的基極電連接所述第一電源的負極和第二電源的正極。

2.根據權利要求1所述的二極管芯片測試電路，其特征在于，所述一組串聯的二極管為7個串聯的二極管。

3.根據權利要求2所述的二極管芯片測試電路，其特征在于，所述二極管為整流二極管、穩壓二極管或發光二極管。

4.根據權利要求1或2或3所述的二極管芯片測試電路，其特征在于，所述第一電源和第二電源均為干電池或蓄電池。

5.根據權利要求1或2或3所述的二極管芯片測試電路，其特征在于，所述測試子電路有7個。