[發(fā)明專(zhuān)利]一種直線檢測(cè)方法及系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201410851790.4 | 申請(qǐng)日: | 2014-12-31 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104574396A | 公開(kāi)(公告)日: | 2015-04-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 黃建軍;梁鐘尹;凌龍輝 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 深圳大學(xué) |
| 主分類(lèi)號(hào): | G06T7/00 | 分類(lèi)號(hào): | G06T7/00 |
| 代理公司: | 深圳市恒申知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所(普通合伙) 44312 | 代理人: | 陳健 |
| 地址: | 518060 廣東*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 直線 檢測(cè) 方法 系統(tǒng) | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于圖像處理技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種直線檢測(cè)方法及系統(tǒng)。
背景技術(shù)
隨著數(shù)字信號(hào)處理技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的發(fā)展,圖像處理正得到廣泛而深入的研究。圖像特征提取是圖像處理的一項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù),直線特征是圖像中物體的基本特征之一,是目標(biāo)識(shí)別和視覺(jué)感知的重要線索,直線往往對(duì)應(yīng)著目標(biāo)的輪廓線或者邊界。在圖像分析和模式識(shí)別中,根據(jù)直線檢測(cè)結(jié)果可以形成線性中層符號(hào)描述,從而使圖像的表示更簡(jiǎn)潔,便于完成后續(xù)的圖像識(shí)別任務(wù)。因而,直線檢測(cè)在航空、衛(wèi)星圖像中道路檢測(cè)、軍事偵察、圖像制導(dǎo)等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。
霍夫變換(Hough?Transform)是現(xiàn)有技術(shù)常用的檢測(cè)包括直線在內(nèi)的參數(shù)化曲線的方法。標(biāo)準(zhǔn)霍夫變換的基本思想是將圖像空間的一點(diǎn)變換到參量空間的曲線或曲面,具有同一參量特征的點(diǎn)經(jīng)變換后在參量空間中相交,通過(guò)判斷焦點(diǎn)處的累積程度來(lái)完成特征圖形的檢測(cè)。該方法具有優(yōu)異的魯棒性和極佳的抗干擾能力,對(duì)圖像中的噪聲不敏感,能夠較好地處理局部遮擋、覆蓋等情況。但由于霍夫變換是一種窮盡式搜索,對(duì)于大圖像的檢測(cè),計(jì)算復(fù)雜度和空間復(fù)雜度都很高,巨大的計(jì)算量阻止了它在實(shí)時(shí)性要求很高的領(lǐng)域的應(yīng)用。
為了解決標(biāo)準(zhǔn)霍夫變換存在的上述問(wèn)題,現(xiàn)有技術(shù)還提出了多種改進(jìn)的霍夫變換,例如概率霍夫變換(PHT)和隨機(jī)霍夫變換(RHT)等。PHT是將圖像數(shù)據(jù)映射到參數(shù)域中具有更大概率的單元,而非所有單元,可以有效降低時(shí)間和空間開(kāi)銷(xiāo);RHT是通過(guò)對(duì)圖像中像素點(diǎn)的隨機(jī)采樣,避免標(biāo)準(zhǔn)霍夫變換巨大的計(jì)算量,且降低了內(nèi)存需求,但RHT在處理復(fù)雜圖像時(shí),會(huì)引入大量無(wú)效采樣和累計(jì),使算法性能大為降低。
