[實用新型]薄片類介質厚度檢測機構及薄片類介質處理裝置

有效

• 申請號: 201420084165.7
• 申請日: 2014-02-26
• 公開（公告）號: CN203733194U
• 公開（公告）日: 2014-07-23
• 發明（設計）人: 鄭磊;高濤;孫路;姜天信
• 申請（專利權）人: 山東新北洋信息技術股份有限公司
• 主分類號: G07D7/16
• 分類號: G07D7/16
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 吳貴明;張永明

技術領域

本實用新型涉及一種薄片類介質厚度檢測機構以及使用該薄片類介質厚度檢測機構的薄片類介質處理裝置。

背景技術

自動檢票機、紙幣清分機等薄片類介質處理裝置通常需要設置厚度檢測機構，用于檢測車票、紙幣等薄片類介質（以下簡稱介質）是否出現重張以及介質的表面是否粘連有膠帶等問題。當檢測到的介質的厚度超過預定的單張介質厚度值時，系統判斷出現重張、粘連等錯誤。

中國專利CN201210356761.1提供了一種用于檢測介質厚度的檢測機構，如圖1a、圖1b所示，該檢測機構包括固定架17'、基準軸21'、檢測軸13'，以及沿檢測軸13'軸向排列的多個檢測組件，其中，基準軸21'和檢測軸13'相對平行地設置在固定架17'上，在基準軸21'上固定套接有基準輥12'；檢測組件包括基座14'、檢測輥16'、彈片15'、磁鐵18'，以及霍爾傳感器19'，其中，基座14'套接在檢測軸13'上且可繞檢測軸13'自由旋轉，檢測輥16'樞接在基座14'上，彈片15'固定在固定架17'上，且向基準輥12'方向偏壓基座14'，磁鐵18'設置在彈片15'的自由端的背向檢測輥16'一側，霍爾傳感器19'對應地設置在固定架17'上，與磁鐵18'配合,當介質20'通過基準輥12'與檢測輥16'之間時，基座14'克服彈片15'的彈性力繞檢測軸13'轉動，彈片15'的自由端向上方抬起而移位，使磁鐵18'與霍爾傳感器19'之間的距離發生變化，霍爾傳感器19'的輸出信號發生變化，據此可以判斷由基準輥12'與檢測輥16'之間通過的介質20'是否為單張介質。

這種薄片類介質厚度檢測機構的問題在于，由于介質在重張或粘連時厚度變化很小，一般只有0.03mm-0.12mm左右，檢測輥16'必須與基準輥12'平行才能準確地檢測到介質的厚度變化，因此為了保證檢測輥16'平行于檢測輥12'，對基座14'的加工精度要求極高，這不僅造成基座的加工成本較高，而且，一旦基座的加工精度不滿足使用要求，還會引起介質厚度檢測機構的檢測結果不可靠的問題。

實用新型內容

本實用新型目的在于提供一種對零件的加工精度要求低但檢測結果可靠的薄片類介質厚度檢測機構，本實用新型的目的還在于提供一種使用該薄片類介質厚度檢測機構的薄片類介質處理裝置。

為此，本實用新型提供了一種薄片類介質厚度檢測機構，包括機架、基準輥、與基準輥平行間隔設置的檢測軸、以及沿檢測軸的軸向排列的至少一個檢測組件，檢測組件包括檢測輥、傳感器和感應件，檢測組件還包括第一基座和第二基座，其中，第一基座與檢測軸樞接，檢測輥設置在第二基座上，第二基座位置可調地設置在第一基座上以使檢測輥與基準輥平行。

進一步地，上述第二基座樞接于第一基座上，其中，第二基座的樞轉軸線與檢測軸的軸線垂直，以使第二基座相對于第一基座轉動調節時使檢測輥平行于基準輥。

進一步地，上述第一基座包括呈L型設置的豎板部和頂板部，其中，豎板部上設有與檢測軸套接的軸套部、以及用于與第二基座樞接的樞接部，其中，軸套部的軸線與樞接部的軸線垂直。

進一步地，上述樞接部為定位柱，第二基座上設有定位孔，定位柱和定位孔插接配合，使第二基座相對于第一基座能夠轉動調節。

進一步地，上述豎板部上還設有以樞接部的軸心為圓心的第一圓弧槽和第二圓弧槽，第二基座與貫穿第一圓弧槽和第二圓弧槽的緊固件連接，以使第二基座相對于第一基座位置固定。

進一步地，上述第二基座包括定位板部和在定位板部的一側延伸的臂架部，定位孔設置在定位板部上，檢測輥設置在臂架部的支撐軸上。

進一步地，上述傳感器或感應件距離檢測軸的力臂長度大于檢測輥距離檢測軸的力臂長度。

進一步地，上述沿介質輸送方向，檢測輥的軸線位于檢測軸的軸線的下游或上游。

進一步地，上述薄片類介質厚度檢測機構還包括彈性元件，機架包括相對平行且間隔設置的左側板和右側板、以及連接在兩者之間的頂板，其中，第一基座位于頂板的下方，彈性元件設置在頂板與第一基座之間，傳感器和感應件二者中的一個設置在頂板上，二者中的另一個對應地設置在第一基座上。

根據本實用新型的另一方面，提供了一種薄片類介質處理裝置，包括紙幣輸送通道、沿紙幣輸送通道依次排布的送幣機構、紙幣厚度檢測機構、紙幣鑒別機構，以及與紙幣輸送通道相連的至少一個出幣口，紙幣厚度檢測機構為根據上面所描述的薄片類介質厚度檢測機構。