[實(shí)用新型]一種雙鍍膜卷繞裝置

有效

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• 申請日: 2014-04-18
• 公開（公告）號: CN203904453U
• 公開（公告）日: 2014-10-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王志邦;陳軍海
• 申請（專利權(quán)）人: 蕪湖市德寶新材料股份有限公司
• 主分類號: C23C14/56
• 分類號: C23C14/56
• 代理公司: 南京正聯(lián)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32243
• 代理人: 沈志海

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及鍍膜機(jī)的開頭的放膜、結(jié)尾的收膜領(lǐng)域，尤其涉及一種雙鍍膜卷繞裝置。?

背景技術(shù)

真空蒸渡金屬薄膜是在高真空條件下，以電阻、高頻或電子加熱使金屬熔融氣化，在薄膜基材的表面附著而形成復(fù)合薄膜，其中被鍍金屬材料用的最多的是鋁，一般是卷好的基膜進(jìn)入鍍膜機(jī)進(jìn)行鍍膜再卷好出來，現(xiàn)在生產(chǎn)中用的是雙鍍膜，而現(xiàn)在的卷繞裝置功能依舊不是那么優(yōu)異，對雙鍍膜的卷繞不是那么優(yōu)異而且占空間，實(shí)際情況中的放膜速度、收膜速度以及放膜收膜張力等等依然存在問題，比如速度的調(diào)節(jié)不是那么優(yōu)異，張力的控制無法達(dá)到要求，因此解決這些問題就顯得十分必要了。?

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型提供一種雙鍍膜卷繞裝置，通過采用特有的繞法卷繞，在原有的卷繞裝置上增加卷徑測量輥、電阻測量輥和張力測量輥等等，使卷繞裝置性能更加優(yōu)異，張力可調(diào)，速度可調(diào)，還可實(shí)現(xiàn)定距離卷取，以及測量電阻，解決了背景技術(shù)中出現(xiàn)的問題。?

本實(shí)用新型的目的是提供一種雙鍍膜卷繞裝置，包括卷繞室，所述卷繞室內(nèi)部右上方設(shè)置有放膜輥，放膜輥上繞待鍍膜，放膜輥下方設(shè)置有放膜張力調(diào)節(jié)輥，放膜張力調(diào)節(jié)輥的下方偏左設(shè)置有放膜張力測量輥，放膜張力測量輥的左上方設(shè)置有第一導(dǎo)向輥，第一導(dǎo)向輥的左下方設(shè)置有第一展平輥，第一展平輥的左下側(cè)為第一鍍輥，第一鍍輥的左上側(cè)設(shè)置有第二展平輥，第二展平輥的左上方設(shè)置有第二導(dǎo)向輥，第二導(dǎo)向輥的上方偏右設(shè)置有第三導(dǎo)向輥，第三導(dǎo)向輥的左側(cè)水平位置距卷繞室邊沿處設(shè)置有第四導(dǎo)向輥，第四導(dǎo)向輥的下方偏左設(shè)置第五導(dǎo)向輥；第五導(dǎo)向輥的右下方設(shè)置有第三展平輥，第三展平輥的右下方設(shè)置有第二鍍輥，第二鍍輥右上方設(shè)置有第四展平輥，第四展平輥的右上方設(shè)置有收膜張力測量輥，收膜張力測量輥的左上方設(shè)置有收膜張力調(diào)節(jié)輥，收膜張力調(diào)節(jié)輥的右上方設(shè)置有收膜輥，收膜張力調(diào)節(jié)輥和收膜輥還設(shè)置有膜徑追蹤輥，在膜徑追蹤輥和收膜張力調(diào)節(jié)輥之間還設(shè)置有電阻測量輥。?

?進(jìn)一步改進(jìn)在于所述放膜輥和收膜輥的后面設(shè)置有恒張力卷繞電機(jī)調(diào)速裝置。

??進(jìn)一步改進(jìn)在于：所述卷繞室左上外側(cè)設(shè)置有抽真空口。

進(jìn)一步改進(jìn)在于：所述卷繞室下為鍍膜室，第一鍍輥和第二鍍輥上部分在卷繞室內(nèi)，下部分在鍍膜室內(nèi)。?

