[實(shí)用新型]X射線探測(cè)器探頭的保護(hù)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201420164044.3 | 申請(qǐng)日: | 2014-04-04 |
| 公開(公告)號(hào): | CN203745395U | 公開(公告)日: | 2014-07-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊振;楊劍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 蘇州三值精密儀器有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N23/223 | 分類號(hào): | G01N23/223 |
| 代理公司: | 北京華夏博通專利事務(wù)所(普通合伙) 11264 | 代理人: | 劉俊 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 射線 探測(cè)器 探頭 保護(hù)裝置 | ||
1.一種X射線探測(cè)器探頭的保護(hù)裝置,其特征在于,包括旋轉(zhuǎn)電磁鐵、轉(zhuǎn)軸機(jī)構(gòu)、第一固定支架、第二固定支架、探頭保護(hù)片、彈性復(fù)位機(jī)構(gòu)、限位螺栓,所述旋轉(zhuǎn)電磁鐵的一端固定設(shè)于所述第一固定支架上,所述轉(zhuǎn)軸機(jī)構(gòu)穿設(shè)于所述第二固定支架中,所述轉(zhuǎn)軸機(jī)構(gòu)的一端連接所述旋轉(zhuǎn)電磁鐵的另一端,所述轉(zhuǎn)軸機(jī)構(gòu)的另一端連接所述探頭保護(hù)片,所述旋轉(zhuǎn)電磁鐵能夠經(jīng)所述轉(zhuǎn)軸機(jī)構(gòu)帶動(dòng)所述探頭保護(hù)片旋轉(zhuǎn),所述彈性復(fù)位機(jī)構(gòu)一端固設(shè)于所述第一固定支架上,其另一端固設(shè)于所述轉(zhuǎn)軸機(jī)構(gòu)上,所述限位螺栓的一端固定于所述第一固定支架上,其另一端抵住所述轉(zhuǎn)軸機(jī)構(gòu)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線探測(cè)器探頭的保護(hù)裝置,其特征在于,所述轉(zhuǎn)軸機(jī)構(gòu)包括一長(zhǎng)轉(zhuǎn)軸、十字軸卡、限位固定塊、外部固定塊、內(nèi)部固定塊、卡套,所述長(zhǎng)轉(zhuǎn)軸穿設(shè)于所述第二固定支架中,所述長(zhǎng)轉(zhuǎn)軸上于所述第二固定支架的一側(cè)依次設(shè)有所述十字軸卡、限位固定塊、外部固定塊,所述長(zhǎng)轉(zhuǎn)軸上于所述第二固定支架的另一側(cè)設(shè)有所述內(nèi)部固定塊,所述內(nèi)部固定塊的末端連接所述卡套。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的X射線探測(cè)器探頭的保護(hù)裝置,其特征在于,該保護(hù)裝置還包括一軸套,所述旋轉(zhuǎn)電磁鐵的中心軸裝配于所述軸套的一端,所述長(zhǎng)轉(zhuǎn)軸裝配于所述軸套的另一端,設(shè)于所述長(zhǎng)轉(zhuǎn)軸上的十字軸卡插設(shè)于所述軸套的缺口中,所述外部固定塊固定于所述第二固定支架的一側(cè),所述內(nèi)部固定塊固定于所述第二固定支架的另一側(cè),所述卡套連接所述探頭保護(hù)片,所述限位螺栓的一端固定于所述第一固定支架上,所述限位螺栓的另一端抵住所述限位固定塊。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的X射線探測(cè)器探頭的保護(hù)裝置,其特征在于,所述卡套經(jīng)一保護(hù)片支架與所述探頭保護(hù)片相連接。
5.根據(jù)權(quán)利要求2-4中任一項(xiàng)所述的X射線探測(cè)器探頭的保護(hù)裝置,其特征在于,所述彈性復(fù)位機(jī)構(gòu)包括一復(fù)位彈簧,所述復(fù)位彈簧的一端固設(shè)于所述第一固定支架上的第一彈簧固定孔中,所述復(fù)位彈簧的另一端固設(shè)于所述限位固定塊上的第二彈簧固定孔中。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的X射線探測(cè)器探頭的保護(hù)裝置,其特征在于,該保護(hù)裝置還包括一X射線探測(cè)器安裝板,所述X射線探測(cè)器安裝板固設(shè)于所述第二固定支架的末端。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光
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