[實用新型]可旋轉試樣的X射線衍射儀試樣座

有效

• 申請號: 201420122913.6
• 申請日: 2014-03-19
• 公開（公告）號: CN203732472U
• 公開（公告）日: 2014-07-23
• 發明（設計）人: 王志奮;李長一;劉敏;王俊霖;余晴;歐陽珉路;黃海娥;楊志婷;陳士華;周元貴
• 申請（專利權）人: 武漢鋼鐵（集團）公司
• 主分類號: G01N23/207
• 分類號: G01N23/207
• 代理公司: 湖北武漢永嘉專利代理有限公司 42102
• 代理人: 鐘鋒

技術領域

本實用新型涉及一種可旋轉試樣的X射線衍射儀試樣座。?

背景技術

X射線衍射技術已廣泛用于晶體結構分析、晶格常數計算，以及薄膜厚度測定、晶粒大小測量和宏觀內應力測量等，成為物理學、化學、材料科學、地質以及生物學等許多領域必不可少的測量與分析手段。

一般的X射線衍射儀可以用來測量粉末樣品與塊狀樣品。對粉末樣品進行測量時，需樣品的粒徑在5??m左右，樣品的份量足夠，將粉末試樣填入玻璃試樣片中，然后進行測量。對塊狀樣品進行X射線衍射測量時，通常都是用橡皮泥將樣品貼在鋁制樣品架上。如果是大尺寸試樣，則直接放于X射線衍射儀的試樣座上。上述試樣放置方法必須使被測平面和X衍射儀的試樣座的特定平面平行，從而產生準確的X射線衍射信號，獲得準確的分析數據。

上述傳統的試樣放置方式都是靜態的，在測量過程中試樣靜止不動。由于靜態放置樣品，測量的部位固定且區域相對局限，造成測量的誤差；在進行鋼鐵材料的織構的測量，如測量材料的ODF圖、反極圖時，如果試樣的晶粒尺寸太大，會造成大晶粒效應，從而造成測量誤差。而消除和減小大晶粒效應的最有效途徑，是在測量中使試樣在被測平面內進行旋轉。

發明內容

本實用新型的目的在于克服現有技術缺陷，提供一種可旋轉試樣的X射線衍射儀試樣座。

本實用新型的技術方案是這樣實現的：可旋轉試樣的X射線衍射儀試樣座，主要由試樣座基架、圓形支架、旋轉電機、樣品托盤組成，試樣座基架內有水平的柱形槽，圓形支架垂直放置在柱形槽內且與柱形槽內壁緊密配合，旋轉電機固定在圓形支架中心，旋轉電機主軸與樣品托盤底部中心相連，可帶動樣品托盤在垂直面自轉。

優選的，頂升螺桿穿過試樣座基架可頂住圓形支架上與旋轉電機相對的另一面，使圓形支架在柱形槽內滑動。

優選的，旋轉電機通過調速開關與電源相連。

優選的，樣品托盤為帶磁性的樣品托盤。

本實用新型擺放試樣方便牢固，通過調節頂升螺桿可使試樣被測平面達到測量位置，能產生正確的X射線衍射峰，使測量數據準確；而且實現了試樣在測量過程中的360°旋轉，從而消除了由于樣品大晶粒效應造成的測量誤差。

附圖說明

圖1是本實用新型結構示意圖。

圖中，1-試樣座基架；2-樣品托盤；3-旋轉電機；4-圓形支架；5-頂升螺桿；6-調速開關；7-試樣。

具體實施方式

下面結合附圖作進一步描述：

如圖1所示，可旋轉試樣的X射線衍射儀試樣座，主要由試樣座基架1、圓形支架4、旋轉電機3、樣品托盤2組成，試樣座基架1內有水平的柱形槽，圓形支架4垂直放置在柱形槽內且與柱形槽內壁緊密配合，旋轉電機3固定在圓形支架4中心，旋轉電機3主軸與樣品托盤2底部中心相連，可帶動樣品托盤2在垂直面自轉；頂升螺桿5穿過試樣座基架1可頂住圓形支架4上與旋轉電機3相對的另一面，使圓形支架4在柱形槽內滑動；旋轉電機3通過調速開關6與電源相連；樣品托盤2為帶磁性的樣品托盤，可加強對試樣7的固定。

操作時，將試樣7制備成合適尺寸，直接放于樣品托盤2上，調節頂升螺桿5，將試樣7被測平面調節到合適測量位置，控制調速開關6，調節轉速至合適大小；完成X射線衍射儀的參數設置，在旋轉狀態下對試樣進行織構測量。

本實用新型安裝和操作過程簡單，克服了常規靜態試樣放置對大晶粒尺寸試樣測量織構時存在的困難，提高了X射線衍射分析的準確度。?