[發明專利]氣相物質分析裝置和氣相導入裝置

有效

• 申請號: 201410855715.5
• 申請日: 2014-12-31
• 公開（公告）號: CN104515824A
• 公開（公告）日: 2015-04-15
• 發明（設計）人: 張清軍;李元景;陳志強;趙自然;劉以農;劉耀紅;馬秋峰;何會紹;朱偉平;鄒湘
• 申請（專利權）人: 同方威視技術股份有限公司
• 主分類號: G01N30/88
• 分類號: G01N30/88;G01N30/16
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 吳敬蓮

1.一種氣相物質分析裝置，包括：

氣相物質導入裝置，包括：集束毛細管柱，由多個毛細管柱構成，具有入口端和出口端；和，溫控系統，與集束毛細管柱結合用于控制集束毛細管柱內的溫度；

離子遷移譜分析裝置，用于分析氣相物質導入裝置導入的氣相物質，所述離子遷移譜分析裝置包括用于樣品分子與反應離子發生反應的反應腔，反應腔具有用于導入樣品的樣品導入口，其特征在于，

集束毛細管柱的出口端通過離子遷移譜分析裝置的樣品導入口直接插入離子遷移譜分析裝置的反應腔內。

2.根據權利要求1所述的氣相物質分析裝置，其特征在于，

氣相物質分析裝置還包括隔熱定位裝置，配置成能夠在氣相物質導入裝置和離子遷移譜分析裝置之間連接氣相物質導入裝置和離子遷移譜分析裝置，并且隔斷氣相物質導入裝置和離子遷移譜分析裝置之間的熱傳遞，以便氣相物質分析裝置和離子遷移譜分析裝置的分別的獨立溫度控制。

3.根據權利要求2所述的氣相物質分析裝置，其特征在于，

隔熱定位裝置包括與氣相物質導入裝置的出口端連接的第一連接端和與離子遷移譜分析裝置連接的第二連接端，第一連接端密封集束毛細管柱的一個端部，第二連接端的形狀與離子遷移分析裝置的反應腔的開口的形狀互補。

4.根據權利要求2所述的氣相物質分析裝置，其特征在于，隔熱定位裝置由耐高溫并且絕熱的非金屬材料形成。

5.根據權利要求1所述的氣相物質分析裝置，其特征在于，

毛細管柱由非金屬材料形成。

6.根據權利要求1所述的氣相物質分析裝置，其特征在于，

毛細管柱是直徑40μm-100μm的毛細管柱。

7.根據權利要求1所述的氣相物質分析裝置，其特征在于，

氣相物質導入裝置還包括配置成包圍并保護集束毛細管柱的金屬圓套，集束毛細管柱的金屬圓套的長度配置成當集束毛細管柱插入到離子遷移譜分析裝置的腔內時金屬圓套不進入離子遷移譜分析裝置的樣品導入口。

8.根據權利要求1所述的氣相物質分析裝置，其特征在于，

氣相物質導入裝置的溫控系統包括熱導套，熱導套配置成直接接觸包圍集束毛細管柱的金屬圓套，以及嵌入在熱導套內的至少一個加熱器和至少一個傳感器。

9.根據權利要求8所述的氣相物質分析裝置，其特征在于，

熱導套包括熱導套外周上的多個凸起，在多個凸起之間能夠形成用于布置流體通道或流過流體的空間。

10.根據權利要求8所述的氣相物質分析裝置，其特征在于，

熱媒流體管道蜿蜒穿過多個凸起的方式或以螺旋地圍繞熱導套的方式穿過多個凸起之間，以便熱媒流體管道與熱導套之間熱傳遞。

11.根據權利要求1所述的氣相物質分析裝置，其特征在于，

氣相物質導入裝置還包括外殼，外殼包圍溫控系統。

12.根據權利要求11所述的氣相物質分析裝置，其特征在于，

氣相物質導入裝置還包括保溫層，保溫層布置在外殼和熱導套之間。

13.根據權利要求11所述的氣相物質分析裝置，其特征在于，

保溫層通過熱導套上的多個凸起支撐。

14.根據權利要求1所述的氣相物質分析裝置，其特征在于，

離子遷移譜分析裝置為包括正離子遷移管和負離子遷移管的正、負雙模式離子遷移管，離子遷移譜分析裝置包括電離區，配置成將被通入的載氣電離成反應離子并將反應離子送入反應區，其中電離區設置在離子遷移譜分析裝置的與集束毛細管柱的出口端的相對的一側。

15.一種用于氣相物質分析裝置的氣相物質導入裝置，包括：

集束毛細管柱，包括非金屬材料形成的多個毛細管柱，具有入口端和出口端；和，

溫控系統，與集束毛細管柱結合用于控制集束毛細管柱內的溫度，溫控系統包括熱導套，其特征在于，

熱導套包括熱導套外周上的多個凸起，在多個凸起之間能夠形成用于布置流體通道或流過流體的空間。