[實(shí)用新型]電介物質(zhì)介電系數(shù)微波測量探頭及由其構(gòu)成的測量裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201420074952.3
• 申請日: 2014-02-21
• 公開（公告）號: CN203732632U
• 公開（公告）日: 2014-07-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 黃卡瑪;陳倩;楊陽;劉長軍;閆麗萍;趙翔;陳星;郭慶功;楊曉慶
• 申請（專利權(quán)）人: 四川大學(xué)
• 主分類號: G01R27/26
• 分類號: G01R27/26
• 代理公司: 成都科海專利事務(wù)有限責(zé)任公司 51202
• 代理人: 呂建平

1.一種電介物質(zhì)介電系數(shù)微波測量探頭，包括同軸結(jié)構(gòu)的外導(dǎo)體（4）、內(nèi)導(dǎo)體（2）及位于內(nèi)外導(dǎo)體之間的絕緣介質(zhì)（3），其特征在于，探頭插入待測介電系數(shù)物質(zhì)的測試終端為斜切口結(jié)構(gòu)，另一端設(shè)計(jì)有使探頭接入測量系統(tǒng)的同軸接口。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電介物質(zhì)介電系數(shù)微波測量探頭，其特征在于，所述絕緣介質(zhì)為空氣或固體絕緣介質(zhì)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的電介物質(zhì)介電系數(shù)微波測量探頭，其特征在于，所述絕緣介質(zhì)為聚四氟乙烯。

4.根據(jù)權(quán)利要求1或2或3所述的電介物質(zhì)介電系數(shù)微波測量探頭，其特征在于，所述斜切口的斜切角為20°～60°。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電介物質(zhì)介電系數(shù)微波測量探頭，其特征在于，所述外導(dǎo)體的外柱面為由不同直徑柱面構(gòu)成的階梯結(jié)構(gòu)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的電介物質(zhì)介電系數(shù)微波測量探頭，其特征在于，所述使探頭接入測量系統(tǒng)的同軸接口為標(biāo)準(zhǔn)的“N”型接口。

7.權(quán)利要求1至6之一所述電介物質(zhì)介電系數(shù)微波測量探頭構(gòu)成的測量裝置，其特征在于，包括所述探頭（5）和盛裝待測介電系數(shù)物質(zhì)的密閉金屬容器，所述密閉金屬容器由容器罐體（7）和容器罐蓋（6）構(gòu)成，容器罐蓋上設(shè)計(jì)有與探頭外導(dǎo)體相匹配的插入孔。

8.權(quán)利要求7所述用于物質(zhì)介電系數(shù)微波測量裝置，其特征在于，所述插入孔位于容器罐蓋的中央。

9.權(quán)利要求8所述用于微波測量電介物質(zhì)介電系數(shù)測量裝置，其特征在于，位于容器罐蓋中央的插入孔直徑介于探頭外導(dǎo)體構(gòu)成階梯外柱面的兩外徑之間。

10.權(quán)利要求7或8或9所述用于微波測量物質(zhì)介電系數(shù)測量裝置，其特征在于，所述容器罐體和容器罐蓋通過螺紋蓋配聯(lián)接。