[發(fā)明專利]一種倒裝LED芯片在線檢測裝置

有效

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• 申請日: 2014-12-31
• 公開（公告）號: CN104483106B
• 公開（公告）日: 2017-11-24
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 朱國文;尹旭升;朱文凱;陳騰飛;庫衛(wèi)東;林康華;湯瑞;賀松平
• 申請（專利權(quán)）人: 華中科技大學(xué)
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G01R31/26;G01R1/04
• 代理公司: 華中科技大學(xué)專利中心42201
• 代理人: 梁鵬

1.一種倒裝LED芯片在線檢測裝置，其特征在于，該裝置包括：工作臺模塊(1)、收光測試組件(2)、運輸傳輸組件(3)以及探針測試平臺(4)，其中：

所述工作臺模塊(1)包括載物臺(11)和旋轉(zhuǎn)軸電機(12)，其中該載物臺(11)為中空的支架形式，并在其上設(shè)置有裝載多個待測試LED芯片的盤片(111)；該旋轉(zhuǎn)軸電機(12)具有傳動皮帶并纏繞在所述載物臺的底部，由此用于控制此載物臺的旋轉(zhuǎn)運動進(jìn)而調(diào)整所述芯片的位姿；此外，所述工作臺模塊(1)整體設(shè)置于所述運輸傳輸組件(3)之上，并在其帶動運輸作用下實現(xiàn)所述工作臺模塊(1)上待測試芯片的定位；

所述收光測試組件(2)包括積分球組件(21)和光學(xué)測試組件(22)；對于該積分球組件(21)而言，其包括積分球模塊(211)、積分球夾具(212)和積分球升降裝置(213)，其中所述積分球模塊(211)包括積分球(2111)和積分球90°轉(zhuǎn)接頭(2112)，并且該積分球(2111)位于所述載物臺(11)的中空部分并可在此中空部分執(zhí)行升降運動，該積分球90°轉(zhuǎn)接頭則設(shè)置在所述積分球(2111)的出光口的下部，并用于將收光光路由垂直方向轉(zhuǎn)化為水平方向；所述積分球升降裝置(213)用于在待測試芯片完成定位后上升，將所述積分球(2111)推動至此芯片的發(fā)光側(cè)并靠近所述盤片(111)；此外，對于該光學(xué)測試組件(22)而言，其包括亮度探頭(221)、光纖(222)和光學(xué)參數(shù)分析裝置，其中該光纖(222)用于將所述積分球(2111)的一側(cè)連接至所述光纖參數(shù)分析裝置，該亮度探頭(221)則設(shè)置在所述積分球(2111)的另外一側(cè)，該光纖參數(shù)分析裝置則對準(zhǔn)待測試LED芯片的發(fā)光側(cè)，由此對其光學(xué)參數(shù)進(jìn)行檢測；

所述探針測試平臺(4)設(shè)置于所述工作臺模塊(1)之上，其包括探針座(41)、探針座升降裝置(42)和探針(43)，其中該探針座升降裝置(42)用于帶動所述探針座(41)升降以完成所述探針(43)與所述待測試LED芯片的接觸和脫離，從而實現(xiàn)通電點亮所述待測試LED芯片，由此實現(xiàn)測試。

2.如權(quán)利要求1所述的一種倒裝LED芯片在線檢測裝置，其特征在于，該在線檢測裝置還包括精密對準(zhǔn)系統(tǒng)(5)，其包括兩個攝像頭，其中一個攝像頭位于掃描區(qū)(7)用于掃描待測試LED芯片的位姿，另外一個攝像頭位于檢測區(qū)(8)用于實現(xiàn)所述探針測試平臺(4)的所述探針(43)的對準(zhǔn)；此外，

所述掃描的位姿信息包括從所述掃描區(qū)(7)到所述檢測區(qū)(8)的每塊待測試LED芯片所對應(yīng)的所述運輸傳輸組件(3)和所述旋轉(zhuǎn)軸電機(12)的運動坐標(biāo)。

3.如權(quán)利要求1或2所述的一種倒裝LED芯片在線檢測裝置，其特征在于，所述運輸傳輸組件(3)包括X軸模塊(31)和Y軸模塊(32)，從而實現(xiàn)X軸和Y軸兩個軸向的運動，其中該X軸模塊(31)包括X軸導(dǎo)軌(312)、X軸基座(311)以及驅(qū)動所述X軸基座(311)沿所述X軸導(dǎo)軌(312)往復(fù)運動的驅(qū)動裝置(313)；其中該Y軸模塊(32)包括Y軸導(dǎo)軌(322)、Y軸基座(321)以及驅(qū)動所述Y軸基座(321)沿所述Y軸導(dǎo)軌(322)往復(fù)運動的驅(qū)動裝置(323)，所述Y軸模塊(32)設(shè)置于所述X軸基座(311)上。

4.如權(quán)利要求3所述的一種倒裝LED芯片在線檢測裝置，其特征在于，所述工作臺模塊(1)設(shè)置于所述Y軸基座(321)上。