[實用新型]靜態法比表面及孔徑分析儀有效
| 申請號： | 201420148783.3 | 申請日： | 2014-03-28 |
| 公開（公告）號： | CN203811514U | 公開（公告）日： | 2014-09-03 |
| 發明（設計）人： | 柳劍峰 | 申請（專利權）人： | 貝士德儀器科技（北京）有限公司 |
| 主分類號： | G01N15/08 | 分類號： | G01N15/08 |
| 代理公司： | 北京凱特來知識產權代理有限公司 11260 | 代理人： | 鄭立明;付久春 |
| 地址： | 100193 北京市海淀區*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 靜態 比表面 孔徑 分析 | ||
【權利要求書】：
1.一種靜態法比表面及孔徑分析儀，包括：鋼瓶、基準腔、若干閥門和測試腔，所述鋼瓶經管路與基準腔連接，所述基準腔經管路、各閥門與所述測試腔連接，其特征在于，還包括：基準腔恒溫裝置，為容器結構，罩設在所述基準腔、連接所述基準腔的管路和所述各閥門外面。?
2.根據權利要求1所述的靜態法比表面及孔徑分析儀，其特征在于，所述基準腔恒溫裝置設有加熱裝置和溫度控制裝置。?
3.根據權利要求2所述的靜態法比表面及孔徑分析儀，其特征在于，所述加熱裝置和溫度控制裝置均設置在基準腔恒溫裝置的容器腔體內壁上或均懸空設置在基準腔恒溫裝置的容器腔體內，所述溫度控制裝置的控制端與所述加熱裝置的供電端電連接。?
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