但對(duì)于圖像中點(diǎn)比較密集的情況,標(biāo)準(zhǔn)霍夫變換的直線檢測(cè)會(huì)窮盡式搜索所有點(diǎn),計(jì)算量大,且計(jì)算得到的ρ非常大,則ρ-θ平面也將非常大,耗費(fèi)大量的存儲(chǔ)空間。快速的霍夫變換直線檢測(cè)雖然能降低運(yùn)算量,但是內(nèi)存空間卻增加了,而PHT會(huì)對(duì)斷裂比較敏感,所以標(biāo)準(zhǔn)霍夫變換和改進(jìn)的霍夫變換直線檢測(cè)并未解決虛直線檢測(cè)中運(yùn)算量大、存儲(chǔ)空間大的問(wèn)題,同時(shí),在檢測(cè)過(guò)程中,由于丟失了線段的端點(diǎn)和長(zhǎng)度信息,因而不能直接定位直線段。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種直線檢測(cè)方法,旨在解決現(xiàn)有的標(biāo)準(zhǔn)霍夫變換及其各種改進(jìn)算法由于運(yùn)算量大、占用存儲(chǔ)空間大、檢測(cè)速度慢而不適用于檢測(cè)虛直線,且由于檢測(cè)過(guò)程丟失了線段端點(diǎn)和長(zhǎng)度信息而不適用于直線段定位的問(wèn)題。
本發(fā)明是這樣實(shí)現(xiàn)的,一種直線檢測(cè)方法,所述方法包括以下步驟:
從待處理圖像中抽取種子點(diǎn),得到種子點(diǎn)集合和補(bǔ)點(diǎn)集合;
構(gòu)建累積矩陣并初始化,所述累積矩陣的第一維下標(biāo)為種子點(diǎn)的序號(hào),所述累積矩陣的第二維下標(biāo)為直線方向角量化值的編號(hào),所述累積矩陣中的每一元素作為一個(gè)累積單元,各所述累積單元的初始值均為0;
求解所述種子點(diǎn)集合中各種子點(diǎn)與所述補(bǔ)點(diǎn)集合中各補(bǔ)點(diǎn)之間連線的方向角;
按照種子點(diǎn)-補(bǔ)點(diǎn)連線方向角與相鄰方向角量化值的距離成反比的方式,對(duì)所述累積矩陣中相應(yīng)的累積單元進(jìn)行累積;
對(duì)經(jīng)累積后的所述累積矩陣取門(mén)限來(lái)得到直線參數(shù)。
本發(fā)明的另一目的在于提供一種直線檢測(cè)系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括:
抽取模塊,用于從待處理圖像中抽取種子點(diǎn),得到種子點(diǎn)集合和補(bǔ)點(diǎn)集合;
構(gòu)建模塊,用于構(gòu)建累積矩陣并初始化,所述累積矩陣的第一維下標(biāo)為種子點(diǎn)的序號(hào),所述累積矩陣的第二維下標(biāo)為直線方向角量化值的編號(hào),所述累積矩陣中的每一元素作為一個(gè)累積單元,各所述累積單元的初始值均為0;
計(jì)算模塊,用于求解所述種子點(diǎn)集合中各種子點(diǎn)與所述補(bǔ)點(diǎn)集合中各補(bǔ)點(diǎn)之間連線的方向角;
累積模塊,用于按照種子點(diǎn)-補(bǔ)點(diǎn)連線方向角與相鄰方向角量化值的距離成反比的方式,對(duì)所述累積矩陣中相應(yīng)的累積單元進(jìn)行累積;
檢測(cè)模塊,用于對(duì)經(jīng)累積后的所述累積矩陣取門(mén)限來(lái)得到直線參數(shù)。
本發(fā)明提出的直線檢測(cè)方法及系統(tǒng)是從待處理圖像中抽取種子點(diǎn),以種子點(diǎn)及種子點(diǎn)和補(bǔ)點(diǎn)之間連線的方向角作為直線參數(shù)來(lái)構(gòu)造新的累計(jì)矩陣,并按種子點(diǎn)-補(bǔ)點(diǎn)連線方向角與相鄰方向角量化值的距離成反比的方式,對(duì)累積矩陣進(jìn)行累積,最后對(duì)累積矩陣取門(mén)限即可得到直線參數(shù)。由于采用了新的累積矩陣和二維反正切查找表的方法,相對(duì)于現(xiàn)有的標(biāo)準(zhǔn)霍夫變換及其各種改進(jìn)算法,減小了運(yùn)算量,節(jié)省了內(nèi)存空間,并可精確定位直線段,非常適用于在嵌入式系統(tǒng)等運(yùn)算和存儲(chǔ)資源有限情況下對(duì)虛直線的快速定位。
附圖說(shuō)明
圖1是本發(fā)明實(shí)施例提供的直線檢測(cè)方法的流程圖;
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于深圳大學(xué);,未經(jīng)深圳大學(xué);許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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