[實用新型]一種基于改進型馬赫曾德干涉儀測定渦旋光束拓撲電荷數的裝置

有效

• 申請號: 201420170192.6
• 申請日: 2014-04-10
• 公開（公告）號: CN203811282U
• 公開（公告）日: 2014-09-03
• 發明（設計）人: 王林;袁操今;馮少彤;李重光;趙應春;張秀英
• 申請（專利權）人: 昆明理工大學
• 主分類號: G01J11/00
• 分類號: G01J11/00;G01J9/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種基于改進型馬赫曾德干涉儀測定渦旋光束拓撲電荷數的裝置，其特征在于：包括半導體激光器（1）、顯微物鏡空間濾波器（2）、準直透鏡（3）、分光棱鏡Ⅰ（4）、平面反射鏡（5）、分光棱鏡Ⅱ（6）、空間光調制器（7）、分光棱鏡Ⅲ（8）、分光棱鏡Ⅳ（9）以及光電耦合器件（10）；其中半導體激光器（1）距顯微物鏡空間濾波器（2）為0.15m-0.2m，準直透鏡（3）的前焦面恰好位于顯微物鏡空間濾波器（2）的出瞳位置，分光棱鏡Ⅰ（4）距準直透鏡（3）為0.08m-0.15m，分光棱鏡Ⅰ（4）與分光棱鏡Ⅱ（6）在同一條水平線上，分光棱鏡Ⅰ（4）與分光棱鏡Ⅲ（8）在同一條垂直線上，分光棱鏡Ⅲ（8）與分光棱鏡Ⅳ（9）在同一條水平線上，分光棱鏡Ⅱ（6）與分光棱鏡Ⅳ（9）在同一條垂直線上，分光棱鏡Ⅰ（4）、分光棱鏡Ⅱ（6）、分光棱鏡Ⅲ（8）和分光棱鏡Ⅳ（9）在光學平臺上構成一個矩形光路，平面反射鏡（5）在分光棱鏡Ⅱ（6）垂直向上方向的距離為0.03m-0.05m，空間光調制器（7）在分光棱鏡Ⅲ（8）水平向左方向的距離為0.03m-0.05m，光電耦合器件（10）在分光棱鏡Ⅳ（9）水平向右方向的距離為0.1m-0.15m。

2.根據權利要求1所述的基于改進型馬赫曾德干涉儀測定渦旋光束拓撲電荷數的裝置，其特征在于：所述平面反射鏡（5）在分光棱鏡Ⅱ（6）垂直向上方向的距離與空間光調制器（7）在分光棱鏡Ⅲ（8）水平向左方向的距離相等。