[實用新型]一種紅外遙控器測試裝置及系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201420141971.3 | 申請日: | 2014-03-26 |
| 公開(公告)號: | CN203849860U | 公開(公告)日: | 2014-09-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李文彬 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市創(chuàng)榮發(fā)電子有限公司 |
| 主分類號: | G08C25/00 | 分類號: | G08C25/00;G08C23/04 |
| 代理公司: | 深圳市科吉華烽知識產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44248 | 代理人: | 田亞軍;陳本發(fā) |
| 地址: | 518053 廣東省深圳市寶安區(qū)*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 紅外 遙控器 測試 裝置 系統(tǒng) | ||
1.一種紅外遙控器測試裝置,其特征在于,包括:本體、電源正極、電源負極、頂針、定位構(gòu)件和測試接觸點,所述頂針包括正極頂針和負極頂針,所述電源正極和正極頂針連接在一起,所述電源負極與負極頂針連接在一起;所述測試接觸點設(shè)置在頂針和定位構(gòu)件之間。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的紅外遙控器測試裝置,其特征在于,所述測試接觸點為導電碳粒,所述導電碳粒設(shè)置在本體的上表面。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的紅外遙控器測試裝置,其特征在于,所述定位構(gòu)件為設(shè)置在本體上部的定位擋板。
4.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的紅外遙控器測試裝置,其特征在于,所述定位構(gòu)件的高度大于測試接觸點的高度。
5.一種紅外遙控器測試系統(tǒng),其特征在于,包括權(quán)利要求1至4任意一項所述的紅外遙控器測試裝置,還包括測試解碼儀、數(shù)字電源、電流表和紅外遙控器的PCBA,所述測試解碼儀與PCBA通過發(fā)射管進行通信,所述數(shù)字電源的負極連接至紅外遙控器測試裝置的電源負極,所述電流表的正極連接至紅外遙控器測試裝置的電源正極,所述數(shù)字電源與電流表串接在一起。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的紅外遙控器測試系統(tǒng),其特征在于,所述紅外遙控器的PCBA包括正極焊盤、負極焊盤和按鍵,所述正極頂針和負極頂針在本體上的位置分別與正極焊盤和負極焊盤在PCBA上的位置相對應(yīng),所述測試接觸點在本體上的位置與按鍵在PCBA上的位置相對應(yīng)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的紅外遙控器測試系統(tǒng),其特征在于,所述定位構(gòu)件分別與正極頂針和負極頂針之間的距離等于PCBA邊沿分別與正極焊盤和負極焊盤之間的距離。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于深圳市創(chuàng)榮發(fā)電子有限公司,未經(jīng)深圳市創(chuàng)榮發(fā)電子有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201420141971.3/1.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





