[發明專利]發光模塊及使用該發光模塊的視覺檢驗系統

在審

• 申請號: 201410853967.4
• 申請日: 2014-12-31
• 公開（公告）號: CN104819405A
• 公開（公告）日: 2015-08-05
• 發明（設計）人: 田善一;李昞勛;吉暎培
• 申請（專利權）人: 三星電機株式會社
• 主分類號: F21S8/00
• 分類號: F21S8/00;F21V7/10;F21V7/22;F21V19/00;F21V33/00;G01N21/88;F21Y101/02
• 代理公司: 北京潤平知識產權代理有限公司 11283
• 代理人: 孫向民;肖冰濱

相關申請的交叉引用

本申請要求2014年2月3日遞交于韓國知識產權局的韓國專利申請No.10-2014-0011995的權益，該韓國專利所公開的內容通過引用被整體合并于本申請中。

背景技術

本公開涉及發光模塊及使用該發光模塊的視覺檢驗系統，尤其涉及能夠在待檢驗的目標對象的整個檢驗表面均勻地照射光以使得清晰影像被獲得的發光模塊，以及使用該發光模塊的視覺檢驗系統。

一般地，使用貼片機將諸如半導體芯片或者片式元件的電子元件安裝在印刷電路板上，以及在其上安裝有此類電子元件的板根據其被測試的電性能可以被分為有效產品以及缺陷產品，使得缺陷產品被廢棄，并且只使用有效產品(功能板)。

一般地，獲得電子元件的視覺影像以對其進行檢測的方法已經被用于確定電子元件是有效產品還是缺陷產品。

但是，根據相關技術，檢驗系統中采用的發光模塊可能具有朝向電子元件的特定區域的方向性，由于光可能不會被均勻照射在電子元件的整個表面，使得可能具有缺點。

因此，增加了有效產品被歸類為有缺陷產品的過檢的發生，或者增加了缺陷產品被歸類為有效產品的漏檢的發生。

由于這種漏檢或者過檢現象的發生的增加導致這種板的制造業中生產力退化并且增加了成本，迫切需要有效的發光模塊至檢驗系統的引入。

[相關技術文件]

(專利文件1)韓國專利公開No.2004-0089799

發明內容

本公開的一方面可以提供一種能夠在待檢驗對象的電子元件的表面均勻地照射光的發光模塊，以及使用該發光模塊的視覺系統。

根據本公開的一方面，發光模塊可以包括：外殼，該外殼的內表面在外殼內被形成圓頂形狀；以及發光部件，該發光部件被安置在外殼中并且發射光，該光由外殼的內表面反射以使檢驗目標隨后被間接地照射，其中所述發光部件包括發射具有紫外光或紅外光區域內的波長的光的至少一個光源。

所述發光部件可以向所述內表面發射光以使從內表面反射的光入射在檢驗目標上的最大入射角被設置為45°或者更大。

所述外殼可以包括：圓頂狀反射部件，該圓頂狀的反射部件具有形成圓頂形狀的內表面并且反射從所述發光部件照射的光；以及光源布置部件，該光源布置部件從所述圓頂狀的反射部件的下邊緣向內伸出。

所述圓頂狀反射部件可以被形成為積分球。

光通過其被傳送的光傳輸單元可以被形成在圓頂狀反射部件的最頂端。

所述發光模塊還可以包括相機模塊，該相機模塊被布置在所述圓頂狀反射部件的外部并通過所述光傳輸單元使所述檢驗目標成像。

所述發光部件可以包括將光照射至鄰近所述光傳輸單元的位置的至少一個光源。

所述圓頂狀反射部件的所述內表面可以被形成為光滑的表面或者包括形成在其中的細小粗糙度部分。

所述光源布置部件中所述發光部件布置在其上的表面可以被形成為斜面。

在光源布置部件中，傾斜的角度可以是0°至45°。

所述發光部件可以使用至少一個功率發光二極管(功率LED)作為光源。

所述圓頂狀反射部件可以具有20至200mm的半徑。

所述功率LED可以具有350至370mW的功率。

根據本公開的另一方面，視覺檢驗系統可以包括：發光模塊，該發光模塊包括外殼，在其中該外殼的內表面被形成為圓頂形狀，該發光模塊還包括發光部件，該發光部件被布置于所述外殼中并且發射將由所述外殼的所述內表面反射的光以使檢驗目標隨后被間接地輻射；以及相機模塊，該相機模塊布置在檢驗目標之上以使檢驗目標的外部成像，其中所述發光部件照射具有紫外光區域或與紫外光區域鄰近的可見光區域內的波長的光。

所述發光部件可以向所述外殼的內表面發射光以使入射在檢驗目標上的光的最大入射角被設置為45°或者更大。

所述視覺檢驗系統還可以包括控制部件，該控制部件與所述發光模塊和所述相機模塊相連接以控制所述發光模塊和所述相機模塊的功能。

根據本公開的另一方面，視覺檢驗系統可以包括：上述的發光模塊；相機模塊，該相機模塊對由所述發光模塊的光照射的檢驗目標的外部成像；以及控制部件，該控制部件與所述發光模塊和所述相機模塊相連接以控制所述發光模塊和所述相機模塊的功能。

附圖說明

根據下文結合附圖的詳細描述將更清楚地理解本公開的上述和其它方面、特征及其它優點，其中：

圖1是示出根據本公開的示例性實施方式的檢驗系統的結構圖示；