[實用新型]一種LED多晶快速掃描檢測系統

有效

• 申請號: 201420093542.3
• 申請日: 2014-03-03
• 公開（公告）號: CN203745601U
• 公開（公告）日: 2014-07-30
• 發明（設計）人: 王繼超;劉建東;錢衛東;金欣
• 申請（專利權）人: 蘇州索拉科技有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R31/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本實用新型涉及LED檢測系統設備，特別涉及一種針對LED檢測時發生旋轉，仍能夠快速判斷LED方向，并采用高速開關切換電路對被測LED進行加電檢測的LED多晶快速掃描檢測機構。

背景技術

目前LED是朝陽產業，具有節能、環保等特點。處于大力推廣的階段，LED產量加大，對于LED測試設備的需求越來越大，測試速度高，功能全的產品更能滿足客戶的需求。

LED測試儀在檢測LED芯片時，LED芯片夾在測試基臺上首先要對芯片的旋轉位置進行判斷，判斷出位置后，如果正裝，就直接進行測試，如果旋轉了180度，就需要基臺進行旋轉180度后在進行測試，這一機械旋轉過程浪費了大量的測試時間。

圖2展示了一些封裝的LED產品的引腳圖。如圖2，當3C4CCOM或者3C4ACOM兩種LED封裝，旋轉180度后，公共端(com)翻轉到CH2.通常的LED測試儀就無法對這種封裝的LED直接測試，只能旋轉后再次測試。

實用新型內容

為了解決上述背景技術的缺陷，本實用新型提供一種LED多晶快速掃描檢測系統，LED檢測過程中，被測LED多種可能角度旋轉后，腳位變換后帶來測試引腳與基臺連接發生變化，不需要將LED芯片重新旋轉到正確位置，就能快速判斷LED的引腳位置并能正確的加電到相應LED腳位上進行測試。

為了實現上述目的，本實用新型采用以下技術方案是：

一種LED多晶快速掃描檢測系統，其包括一種加電信號的通道自動切換電路，所述通道自動切換電路由首次加電極性判斷部分，通道切換部分和重加電測試部分組成，所述首次加電記性判斷部分分為電學測試判斷和光學測試判斷兩種手段，所述通道切換部分在判斷極性后根據由FPGA發出控制信號控制通道切換。

進一步的，所述加電信號的通道自動切換電路使用高速的光隔離MOS開關，所述MOS開關的控制端連接FPGA數字控制電路，開關端連接測試電路到外部輸出加電接口。

優選的，所述光學測試判斷采用亮度指標作為極性判斷的依據，電學測試判斷極性選用電學VF極性判斷。

本實用新型的有益效果是：

1.采用了開關網絡切換加電測試通道，使得LED測試儀的功能大大的增強，LED的測試速度也大大提高；

2.高速的光隔離MOS切換開關的選用，大大的提高了開關的切換速度，使得開關建立時間最小0.2ms。

附圖說明

圖1為是開關掃描切換網絡的結構示意圖。

圖2為LED芯片正位時LED封裝形式結構示意圖。

圖3為LED芯片發生旋轉180度連接在基臺測試位時的LED封裝形式結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖對本實用新型的較佳實施例作詳細闡述，以使本實用新型的優點和特征能更易于被本領域技術人員理解，從而對本實用新型的保護范圍作出更為清楚明確的界定。

根據圖2所示的兩種三晶四腳LED，正位時，圖2的CH1連接圖1的P1接口上，圖2的CH2連接在圖1的P2接口上，圖2的CH3連接在圖1的P3接口上，圖2的COM端連接在圖1的P4接口上。這種連接是通常的正位連接測試。

LED芯片發生旋轉180度連接在基臺測試位時，圖2的CH1連接圖1的P3接口上，圖2的CH2連接在圖1的P4接口上，圖2的CH3連接在圖1的P3接口上，圖2的COM端連接在圖1的P4接口上。加電通道CH1、CH2、CH3都是分時加電導通，而COM端在測每個晶體是都是導通在地線回路上。所以把圖1的P2通道和原來的P4通道切換。相應的CH1～CH3重新排列切換分時加電，

加電等待開關切換完畢后0.5ms電路穩定建立后開始加電測試，測試分為極性判斷過程(掃描)，和正常項目測試。

以上所述，僅為本實用新型的具體實施方式之一，但本實用新型的保護范圍并不局限于此，任何熟悉本領域的技術人員在本實用新型所揭露的技術范圍內，可不經過創造性勞動想到的變化或替換，都應涵蓋在本實用新型的保護范圍之內。因此，本實用新型的保護范圍應該以權利要求書所限定的保護范圍為準。