[實用新型]一種配對晶體電光Q開關的測試支架

有效

• 申請號: 201420058527.5
• 申請日: 2014-02-07
• 公開（公告）號: CN203800374U
• 公開（公告）日: 2014-08-27
• 發明（設計）人: 趙海泉;賈玉昌;王世武
• 申請（專利權）人: 青島海泰光電技術有限公司
• 主分類號: H01S3/127
• 分類號: H01S3/127
• 代理公司: 北京聯瑞聯豐知識產權代理事務所(普通合伙) 11411
• 代理人: 鄭自群

技術領域

本實用新型涉及激光元器件的脈沖激光調Q器件領域，特別是指一種配對晶體電光Q開關的測試支架。?

背景技術

電光Q開關是激光器中非常重要的一個組成部分，電光調Q技術是利用在晶體上施加電壓改變晶體的折射率，從而達到改變通過晶體激光的偏振態，與偏振片一起使用可以實現對激光的開關作用，利用了電光Q開關的脈沖激光，脈寬窄，峰值功率高。當前加工電光Q開關的晶體材料，有DKDP(磷酸二氘鉀)，LN(鈮酸鋰)，RTP(磷酸氧鈦銣)，KTP(磷酸氧鈦鉀)等。而針對RTP，KTP類雙軸晶體制作的電光Q開關，需兩片晶體配對使用，以便抵消單片晶體產生的對激光的自然雙折射，通用電極封裝形式如圖1所示，1、2為配對使用的第一晶體、第二晶體，3為第一電極、4為第二電極，此兩部分電極在電路中并聯，5為兩晶體的第三電極，起到固定開關，施加電壓的作用，電極5的兩側底角為45°的燕尾形，6為各部分電極引出的導線，在電極的底面設有螺紋孔，用于固定配對晶體電光Q開關，晶體與電極之間通過導電膠進行粘接。此種形式的封裝結構，電極和導線接頭部分都裸露在外，而且電光Q開關在測試和使用過程中，施加的電壓都在1kV以上，所以對測試人員的安全性影響很大。?

實用新型內容

本實用新型提出一種配對晶體電光Q開關的測試支架，解決了現有技術中由于電光Q開關封裝簡單、電極外露而引起對測試人員安全性差的問題。?

本實用新型的技術方案是這樣實現的：一種配對晶體電光Q開關的測試支架，包括支架本體，所述支架本體設有頂端面、兩側端面、底端面，所述支架本體內設有空腔，便于放置電光Q開關，所述頂端面上設有圓孔和2個導線插孔，所述圓孔、導線插孔分別位于所述頂端面的中心處、邊緣處，所述支架本?體的底端面上設有凹槽，所述凹槽的中部設有通孔，緊鄰所述導線插孔的側端面上固定有2個標準電極。?

作為優選的技術方案，所述凹槽的截面呈燕尾形，且所述凹槽的側邊與底邊呈45°夾角。?

作為優選的技術方案，緊鄰所述導線插孔的所述側端面上設有便于標準電極旋入的螺紋孔。?

本實用新型同背景技術相比所產生的有益效果：?

測試支架內部中空，電光Q開關放置在支架內部，這種四周封閉設計，避免了在測試、調節的過程中，測試人員與裸露電極的誤接觸，導線由圓孔引出，放入導線插孔內，并固定，避免了測試人員的誤接觸，避免了在調節過程中，由于導線不固定引起的晃動、接觸導致的短路。?

附圖說明

為了更清楚地說明本實用新型實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。?

圖1為配對晶體電光Q開關的結構示意圖；?

圖2為本實用新型一種配對晶體電光Q開關的測試支架結構示意圖。?

圖中：7-支架本體；8-凹槽；9-圓孔；10-第一導線插孔；11-第二導線插孔；12-第一標準電極；13-第二標準電極；14-通孔。?

具體實施方式

下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅僅是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例，本領域普通技術人?員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。?

如圖2所示，一種配對晶體電光Q開關的測試支架，包括支架本體7，支架本體7采用絕緣材料制成，如聚甲醛等，支架本體7設有頂端面、兩側端面、底端面，支架本體7內設有空腔，便于放置電光Q開關，頂端面上設有圓孔9和2個導線插孔，圓孔9、導線插孔分別位于頂端面的中心處、邊緣處，圓孔9用于引出導線，第一導線插孔為圖中10，第二導線插孔為圖中11，支架本體7的底端面上設有凹槽8，凹槽8的中部設有通孔14，通孔14用于將電光Q開關固定在測試支架上，緊鄰導線插孔的側端面上固定有2個標準電極，第一標準電極為圖中12，第一標準電極為圖中13，凹槽8的截面呈燕尾形，且凹槽的側邊與底邊呈45°夾角，緊鄰所述導線插孔的側端面上設有便于標準電極旋入的螺紋孔。?