[實(shí)用新型]一種用于磁粉探傷性能校驗(yàn)的一體式靈敏度試片有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201420090250.4 | 申請(qǐng)日: | 2014-02-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN203798640U | 公開(公告)日: | 2014-08-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李艷琴;王艷清;付守用;張博;宋力;陳東波;高國(guó)強(qiáng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 南車二七車輛有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N1/28 | 分類號(hào): | G01N1/28;G01N27/84 |
| 代理公司: | 北京紀(jì)凱知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11245 | 代理人: | 徐寧 |
| 地址: | 100072*** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 探傷 性能 校驗(yàn) 體式 靈敏度 試片 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種用于無損檢測(cè)的靈敏度試片,特別是關(guān)于一種用于磁粉探傷性能校驗(yàn)的一體式靈敏度試片。
背景技術(shù)
在采用磁粉探傷方法對(duì)工件進(jìn)行探傷檢查前,需要用靈敏度試片對(duì)探傷系統(tǒng)靈敏度進(jìn)行校驗(yàn),校驗(yàn)合格后才能對(duì)工件進(jìn)行探傷作業(yè)。目前,在磁粉無損檢測(cè)中,通常采用DT4A超高純低碳純鐵材質(zhì)的A1-15/50型靈敏度試片對(duì)探傷系統(tǒng)靈敏度進(jìn)行校驗(yàn)。如圖1所示,A1-15/50型靈敏度試片是一邊長(zhǎng)為20mm、厚度為50μm的正方體,以正方形中心為圓心設(shè)置一直徑為10mm的圓形刻槽,以圓心為交點(diǎn),在圓形刻槽內(nèi)設(shè)置一邊長(zhǎng)為6mm的十字刻槽,圓刻槽和十字刻槽的深度均為15μm。在使用靈敏度試片對(duì)探傷系統(tǒng)靈敏度進(jìn)行校驗(yàn)時(shí),首先需要將靈敏度試片帶有刻槽的一面與工件表面密貼,用膠帶紙將靈敏度試片呈“井”字形粘貼牢固,并且膠帶紙不得遮蓋靈敏度試片的刻槽處,靈敏度試片的表面不得有磕碰傷、劃痕、折皺和銹蝕等;然后對(duì)工件進(jìn)行磁化并在靈敏度試片上噴淋磁懸液;在光照強(qiáng)度、探傷材料和探傷設(shè)備等均合格的條件下,觀察靈敏度試片另一面上對(duì)應(yīng)“”形刻槽的磁痕顯示情況,當(dāng)磁痕顯示清晰完整時(shí),表示探傷系統(tǒng)靈敏度校驗(yàn)合格,允許對(duì)工件進(jìn)行探傷作業(yè);否則,表示探傷系統(tǒng)靈敏度校驗(yàn)不合格,不允許對(duì)工件進(jìn)行磁粉探傷作業(yè)。
實(shí)際上,在對(duì)工件進(jìn)行探傷作業(yè)的過程中,往往會(huì)碰到形狀各異且表面粗糙的工件。將現(xiàn)有技術(shù)中公開的靈敏度試片(例如A1-15/50型靈敏度試片)粘貼在工件表面對(duì)探傷系統(tǒng)靈敏度進(jìn)行校驗(yàn)時(shí),常存在以下問題:(1)由于現(xiàn)有靈敏度試片的體積較小、材質(zhì)較脆、厚度較薄,在從包裝中取出靈敏度試片時(shí),需要用手直接捏住靈敏度試片將其拉出來,這種操作易導(dǎo)致靈敏度試片彎折。(2)在靈敏度試片粘貼過程中,需要直接用手按住其表面,再用膠帶紙將靈敏度試片的四周呈“井”字形牢固地粘貼在工件上,由于工件表面粗糙度及形狀各異,有的粗糙不平、有的位置窄小、有的形狀變化較大等因素的存在,稍有不慎靈敏度試片就可能出現(xiàn)破損、凹凸不平或折痕等,而靈敏度試片出現(xiàn)的這種破損或折痕等一般無法修復(fù),從而導(dǎo)致靈敏度試片的報(bào)廢率較高。(3)如果靈敏度試片粘貼不當(dāng),導(dǎo)致膠帶紙遮蓋住圓刻槽和十字刻槽,則需要取下靈敏度試片并重新粘貼,在取下靈敏度試片的過程中也會(huì)導(dǎo)致其受損而不能使用。因此現(xiàn)有靈敏度試片的使用過程操作繁瑣、費(fèi)時(shí)費(fèi)力且一般需要兩個(gè)人配合才能完成,從而給現(xiàn)場(chǎng)探傷工作人員帶來很大麻煩。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)上述問題,本實(shí)用新型的目的是提供一種使用和保存方便且可重復(fù)使用的用于磁粉探傷性能校驗(yàn)的一體式靈敏度試片。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型采取以下技術(shù)方案:一種用于磁粉探傷性能校驗(yàn)的一體式靈敏度試片,它包括一表面為正方形的靈敏度試片,以所述正方形表面的中心為圓心,在所述正方形表面內(nèi)設(shè)置有一圓形刻槽,以所述圓形刻槽的圓心為交點(diǎn),在所述圓形刻槽內(nèi)設(shè)置一十字刻槽;其特征在于:在所述靈敏度試片的十字刻槽所在面的背面設(shè)置一基體,在所述靈敏度試片的十字刻槽所在面設(shè)置粘貼膠條;所述靈敏度試片和粘貼膠條均以所述基體中心為基點(diǎn)固定在所述基體上,所述靈敏度試片、基體和粘貼膠條形成一體式結(jié)構(gòu)。
所述基體設(shè)置為“井”字形,且“井”字形的四角均設(shè)置有一曲面凸起部,在所述基體的中央開設(shè)第一正方形孔。
所述第一正方形孔的邊長(zhǎng)比所述靈敏度試片上所設(shè)置圓形刻槽的直徑大3mm~4mm。
所述基體采用塑料膠帶、紙膠帶、聚酯膠帶和無紡布膠帶中的一種,且所述基體的一側(cè)面覆有粘膠。
所述粘貼膠條設(shè)置成與所述基體相同的形狀,在所述粘貼膠條的中央開設(shè)第二正方形孔。
所述第二正方形孔的邊長(zhǎng)比所述第一正方形孔的邊長(zhǎng)大2mm~4mm。
所述粘貼膠條設(shè)置1~2層,各層所述粘貼膠條均采用單面帶膠的塑料膠條,且各層所述粘貼膠條的形狀相同,各層所述粘貼膠條的大小依次相差1mm以上。
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