[實(shí)用新型]一種用于電子產(chǎn)品測(cè)試工裝的連接單元有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201420131097.5 | 申請(qǐng)日: | 2014-03-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN203881860U | 公開(公告)日: | 2014-10-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 盧永均 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 天津可巴特電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司: | 天津市鼎和專利商標(biāo)代理有限公司 12101 | 代理人: | 李鳳 |
| 地址: | 300381 天*** | 國(guó)省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 電子產(chǎn)品 測(cè)試 工裝 連接 單元 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型屬于電子產(chǎn)品測(cè)試工裝技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種用于電子產(chǎn)品測(cè)試工裝的連接單元。
背景技術(shù)
現(xiàn)代社會(huì)中,隨著電子行業(yè)的長(zhǎng)足發(fā)展,各類電子產(chǎn)品進(jìn)入了人們的生活。模塊化設(shè)計(jì)是各類電子產(chǎn)品的主流結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)模式,因此在組成模塊的部件中經(jīng)常采用如附圖1所示的連接器,用于實(shí)現(xiàn)單個(gè)模塊與其它模塊和整體系統(tǒng)的連接。連接器一般包括連接器本體1,在連接器本體1的上表面一體成型有插接用的插槽1-1,在插槽1-1內(nèi)并列設(shè)有多個(gè)導(dǎo)電體1-2,導(dǎo)電體1-2的端部向下穿過(guò)連接器本體1并向外側(cè)彎折形成多個(gè)端腳1-3。安裝時(shí),連接器本體1固定在電路板上,功能部件如攝像頭、揚(yáng)聲器等通過(guò)排線與連接器相連接,連接器再通過(guò)排線連接至其它模塊或者整體電路框架。功能單元如攝像頭單元、揚(yáng)聲器單元等在完成組裝之后通常需要在測(cè)試工裝上進(jìn)行接入測(cè)試,以檢測(cè)品質(zhì)。對(duì)于上述連接器來(lái)說(shuō),測(cè)試工裝上需要有一組連接單元模擬排線的連接,將功能單元接入到測(cè)試系統(tǒng)內(nèi)完成品質(zhì)的測(cè)試?,F(xiàn)有的用于測(cè)試工裝的連接單元一般結(jié)構(gòu)復(fù)雜,其探針的內(nèi)端一般只是與導(dǎo)電體1-2的外露于凹槽1-1側(cè)壁(連接器本體1表面)的部分點(diǎn)接觸。上述結(jié)構(gòu)存在如下弊端:首先,由于連接器放置位置的誤差、探針加工精度的誤差等因素而經(jīng)常導(dǎo)致探針與導(dǎo)電體1-2接觸不良,造成待測(cè)試的功能單元接入測(cè)試系統(tǒng)失??;其次,點(diǎn)接觸的連接形式導(dǎo)致探針端部過(guò)早磨損,最終導(dǎo)致整個(gè)連接單元使用壽命的降低。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型為解決公知技術(shù)中存在的技術(shù)問(wèn)題而提供一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、使用壽命長(zhǎng)、保證測(cè)試連接可靠性的用于電子產(chǎn)品測(cè)試工裝的連接單元。
本實(shí)用新型為解決公知技術(shù)中存在的技術(shù)問(wèn)題所采取的技術(shù)方案是:一種用于電子產(chǎn)品測(cè)試工裝的連接單元包括帶有T形截面缺口的底板和插裝在該缺口上的基座;所述基座包括中部帶有凹槽的基座本體,在基座本體的兩側(cè)設(shè)有固定翼板,在凹槽的底壁上設(shè)有兩排豎直的探針孔,在探針孔內(nèi)插裝有探針,在基座本體的下表面、探針孔的四周設(shè)有多個(gè)對(duì)連接器進(jìn)行定位的限位塊,連接器置入限位塊之間時(shí)所述探針的底端插入連接器本體的插槽內(nèi)并與導(dǎo)電體接觸;還包括將基座壓緊固定在底板上的壓板,在壓板的中部設(shè)有供探針穿過(guò)的透孔;還包括帶有兩排與所述探針孔位置上下對(duì)正的導(dǎo)向孔的蓋板,探針的頂端插裝在所述導(dǎo)向孔內(nèi);所述蓋板、壓板和底板三者固接。
本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)和積極效果是:本實(shí)用新型提供了一種結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單緊湊的用于電子產(chǎn)品測(cè)試工裝的連接單元,用于與電子產(chǎn)品功能單元的連接器連接。通過(guò)優(yōu)化與連接器直接接觸連接的基座及多個(gè)探針的結(jié)構(gòu)和位置關(guān)系,實(shí)現(xiàn)了探針端部插入連接器的插槽內(nèi)并與導(dǎo)電體接觸的連接方式。與現(xiàn)有技術(shù)相比,探針插入連接器的插槽可以保證探針與連接器的導(dǎo)電體接觸良好,由于探針的頂端、頂端的側(cè)壁均與位于插槽內(nèi)的導(dǎo)電體相接觸,直接增大了接觸面積,提升了測(cè)試連接的可靠性。同時(shí)由于避免了探針只有頂端接觸的連接方式,延長(zhǎng)了探針的使用壽命進(jìn)而提升了整個(gè)連接單元的使用壽命。再者,探針插入連接器插槽內(nèi)的連接方式降低了因增強(qiáng)適配性而提出的對(duì)附屬配件的加工精度要求。另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是,采用傳統(tǒng)的探針與導(dǎo)電體頂部相接觸的方式時(shí)探針與導(dǎo)電體之間的壓力較大,這樣在上述壓力的作用下導(dǎo)電體焊接不良的缺陷也容易被掩蓋,從而無(wú)法發(fā)現(xiàn)不良品,而采用本實(shí)用新型中的接觸方式時(shí),探針與導(dǎo)電體之間的壓力較小,導(dǎo)電體焊接不良的缺陷更容易暴露出來(lái),不良品得到及時(shí)發(fā)現(xiàn)。
優(yōu)選地:所述限位塊包括位于兩端的第一端部限位塊和第二端部限位塊以及位于中部的第一組中部限位塊和第二組中部限位塊。
優(yōu)選地:在所述固定翼板上均設(shè)有豎直未貫通的銷孔,在壓板的底部設(shè)有左右兩個(gè)插入所述銷孔的豎直的銷軸。
優(yōu)選地:所述蓋板、壓板和底板三者采用螺釘進(jìn)行固接。
附圖說(shuō)明
圖1是本實(shí)用新型的中連接體的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3是本實(shí)用新型另一視角的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖4是本實(shí)用新型中基座、探針與連接器的組合結(jié)構(gòu)示意圖;
圖5是圖4的橫向斷面結(jié)構(gòu)示意圖;
圖6是本實(shí)用新型的使用狀態(tài)結(jié)構(gòu)示意圖。
圖中:1、連接器本體;1-1、插槽;1-2、導(dǎo)電體;1-3、端腳;2、蓋板;3、壓板;4、底板;5、探針;6、基座;6-1、固定翼板;6-2、第一端部限位塊;6-3、第一組中部限位塊;6-4、第二組中部限位塊;6-5、第二端部限位塊;7、折頁(yè);8、安裝板;9、鎖扣。
具體實(shí)施方式
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
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