[實用新型]光學玻璃析晶性能測試樣品容器

有效

• 申請號: 201420129528.4
• 申請日: 2014-03-21
• 公開（公告）號: CN203929480U
• 公開（公告）日: 2014-11-05
• 發明（設計）人: 周佺佺;王竑
• 申請（專利權）人: 成都光明光電股份有限公司
• 主分類號: G01N1/36
• 分類號: G01N1/36
• 代理公司: 成都希盛知識產權代理有限公司 51226
• 代理人: 蒲敏

技術領域

本實用新型涉及一種樣品容器，特別是涉及一種光學玻璃析晶性能測試樣品容器。

背景技術

光學玻璃在熔體冷卻成型的過程中，玻璃處于較高能態，具有自發放熱轉化為內能較低的晶體的傾向，玻璃會析晶，嚴重影響玻璃性能。因此，玻璃析晶性能的測定，對于玻璃研發、生產和品質管理具有重要意義。

目前一般采用梯度爐對玻璃析晶性能進行測試，需要將一節玻璃試樣裝載在樣品容器內，放入梯度爐進行測試，但在玻璃熔化測試過程中，爐體和樣品容器高溫下會產生粉渣，掉入玻璃熔體中，產生雜質析晶，導致誤測。另外，玻璃熔體高溫下揮發以及侵蝕，都會影響玻璃析晶性能的檢測。

實用新型內容

本實用新型所要解決的技術問題是提供一種能夠提高玻璃析晶性能測試準確性的樣品容器。

本實用新型解決技術問題所采用的技術方案是：光學玻璃析晶性能測試樣品容器，包括主體，在所述主體的中心設置有樣品槽。

進一步的，在所述樣品槽的開口端設置有蓋片。

進一步的，所述主體和蓋片采用燒結陶瓷制成。

進一步的，在所述主體的一端面開有通孔。

本實用新型的有益效果是：通過將樣品放置在樣品槽中，并采用燒結陶瓷制作的蓋片遮蔽，有效排除析晶性能測試過程中外界粉渣的影響，以及熔體高溫揮發和侵蝕等誤差因素，提高了玻璃析晶性能測試的準確性；熱電偶可插入樣品容器內測試校準，實現了對樣品溫度梯度分布測試，繪制溫度分布曲線，更加真實方便地進行校驗，擴大了樣品容器的使用范圍。

附圖說明

圖1是本實用新型的主視圖。

圖2是圖1的A-A剖視圖。

圖3是另一種結構的剖視圖。

具體實施方式

如圖1-圖2所示，本實用新型的樣品容器包括主體1，在所述主體1的中心根據試樣尺寸設置有樣品槽2，試樣可直接放置在樣品槽2內，也可在樣品槽2內放置其它容器，以提高對高腐蝕性試樣測試的可靠性。

在樣品容器的樣品槽2的開口端設置有蓋片3，在保證溫度傳導的同時，可以有效遮蔽外界粉渣的影響，還可以降低熔體高溫揮發。

上述主體1以及蓋片3最好都采用燒結陶瓷制成，燒結陶瓷質地緊密、高溫穩定性好、耐腐蝕性能好、易于放置，調整拿取都不會產生粉渣污染。

由于光學玻璃析晶性能測試，對溫度梯度精度要求比較高，一般梯度爐的校正是將熱電偶插入爐體內測試校準。測試的爐體溫度并不代表樣品容器內的試樣溫度，存在一定誤差。為了提高試樣溫度控制的準確性，本實用新型的樣品容器在主體1的一端面開有通孔4，如圖3所示。這樣熱電偶可通過通孔4插入樣品容器內測試校準，實現對樣品容器內溫度梯度分布的測試，繪制溫度分布曲線，可以更加真實方便地對樣品溫度梯度進行校驗，提高光學玻璃析晶性能測試的準確性，同時也擴大了樣品容器的使用范圍。