[發(fā)明專利]液晶滴下量獲取方法和液晶滴下設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201410856637.0
• 申請(qǐng)日: 2014-12-31
• 公開（公告）號(hào): CN104503154B
• 公開（公告）日: 2018-03-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 胡德瑩
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G02F1/1341
• 分類號(hào): G02F1/1341
• 代理公司: 北京聿宏知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11372
• 代理人: 朱繪,張文娟

1.一種液晶滴下量獲取方法，其特征在于，所述方法包括：

從液晶盒中選取第一預(yù)設(shè)數(shù)量的膜柱，得到第一膜柱集；

獲取所述第一膜柱集中各個(gè)膜柱的原始高度，并計(jì)算得到所述第一膜柱集的平均原始高度；

從所述液晶盒中選取第二預(yù)設(shè)數(shù)量的主膜柱，得到第二主膜柱集；

分別獲取所述第二主膜柱集中各個(gè)主膜柱的原始高度、液晶盒厚度、第一材料層厚度和第二材料層厚度，計(jì)算得到所述液晶盒的膜柱壓縮率；

獲取所述液晶盒的底面積、液晶盒中膜柱的總體積，并結(jié)合所述第一膜柱集的平均原始高度和膜柱壓縮率確定所述液晶盒所需要的液晶滴下量，

其中，計(jì)算得到的膜柱壓縮率還用于判斷出所述液晶盒是否滿足工藝要求。

2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，計(jì)算液晶盒的膜柱壓縮率的步驟包括：

根據(jù)所述第二主膜柱集中各個(gè)主膜柱的原始高度，計(jì)算所述第二主膜柱集的平均原始高度；

根據(jù)所述液晶盒厚度、第一材料層厚度、第二材料層厚度和所述第二主膜柱集的平均原始高度，計(jì)算膜柱壓縮量；

根據(jù)所述膜柱壓縮量和第二主膜柱集的平均原始高度，計(jì)算所述膜柱壓縮率。

3.如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，根據(jù)如下表達(dá)式計(jì)算所述膜柱壓縮率：

a=h-(d-dc-da)h·100%]]>

其中，a表示膜柱壓縮率，d表示液晶盒厚度，d_c和d_a分別表示第一材料層厚度和第二材料層厚度，h表示第二主膜柱集的平均原始高度。

4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，獲取液晶盒中膜柱的總體積的步驟包括：

從所述液晶盒中選取預(yù)設(shè)位置處的主膜柱和輔膜柱，得到第一主膜柱和第一輔膜柱；

分別獲取所述第一主膜柱和第一輔膜柱的原始高度、上表面半徑和下表面半徑，計(jì)算得到所述第一主膜柱的體積和第一輔膜柱的體積；

分別獲取所述液晶盒中主膜柱和輔膜柱的分布密度，結(jié)合所述液晶盒的底面積、第一主膜柱的體積和第一輔膜柱的體積，分別確定液晶盒中主膜柱的總體積和輔膜柱的總體積，進(jìn)而得到所述液晶盒中膜柱的總體積。