[實用新型]一種蒸發光散射檢測器有效
| 申請號： | 201420081746.5 | 申請日： | 2014-02-23 |
| 公開（公告）號： | CN203929635U | 公開（公告）日： | 2014-11-05 |
| 發明（設計）人： | 李昭;何杰;徐彬;魯湛;何萍 | 申請（專利權）人： | 上海浩杰生物科技有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/49 | 分類號： | G01N21/49 |
| 代理公司： | 上海晨皓知識產權代理事務所(普通合伙) 31260 | 代理人： | 成麗杰 |
| 地址： | 201414 上海市奉賢*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 蒸發 散射 檢測器 | ||
1.一種蒸發光散射檢測器，所述蒸發光散射檢測器包括主機，所述主機包括:霧化室、漂移管、光學檢測室及排氣管，所述霧化室、所述漂移管、所述光學檢測室及所述排氣管順序相連，其特征在于，該蒸發光散射檢測器還包括：
高溫氣體廢液回收系統,所述高溫氣體廢液回收系統包括：半導體制冷室，冷凝管及廢液回收系統；所述半導體制冷室的一端與所述主機的排氣管相連，所述半導體制冷室的另一端與所述冷凝管的一端相連，所述冷凝管的另一端與所述廢液回收系統相連。
2.根據權利要求1所述的蒸發光散射檢測器，其特征在于，所述高溫氣體廢液回收系統還包括：濾液片，所述濾液片串接在所述半導體制冷室與所述冷凝管之間。
3.根據權利要求1所述的蒸發光散射檢測器，其特征在于，所述半導體制冷室包括半導體層、冷端絕緣陶瓷片、熱端絕緣陶瓷片和金屬導體；
所述冷端絕緣陶瓷片和所述熱端絕緣陶瓷片中間連接有所述半導體層，所述冷端絕緣陶瓷片與所述熱端絕緣陶瓷片分別通過所述金屬導體連接所述半導體層；
所述半導體層包括N型半導體和P型半導體。
4.根據權利要求1所述的蒸發光散射檢測器，其特征在于，所述冷凝 管的形狀為盤旋環繞形狀。
5.根據權利要求1所述的蒸發光散射檢測器，其特征在于，所述主機還包括后面板，所述后面板上設有一個排氣口，所述光學檢測室與所述排氣管通過所述排氣口相連。
6.根據權利要求1所述的蒸發光散射檢測器，其特征在于，所述高溫氣體廢液回收系統中還包括溫控電路，所述溫控電路與所述半導體制冷室相連。
7.根據權利要求6所述的蒸發光散射檢測器，其特征在于，所述溫控電路和所述主機電連接。
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