[實用新型]光譜測量裝置

有效

• 申請號: 201420139316.4
• 申請日: 2014-03-25
• 公開（公告）號: CN203772415U
• 公開（公告）日: 2014-08-13
• 發明（設計）人: 楊濤;許超;宋春元;何浩培;黃維;李興鰲;周馨慧;沈驍;儀明東;李詠華
• 申請（專利權）人: 南京郵電大學
• 主分類號: G01J3/28
• 分類號: G01J3/28;G01J3/02
• 代理公司: 南京經緯專利商標代理有限公司 32200
• 代理人: 楊楠

1.一種光譜測量裝置，包括沿光入射方向依次設置的光學準直裝置、分光器件、陣列式探測芯片，以及與所述陣列式探測芯片連接的數據采集與分析系統，其特征在于，所述分光器件包括透明基底，所述透明基底的至少一個表面上固著有一層金屬粒子膜，所述金屬粒子膜包括一組納米至微納米尺度的大小不等的金屬粒子，所述金屬粒子在金屬粒子膜中呈不均勻分布，且金屬粒子之間形成有一系列可容光線通過的大小不等的孔隙。

2.如權利要求1所述光譜測量裝置，其特征在于，所述透明基底的厚度為微米量級。

3.如權利要求1所述光譜測量裝置，其特征在于，所述金屬粒子為銀粒子。

4.如權利要求1所述光譜測量裝置，其特征在于，所述光學準直裝置包括兩個共焦的透鏡，以及設置于所述兩個透鏡的共同焦點處的小孔光闌。

5.如權利要求1所述光譜測量裝置，其特征在于，所述透明基底的材質為玻璃。

6.如權利要求1所述光譜測量裝置，其特征在于，所述陣列式探測芯片為CCD或CMOS陣列式探測芯片。