[發明專利]一種計量芯片抗干擾檢測及糾錯方法和裝置

有效

• 申請號: 201410851721.3
• 申請日: 2014-12-31
• 公開（公告）號: CN104635190A
• 公開（公告）日: 2015-05-20
• 發明（設計）人: 趙偉;駱貴泉
• 申請（專利權）人: 漳州科能電器有限公司
• 主分類號: G01R35/00
• 分類號: G01R35/00
• 代理公司: 廈門市首創君合專利事務所有限公司 35204
• 代理人: 李雁翔;林燕玲

技術領域

本發明涉及計量儀表領域，特別是一種計量芯片抗干擾檢測及糾錯方法和裝置。

背景技術

計量是一款儀表的重要組成部分，如果計量芯片發生錯誤，儀表的計量功能就受到影響，可能直接導致用戶和供貨商之間的法律糾紛。而檢測計量芯片錯誤和糾錯是儀表必不可少的部分。通常，與計量芯片通訊的通訊接口在環境中容易受到各種環境干擾，導致從計量芯片讀取回來的校表參數效驗和寄存器的值是錯誤的，如果這個時候去復位初始化計量芯片就可能造成本來正常運行的計量芯片間斷工作，從而計量測試就不準確。

發明內容

本發明的主要目的在于克服現有技術中的上述缺陷，提出一種能有效可靠的檢測計量芯片錯誤并進行糾錯處理的計量芯片抗干擾檢測及糾錯方法和裝置。

本發明采用如下技術方案：

一種計量芯片抗干擾檢測及糾錯方法，應用于內設有校表參數校驗和寄存器的計量芯片，該計量芯片在校表完成時對該校表參數校驗和寄存器的值進行備份，其特征在于：包括如下步驟：

1)讀取校表參數校驗和寄存器的值，并與備份的值進行比較，若相等，則不作處理，若不相等，則進入步驟2)；

2)再次讀取校表參數校驗和寄存器的值，與備份的值進行比較，若相等，則不作處理，若不相等，則進入步驟3)；

3)將兩次讀取到的校表參數校驗和寄存器的值進行比較，若相等，則復位該計量芯片，若不相等，則不作處理。

優選的，所述計量芯片為ATT7053B計量芯片。

一種計量芯片抗干擾檢測及糾錯裝置，其特征在于：包括

讀取裝置，用于讀取校表參數校驗和寄存器的值；

比較裝置，用于比較讀取到的校表參數校驗和寄存器的值與備份的值是否相等，并在不等時控制讀取裝置再次讀取并比較；

判斷處理裝置，用于在兩次讀取到的校表參數校驗和寄存器的值均與備份值不等時，判斷兩次值是否相等，并在相等時啟動復位裝置；

復位裝置，用于控制計量芯片復位。

由上述對本發明的描述可知，與現有技術相比，本發明具有如下有益效果：

本發明的方法和裝置，通過讀取校表參數校驗和寄存器的值，并與備份值進行比較，若兩次讀取和比較均不相等，且兩次讀取的值相等，說明不是受到環境因素干擾，則初始化計量芯片。本發明的方法和裝置能有效可靠地檢測計量芯片錯誤并進行糾錯處理，保證計量芯片正常工作。

附圖說明

圖1為本發明方法流程圖；

圖2為本發明裝置示意圖。

具體實施方式

以下通過具體實施方式對本發明作進一步的描述。

參照圖1，一種計量芯片抗干擾檢測及糾錯方法，應用于內設有校表參數校驗和寄存器的計量芯片，例如ATT7053B計量芯片。該計量芯片內部都有一個校表參數效驗和寄存器，如果該計量芯片因為某個原因導致校表參數發生變動，則這個寄存器值也跟著變化，那么一塊儀表在進行校表完成時就要將此校表參數效驗和寄存器的值進行備份方便儀表運行時進行實時監測比對。本發明的方法包括如下步驟：

1)讀取校表參數校驗和寄存器的值為M1，并與備份的值N進行比較，若相等，則不作處理，若不相等，則進入步驟2)；

2)再次讀取校表參數校驗和寄存器的值為M2，與備份的值N進行比較，若相等，則不作處理，若不相等，則進入步驟3)；

3)將兩次讀取到的校表參數校驗和寄存器的值進行比較，若相等，說明校表參數發生變動，則復位初始化該計量芯片，若不相等，表示通訊口可能受到干擾(如電磁干擾、高低溫濕度干擾等)，則不作處理。

本發明基于計量芯片的校表參數發送變動時，校表參數校驗和寄存器的值也會跟著發生變化。

參照圖2，本發明還提出一種計量芯片抗干擾檢測及糾錯裝置，包括

讀取裝置，用于讀取校表參數校驗和寄存器的值。

比較裝置，與讀取裝置相連，用于比較讀取到的校表參數校驗和寄存器的值與備份的值是否相等，并在不相等時控制讀取裝置再次讀取并比較。

判斷處理裝置，與比較裝置相連，用于在兩次讀取到的校表參數校驗和寄存器的值均與備份值不等時，判斷兩次值是否相等，并在相等時啟動復位裝置。

復位裝置，與判斷處理裝置相連，用于控制計量芯片復位。

上述僅為本發明的具體實施方式，但本發明的設計構思并不局限于此，凡利用此構思對本發明進行非實質性的改動，均應屬于侵犯本發明保護范圍的行為。