[實用新型]一種用于超聲波檢測的二階試塊

有效

• 申請號: 201420113439.0
• 申請日: 2014-03-13
• 公開（公告）號: CN203732511U
• 公開（公告）日: 2014-07-23
• 發明（設計）人: 張彥新
• 申請（專利權）人: 河北省電力建設調整試驗所;國網河北省電力公司電力科學研究院
• 主分類號: G01N29/30
• 分類號: G01N29/30;G01N29/04
• 代理公司: 石家莊新世紀專利商標事務所有限公司 13100
• 代理人: 董金國;張素靜

技術領域

本實用新型涉及一種超聲檢測用試塊，具體的涉及一種超聲波檢測的二階試塊。

背景技術

斜探頭超聲波探傷儀斜探頭進行斜射探傷用的探頭，主要用于橫波探傷。目前較常使用的斜探頭用試塊有CSK-IA、IIW等，但是隨著數字探傷儀等新型儀器的廣泛應用，單一的標準試塊已經無法滿足檢測的需求。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供了一種新型的特別適合于各種斜探頭使用的超聲波檢測用二階試塊。

為了到達上述目的，本實用新型采用的技術方案如下：

本實用新型所述的二階試塊包括試塊體、設置于試塊體左側的圓弧狀階梯面、設置于試塊體上的階梯孔以及設置于試塊體右側的弧形通孔；所述圓弧狀階梯面為二階階梯面，其外側圓弧面的半徑與試塊體的寬邊長度相同，其內側圓弧面的半徑為試塊體的寬邊長度的50%~80%；所述階梯孔為等高階梯孔，其中心線到試塊體左側的距離為試塊體長度的30~50%；所述弧形通孔的曲率圓的圓心位于所述試塊體的頂部，其曲率圓半徑與試塊體的高度相同。

進一步的，本實用新型所述試塊體的長邊長度是寬邊長度的1.5~3倍，高度是寬邊長度的30%~50%，所述試塊體的寬邊長度為100~150mm。

進一步的，本實用新型所述階梯孔的內孔半徑為2~5mm，外孔半徑為5~10mm。

進一步的，本實用新型所述弧形通孔的曲率圓的圓心到試塊體右側的距離為試塊體長度的10~30%。

進一步的，本實用新型所述弧形通孔4的橫截面為圓形，橫截面的半徑為1~3mm。

本實用新型的技術效果包括：

本實用新型的圓弧狀階梯面為二階階梯面，用于兩點標準校正，在調整橫波掃描速度和檢測范圍是降低了難度并有助于減少誤差。試塊體上設置的二階階梯孔可用于斜探頭的遠、近聲場測定，提高分辨力，簡化試塊設置。同時試塊體內部設置的圓弧形通孔，無論什么角度的探頭，探頭聲束的出射點均位于通孔曲率圓圓心，均可達到最高反射回波，檢測效率提高，并適用于各種斜探頭測定。

附圖說明

圖1為實施例1的二階試塊的主視結構示意圖。

在附圖中，1試塊體、2圓弧狀階梯面、2-1外側圓弧面、2-2內側圓弧面、3階梯孔、4弧形通孔、L試塊體長邊、D試塊體寬邊。

具體實施方式??????

實施例1

如附圖1所示，本實用新型所述的二階試塊包括試塊體1、設置于試塊體1左側的圓弧狀階梯面2、設置于試塊體1上的階梯孔3以及設置于試塊體1右側的弧形通孔4。所述試塊體1的長邊L長度是寬邊D長度的1.5~3倍，高度是寬邊D長度的30%~50%，所述試塊體1的寬邊D長度為100~150mm。

本實用新型所述圓弧狀階梯面2為二階階梯面，其外側圓弧面2-1的半徑與試塊體1的寬邊D長度相同，其內側圓弧面2-2的半徑為試塊體1的寬邊D長度的50%~80%；其可用于兩點標準校正，在調整橫波掃描速度和檢測范圍是降低了難度并有助于減少誤差。

本實用新型所述階梯孔3為等高階梯孔，其中心線到試塊體1左側的距離為試塊體1長邊L長度的30~50%；所述階梯孔3的內孔半徑為2~5mm，外孔半徑為5~10mm；其可用于斜探頭的遠、近聲場測定，提高分辨力，簡化試塊設置。

本實用新型所述弧形通孔4的曲率圓的圓心位于所述試塊體1的頂部，其曲率圓半徑與試塊體1的高度相同；所述弧形通孔4的曲率圓的圓心到試塊體1右側的距離為試塊體1長邊L長度的10~30%；所述弧形通孔4的橫截面為圓形，橫截面的半徑為1~3mm；無論什么角度的探頭，探頭聲束的出射點均位于通孔曲率圓圓心，均可達到最高反射回波，檢測效率提高，并適用于各種斜探頭測定。