[實用新型]一種基于正交偏振的高反光金屬表面視覺檢測系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201420024706.7 | 申請日: | 2014-01-15 |
| 公開(公告)號: | CN203643361U | 公開(公告)日: | 2014-06-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 趙治軍;袁雷;曹曉娜;劉長鶴;劉鴻鵬 | 申請(專利權(quán))人: | 唐山英萊科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/95 | 分類號: | G01N21/95;G02B27/28 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 063000 河北省唐山*** | 國省代碼: | 河北;13 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 基于 正交 偏振 反光 金屬表面 視覺 檢測 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及高反光材料表面檢測領(lǐng)域,具體為一種基于正交偏振的高反光金屬表面視覺檢測系統(tǒng)。
背景技術(shù)
高反光板材,如鋁板、不銹鋼板的表面視覺檢測,如缺陷、劃痕、縫隙等檢測在自動化領(lǐng)域中有大量的應(yīng)用,其主要的特點是表面反射系數(shù)高,目前在視覺檢測中若鏡面反射光直接進入CCD相機時會產(chǎn)生高光現(xiàn)象,導(dǎo)致CCD相機芯片的飽和,對成像質(zhì)量產(chǎn)生較大的干擾。因此,有必要研究一種能夠抑制金屬表面高光反射的視覺檢測系統(tǒng)。
實用新型內(nèi)容
針對上述現(xiàn)有技術(shù)的缺點,本實用新型提供一種能夠抑制金屬表面高光反射的基于正交偏振的視覺檢測系統(tǒng)。
本實用新型解決上述技術(shù)問題采用以下技術(shù)方案:一種基于正交偏振的高反光金屬表面視覺檢測系統(tǒng),包括成像裝置和與其連接的圖像控制器,在所述成像裝置一側(cè)設(shè)置光源發(fā)生裝置,所述光源發(fā)生裝置可與豎直方向旋轉(zhuǎn)成一定角度,在所述光源發(fā)生裝置的出光口處設(shè)有起偏器,在成像裝置入光口豎直下方設(shè)置有與所述起偏器偏振方向不同的檢偏器,所述光源發(fā)生裝置射出的光線先經(jīng)過所述起偏器后在被檢測金屬表面反射,再通過所述檢偏器進入所述成像裝置成像,成像裝置將成出的像傳送給所述圖像控制器,圖像控制器將收到的像處理后得到高清的高反光金屬表面檢測圖像。
作為優(yōu)選,所述成像裝置為CCD相機或CMOS相機。
作為優(yōu)選,所述起偏器偏振方向與所述檢偏器偏振方向垂直。
作為優(yōu)選,所述光源發(fā)生裝置可與豎直方向旋轉(zhuǎn)成的銳角角度>85度。
進一步地,所述光源發(fā)生裝置可與豎直方向旋轉(zhuǎn)成的角度為90度。
作為優(yōu)選,所述光源為自然光。
本實用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比具有如下優(yōu)點:采用起偏器對照明光束進行起偏,使得照明光束為偏振光,使得金屬表面的鏡面反射光也為偏振光,成像裝置前設(shè)置檢偏器,對金屬表面的偏振光進行過濾,消除和檢偏器方向不一致的金屬鏡面反射光,避免了鏡面反射光直接進入成像裝置時產(chǎn)生高光現(xiàn)象對成像質(zhì)量產(chǎn)生較大的干擾;起偏器和檢偏器垂直正交放置,使得金屬表面的鏡面反射光的偏振方向和檢偏器方向垂直,最大限度地消除鏡面反射光;當入射光與豎直方向的銳角角度>85度時,最好為90度時,可以實現(xiàn)較好地抑制鏡面反射光,此時的鏡面反射光也接近線偏振光,對成像質(zhì)量不會產(chǎn)生較大的干擾,這樣可以獲得高清的高反光金屬表面檢測圖像。
附圖說明
圖1是本實用新型的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
為了使本實用新型實現(xiàn)的技術(shù)手段、創(chuàng)作特征、達成目的與功效易于明白了解,下面結(jié)合具體圖示及實施例,進一步闡述本實用新型。應(yīng)當理解,此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型,并不用于限定本實用新型。
參考圖1,本實用新型實施例提供一種基于正交偏振的高反光金屬表面視覺檢測系統(tǒng),包括成像裝置1和與其連接的圖像控制器4,所述成像裝置為CCD相機或CMOS相機,在所述成像裝置1一側(cè)設(shè)置光源發(fā)生裝置2,所述光源為自然光,所述光源發(fā)生裝置2可與豎直方向旋轉(zhuǎn)成一定角度,所述光源發(fā)生裝置2可與豎直方向旋轉(zhuǎn)成的銳角角度α>85度,優(yōu)選角度為90度,在所述光源發(fā)生裝置2的出光口處設(shè)有起偏器31,在成像裝置1入光口豎直下方設(shè)置有與所述起偏器31偏振方向不同的檢偏器32,所述光源發(fā)生裝置2射出的自然光束01先經(jīng)所述起偏器31在被檢測金屬5表面反射,反射光線02再通過所述檢偏器32,偏振光03再進入所述成像裝置1成像,成像裝置1將成出的像傳送給所述圖像控制器4,圖像控制器4將收到的像處理后得到高清的高反光金屬表面檢測圖像。
作為優(yōu)選,所述起偏器偏振方向與所述檢偏器偏振方向垂直。
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