[實用新型]一種非接觸式錐光全息測量系統

有效

• 申請號: 201420057297.0
• 申請日: 2014-01-29
• 公開（公告）號: CN203672322U
• 公開（公告）日: 2014-06-25
• 發明（設計）人: 溫亞楠;王添;田維堅;王金城
• 申請（專利權）人: 青島市光電工程技術研究院
• 主分類號: G01B11/00
• 分類號: G01B11/00;G01B11/02;G01B11/24
• 代理公司: 青島海昊知識產權事務所有限公司 37201
• 代理人: 曾慶國

技術領域

本實用新型屬于光電檢測技術領域，具體涉及一種非接觸式錐光全息測量系統。

背景技術

目前，隨著工業測量領域的不斷擴展以及對測量精度和測量速度的要求不斷提高，傳統的接觸式測量已經無法滿足工業界的需求。而非接觸式測量由于其良好的精確性和實時性，成為測量領域的熱點。在光學方面，非接觸式測量方法主要有雙目、多目視覺測量、三角法測量、激光掃描測量和數字全息測量等等。錐光全息法是數字全息測量方法中的一種，它是以晶體光學為基礎的偏振光干涉測量方法，其原理是：當一束光聚焦到被測物表面一點時，該點向各個方向散射的光以錐光束的形態返回，返回光透過雙折射晶體分裂成尋常光與非尋常光分量，這兩個分量發生干涉形成全息圖，根據全息圖的干涉條紋獲取被測點的位置信息。獲取位置信息的方法有光強-高度法和相位-高度法兩種，即通過全息圖中包含的光強信息或相位信息來獲得被測高度。這樣，通過對不同點的測量從而完成對被測物表面形貌及距離的測量。

相比于一般全息法，錐光全息法對光源的相干性要求較低，具備較強的抗干擾能力和環境適應性。然而，目前國內外對錐光全息系統的測量方法幾乎都是利用全息圖的光強信息來獲取被測量，如國際專利號US8129703，主要采用多幅圖相移技術，通過調節晶體前后的偏振片的偏振軸與波片光軸的夾角實現相移，進而改變系統的光強傳遞函數，然后根據多幅相移全息圖的光強信息來獲得被測表面的高度信息；但是這種光強-高度法的缺點是對光源的波動較為敏感，且存在移相誤差。

發明內容

本實用新型所要解決的技術問題是針對現有技術的不足，提供一種基于相位-高度法的非接觸式錐光全息測量系統，該系統記錄的錐光全息圖中不僅包含光強信息，而且也包含相位信息，隨著被測高度的變化，測得圖像上的條紋數量及條紋寬度也發生變化，即全息圖上的條紋相位信息隨著被測量的變化而變化，從而通過對不同點的測量完成對被測物表面形貌及距離的測量。

基于上述見解，本實用新型是這樣實現的：

一種非接觸式錐光全息測量系統，包括有發射激光束的激光系統、將經過擴束準直系統的激光光束匯聚到被測物一點的光反射系統、收集返回光的光接收系統和偏振分光棱鏡，其特征在于，所述的光反射系統包含有沿激光束前進線路上排布的光闌、λ/4玻片和物鏡；光接收系統在光的傳播路線上有雙折射晶體、偏振片和光學照相裝置；所述的光闌和雙折射晶體位于偏振分光棱鏡的兩側。

所述測量系統還包括一個與光學照相裝置相連的計算機。

上述的激光系統位于擴束準直系統的上方，包括激光光源和激光光源下方的λ/2玻片；所述的激光光源為帶溫控設備的激光光源。

上述的擴束準直系統由擴束器和準直透鏡組成。

上述的光學照相裝置是以電荷耦合器件作為光敏感器和光電轉換器的高分辨率CCD。

與現有的光強-高度法技術相比，本實用新型裝置不需要記錄多幅相移全息圖，系統中只需要采用單偏振片結構，簡化了光學系統，更側重于通過后期的相位信息提取來恢復高度信息；本實用新型設計合理，結構簡單緊湊，實用于尺寸為10¹～10²mm的常見工業零部件表面高度信息的測量；能夠綜合利用數字圖像處理技術和光學全息技術，進一步提高產品的測量精度。

附圖說明

圖1：本實用新型整體結構示意圖，箭頭為光路。

其中：1、計算機?2、激光光源?3、λ/2玻片?4、擴束準直系統?41、擴束器?42、準直透鏡?5、偏振分光棱鏡?6、光闌?7、λ/4玻片?8、物鏡?9、被測物?10、雙折射晶體?11、偏振片?12、光學照相裝置。

具體實施方式

下面結合實施例和附圖對本實用新型基于相位-高度法的高精度非接觸式錐光全息測量系統做進一步詳細的說明。

如圖1所示，一種基于相位-高度法的高精度非接觸式錐光全息測量系統，包括有發射激光束的激光系統、將經過擴束準直系統4的激光光束匯聚到被測物9一點的光反射系統、收集返回光的光接收系統和偏振分光棱鏡5。所述的光反射系統包含有沿激光束前進線路上排布的光闌6、λ/4玻片7和物鏡8；光接收系統在光的傳播路線上有雙折射晶體10、偏振片11和光學照相裝置12。