[實用新型]雙波長同步測試的插損回損測試儀

有效

• 申請號: 201420158837.4
• 申請日: 2014-04-03
• 公開（公告）號: CN203883841U
• 公開（公告）日: 2014-10-15
• 發明（設計）人: 周永軍
• 申請（專利權）人: 鎮江奧菲特光電科技有限公司
• 主分類號: H04B10/075
• 分類號: H04B10/075
• 代理公司: 鎮江京科專利商標代理有限公司 32107
• 代理人: 夏哲華

技術領域

????本實用新型涉及一種用于光纖連接器測試的設備，具體地說是一種雙波長同步測試的插損回損測試儀，屬于光纖通信技術領域。

背景技術

光纖通信具有信號穩定、損耗小、傳輸距離長、容量高等多方面優點，已在各國現代通信網絡建設中廣泛采用備。當前，我國的光纖通信網絡建設迅猛，三大運營商及廣電系統都確定了“加快光進銅退、推進接入網戰略轉型”的思路。光纖活動連接器和光纖一樣，屬于光纖通信網絡中最基本的組成部分，在光纖通信網絡中具有巨大的需求量。國家的相關主管部門針對光纖活動連接器也制定了多項行業標準，對其性能指標作出了具體的規定。行業標準規定，光纖活動連接器出廠前的光學性能檢驗項目為插入損耗和回波損耗。

光纖連接器生產廠家出廠檢驗主要是利用插損回損測試儀來檢測光纖連接器的性能指標。目前我國光纖通信網絡常用的通信窗口主要是1310nm和1550nm，市場上現有的插損回損測試儀可以進行這兩個波長的測試，但是每次只能測試一個波長，如果需要測試兩個波長的指標，就需要進行兩次測試。

發明內容

本實用新型要解決的技術問題是提供一種能夠同時測試兩個波長的光學性能的高效的雙波長同步測試的插損回損測試儀。

為了解決上述技術問題，本實用新型的雙波長同步測試的插損回損測試儀，包括中央處理器，中央處理器分別通過一個1310nm光發射模塊和一個1550nm光發射模塊連接到波分復用器上，波分復用器信號的輸出端連接光分路器，光分路器的輸出端連接到被測跳線的前端面上，光分路器的回損信號端連接回損測試模塊；回損測試模塊直接與中央處理器進行信息傳輸。?????所述被測跳線的后端面連接插損測試模塊，插損測試模塊與中央處理器連接。

所述光分路器通過接頭和測試線連接被測跳線的前端面。

采用上述的結構后，由于中央處理器分別通過一個1310nm光發射模塊和一個1550nm光發射模塊連接到波分復用器上，光發射模塊的發射信號能夠通過波分復用器傳輸到光分路器，然后經過接頭和測試線到被測跳線的前端面，CPU連接回損測試模塊，由此可通過與CPU聯動的方式，輪流發射1310nm、1550nm脈沖信號，同時進行1310nm和1550nm波長的測試，實現了同時測試光纖跳線在1310nm和1550nm兩個波長的光學性能，極大地提升產品測試效率。

附圖說明

????圖1為本實用新型雙波長同步測試的插損回損測試儀的原理框圖。

具體實施方式

下面結合附圖和具體實施方式，對本實用新型的雙波長同步測試的插損回損測試儀作進一步詳細說明。

如圖所示，本實用新型的雙波長同步測試的插損回損測試儀，包括中央處理器（CPU），中央處理器分別通過一個1310nm光發射模塊和一個1550nm光發射模塊連接波分復用器(WDM)上；波分復用器信號的輸出端連接光分路器（高回損光分路器），高回損光分路器的輸出端通過FC/APC接頭和測試線連接到被測跳線的前端面上，高回損光分路器的回損信號端連接回損測試模塊；回損測試模塊直接與中央處理器進行信息傳輸。?????進一步的還可以在被測跳線的后端面連接插損測試模塊，插損測試模塊與中央處理器連接。

其工作原理如下：

測試時，先將標準測試線APC端與測試儀的標準FC/APC接頭相連，另一端接入插損測試模塊進行插損測試光源的標定，再將標準測試線的另一端接入消光模塊進行回損的標定，標定工作結束后，可以將被測跳線的A端與標準測試線相連，B端接入插損測試模塊，屏幕上顯示被測跳線A端兩個波長的插損值；將被測跳線的B端接入消光模塊，屏幕上顯示被測跳線A端兩個波長處的回損值，在測試時，1310nm激光器（光發射模塊）和1550nm激光器由CPU控制，與回損測試模塊及插損測試模塊聯動，輪流發射脈沖信號，并將兩個波長的測試結果同時顯示在屏幕上。