[實用新型]基于AD模塊輸出的薄膜電弱點測試統計系統有效
| 申請號： | 201420173170.5 | 申請日： | 2014-04-10 |
| 公開（公告）號： | CN203798968U | 公開（公告）日： | 2014-08-27 |
| 發明（設計）人： | 錢立文 | 申請（專利權）人： | 安徽銅峰電子股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/12 | 分類號： | G01R31/12 |
| 代理公司： | 合肥和瑞知識產權代理事務所(普通合伙) 34118 | 代理人： | 王挺 |
| 地址： | 244000 安徽*** | 國省代碼： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 ad 模塊 輸出 薄膜 弱點 測試 統計 系統 | ||
1.一種基于AD模塊輸出的薄膜電弱點測試統計系統，其特征在于包括以下組成部分：
漏電流采樣電路（1），所述漏電流采樣電路（1）的輸出端與AD模塊（2）的輸入端相連；
AD模塊（2），其輸入端與所述漏電流采樣電路（1）的輸出端連接，用于將從漏電流采樣電路（1）接收的輸入信號轉換成數字信號；
PLC（3），其輸入端與所述AD模塊（2）的輸出端連接，用于接收從AD模塊（2）輸出的數字信號，所述PLC（3）的輸出端與輸出設備（4）的輸入端相連；
輸出設備（4），其與PLC（3）雙向通訊連接，用于接收并顯示PLC（3）傳送過來的數據。
2.根據權利要求1所述的基于AD模塊輸出的薄膜電弱點測試統計系統，其特征在于：所述AD模塊（2）為三菱FX1N-2AD-BD。
3.根據權利要求2所述的基于AD模塊輸出的薄膜電弱點測試統計系統，其特征在于：所述漏電流采樣電路（1）包括限流電阻（R3）、上電極、下電極和采樣電阻（R4）；所述限流電阻（R3）串聯在測試電壓正極端與上電極之間，采樣電阻（R4）串聯在下電極與測試電壓負極端之間，所述上電極、下電極分設在待測薄膜的兩側；所述采樣電阻（R4）的高電位節點連接所述AD模塊（2）的電壓通道輸入端子，所述采樣電阻（R4）的低電位節點連接所述AD模塊（2）的公共輸入端子。
4.根據權利要求3所述的基于AD模塊輸出的薄膜電弱點測試統計系統，其特征在于：所述上電極為導電橡膠，所述下電極為金屬銅輥，所述限流電阻（R3）為RI80B/8W/200KΩ/J高壓電阻，所述采樣電阻（R4）為DR/50W/200Ω/F大功率電阻。
5.根據權利要求1所述的基于AD模塊輸出的薄膜電弱點測試統計系統，其特征在于：所述PLC（3）為三菱FX1N-24MT-001。
6.根據權利要求1所述的基于AD模塊輸出的薄膜電弱點測試統計系統，其特征在于：所述輸出設備（4）為GT1055-QSBD-C觸摸屏。
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