[實用新型]射頻連接器端口測試裝置

有效

• 申請號: 201420148728.4
• 申請日: 2014-03-28
• 公開（公告）號: CN203811091U
• 公開（公告）日: 2014-09-03
• 發明（設計）人: 趙奇
• 申請（專利權）人: 蘇州兆科電子有限公司
• 主分類號: G01B5/14
• 分類號: G01B5/14
• 代理公司: 北京同恒源知識產權代理有限公司 11275
• 代理人: 劉憲池

技術領域

本實用新型涉及移動通信技術領域，尤其是指移動通訊領域的射頻連接器的端口測試裝置。

背景技術

在通訊領域中，射頻連接器被廣泛應用于電纜與電纜、系統與系統、電纜與系統之間的連接，要求其具有良好的電氣性能和機械性能。由于連接器在對接組裝時，對連接器的尺寸要求極其嚴格，尺寸超過誤差，在對接連接時，則會造成對連接器的損害，直接影響其電氣性能。對于連接器，其內導體至連接器殼體對接基準面的距離尺寸必須在規定的標準范圍之內，如果超出該范圍，則會導致對接時損壞連接器或接觸不良，造成電氣性能不良。射頻連接器，內導體位于連接器殼體端口內，對接安裝基準面位于連接器殼體內，內導體至對接安裝基準面之間距離為控制關鍵點，當該距離超出標準范圍外，則在對接時造成上述不良。對于這一尺寸的測量，目前采用數顯高度尺進行測量。數顯高度尺包括中空固定桿和位于固定桿中的測試滑動桿，測試滑動桿與數顯表頭連接一端設置有彈簧，測試滑動桿伸出在固定桿端口外。需要進行二次測量加計算才可以得出，然后取兩次測量的差值才可以。以連接器殼體端面為基準點對測量儀歸零，然后測量內導體距離連接器殼體端口的距離；再以連接器殼體端面為基準點，測量對接基準面至連接器殼體之間的距離，該兩距離之差即為內導體至對接基準面的距離。該測量方法，需要進行2次測量，并且還需對兩側測量的距離進行計算，測量時間長，測量效率高，測量誤差大。如何改進數顯高度尺，使其可以一次性測試出連接器端口處數據，并直接顯現是需要解決的問題。

發明內容

本實用新型所要解決的技術問題是提供一種射頻連接器端口測試裝置，該測試裝置可以一次性測試出內導體至對接安裝基準面的距離，節省測試時間，提高測試效率，減少測試誤差。

為解決上述技術問題，本實用新型提供的技術方案是一種射頻連接器端口測試裝置，其包括數顯高度尺，所述數顯高度尺包括固定桿和一端與數顯表頭連接的滑動桿，其特征在于在所述固定桿上固定安裝有中空的測試固定桿，所述測試固定桿的測試端外側壁形狀與所述射頻連接器殼體端口內側壁形狀相匹配，所述測試固定桿的測試端長度大于所述射頻連接器殼體端口至所述射頻連接器殼體內部的對接安裝基準面的高度，所述測試固定桿的測試端的內徑大于所述射頻連接器殼體內的內導體的外徑；在所述滑動桿上固定有測試頂針，所述測試頂針在不受外力時，伸出所述測試固定桿的測試端端口外。

所述滑動桿的端面上開設有螺孔，所述測試頂針螺鎖在所述螺孔內。

所述測試固定桿一端套設在所述固定桿上，通過螺釘固定在所述固定桿上。

測試時，以水平測試平臺為基準面進行測試裝置歸零后，測試頂針在彈簧作用自然伸出測試固定桿端口外，然后將測試裝置的測試固定桿和測試頂針伸入射頻連接器殼體端口內，當內導體頂住測試頂針使測試頂針回縮直到測試固定桿抵觸對接安裝基準面臺階處，此時，數顯表頭顯示的數值即為內導體至對接安裝基準面的距離。

本實用新型的射頻連接器端口測試裝置，在數顯高度尺的基礎上增加與射頻連接器結構相匹配的測試固定桿和測試頂針，使其可深入至射頻連接器殼體內部進行測試，實現一次性測試，并直接讀取測試數值，節約了大量的測試時間，提高了測試效率。

附圖說明

圖1，本實用新型測試結構示意圖。

具體實施方式

針對上述技術方案，現舉一較佳實施例并結合圖示進行具體說明，參看圖1，其中。

數顯高度尺主要包括固定桿1和滑動桿3，固定桿1套設在滑動桿3外，為滑動桿3伸縮進行導向。滑動桿3內設置有彈簧，通過彈簧可自由伸縮。滑動桿與數顯表頭的連接屬于現有技術，在此不再贅述。

連接器測試固定桿6，其由兩端貫通的中空管道形成。其一端套設在數顯高度尺的固定桿1的外壁上，并通過螺釘2固定在固定桿1上，其另一端為測試端，該測試端的外壁形狀與內導體7及對接安裝基準面所處的射頻連接器殼體端內壁形狀相匹配，測試端內壁直徑大于處于射頻連接器殼體8內的內導體外徑；測試端長度大于對接安裝基準面和內導體分別至射頻連接器殼體端口的距離，以便在測試時，測試端能夠貼合射頻連接器殼體端內壁伸入至射頻連接器殼體內的對接安裝基準面臺階處。

測試頂針5，在數顯高度尺的滑動桿3端面處開設有螺孔4，測試頂針一端外壁上開設有外螺紋，測試頂針通過螺孔螺鎖在滑動桿3上。測試頂針5的外徑小于測試固定桿的內徑，大于內導體端端面的外徑。在測試頂針5不受外力作用時，測試頂針5的自由端伸出測試固定桿自由端端口外。當然，測試頂針5的外徑不一定要大于內導體端端面的外徑，僅需測試頂針5在測試時，能夠頂住內導體端面大部分面積即可。