?本實(shí)用新型的有益效果：本裝置通過設(shè)置放膜輥繞待鍍膜，兩個鍍輥鍍膜，通過特定的繞法繞膜，收膜輥卷繞鍍好的膜，設(shè)置張力調(diào)節(jié)輥和張力測量輥從而達(dá)到控制其張力，膜徑追蹤輥達(dá)到定距離卷取以及保證收膜輥對鍍好的膜卷取的平整，還設(shè)置電阻測量輥的測量其電阻達(dá)到測量其厚度目的，整個裝置的設(shè)計(jì)節(jié)省了空間，十分便捷，整個裝置性能優(yōu)異，適用于鍍膜生產(chǎn)中。

附圖說明

圖1是本實(shí)用新型的截面示意圖。?

其中：1-卷繞室，2-放膜輥，3-放膜張力調(diào)節(jié)輥，4-放膜張力測量輥，5-第一導(dǎo)向輥，6-第一展平輥，7-第一鍍輥，8-第二展平輥，9-第二導(dǎo)向輥，10-第三導(dǎo)向輥，11-第四導(dǎo)向輥，12-第五導(dǎo)向輥，13-第三展平輥，14-第二鍍輥，15-第四展平輥，16-收膜張力測量輥，17-收膜張力調(diào)節(jié)輥，18-收膜輥，19-膜徑追蹤輥，20-電阻測量輥，21-卷繞電機(jī)調(diào)速裝置，22-抽真空口，23-鍍膜室。?

具體實(shí)施方式

為了加深對本實(shí)用新型的理解，下面將結(jié)合實(shí)施例對本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳述，該實(shí)施例僅用于解釋本實(shí)用新型，并不構(gòu)成對本實(shí)用新型保護(hù)范圍的限定。?

如圖1所示，本實(shí)施例提供一種雙鍍膜卷繞裝置，主體為卷繞室1，在卷繞室1內(nèi)部右上方設(shè)置有放膜輥2繞待鍍膜，卷繞室1內(nèi)底部設(shè)置有兩個鍍輥，在放膜輥2和第一鍍輥7在膜繞的方向之間設(shè)置放膜張力調(diào)節(jié)輥3、放膜張力測量輥4，導(dǎo)向輥和展平輥，通過這些部件達(dá)到放膜張力的調(diào)節(jié)、導(dǎo)向和膜的展平；第一鍍輥7和第二鍍輥14在膜繞的方向之間的設(shè)置有展平輥、導(dǎo)向輥，第二鍍輥14右上方設(shè)置有第四展平輥15對二次鍍膜的膜展平，后面依次設(shè)置有收膜張力測量輥16、收膜張力調(diào)節(jié)輥17、膜徑追蹤輥19和收膜輥18，膜徑追蹤輥19保證定距離卷取，在收膜張力調(diào)節(jié)輥17和收膜輥18之間還設(shè)置有電阻測量輥20來測量鍍膜的電阻從而得出其厚度；放膜輥2和收膜輥18通過恒張力卷繞電機(jī)調(diào)速裝置21控制的運(yùn)行；整個卷繞室1下是鍍膜室23，兩個鍍輥上部分在卷繞室1內(nèi)下部分在鍍膜室23內(nèi)；本裝置通過設(shè)置放膜輥2繞待鍍膜，兩個鍍輥鍍膜，通過特定的繞法繞膜，收膜輥18卷繞鍍好的膜，設(shè)置張力調(diào)節(jié)輥和張力測量輥從而達(dá)到控制其張力，膜徑追蹤輥19達(dá)到定距離卷取以及保證收膜輥對鍍好的膜卷取的平整，還設(shè)置電阻測量輥20的測量其電阻達(dá)到測量其厚度目的，整個裝置的設(shè)計(jì)節(jié)省了空間，十分便捷，整個裝置性能優(yōu)異，適用于鍍膜生產(chǎn)中。?