[發明專利]大氣壓下軟電離離子源裝置及方法在審
| 申請號: | 201410849805.3 | 申請日: | 2014-12-26 |
| 公開(公告)號: | CN104538276A | 公開(公告)日: | 2015-04-22 |
| 發明(設計)人: | 俞建成;聞路紅;趙鵬;胡舜迪;孫明超;吳勇;寧錄勝 | 申請(專利權)人: | 寧波大學 |
| 主分類號: | H01J49/10 | 分類號: | H01J49/10;H01J49/00 |
| 代理公司: | 無 | 代理人: | 無 |
| 地址: | 315211 *** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 大氣 壓下 電離 離子源 裝置 方法 | ||
技術領域
本發明涉及質譜分析,特別涉及大氣壓下軟電離離子源裝置及方法。
背景技術
目前,常規大氣壓下離子源的分析過程中,通常采用直接碰撞電離或是高能粒子的能力轉移方式電離,但在分析過程中,由于空氣對電離的影響不確定,因此存在很大的漲落。此外,不同溫度的空氣對于目標化合物的電離存在活性不一致的問題,最終影響系統的工作穩定性。
發明內容
為了解決上述現有技術方案中的不足,本發明提供了一種定性定量分析好、靈敏度高的大氣壓下軟電離離子源裝置。
本發明的目的是通過以下技術方案實現的:
一種大氣壓下軟電離離子源裝置,所述離子源裝置包括:
放電腔,所述放電腔的輸入端接收載氣,輸出端連接離子源模塊;
溶劑提供模塊,所述溶劑提供模塊用于提供含量穩定的溶劑并送入所述離子源模塊;
離子源模塊,所述離子源模塊用于離子化待測物質。
根據上述的離子源裝置,可選地,所述溶劑提供模塊包括:
密閉容器,密閉容器內裝溶劑;
第一管道,所述第一管道的進口端接收載氣,出口端處于所述容器內溶劑面之下;
第二管道,所述第二管道的進口端處于所述容器內溶劑面之上,出口端連通所述放電腔;
溫度傳感器,所述溫度傳感器用于將測得容器內的溶劑的溫度傳送到溫控器;
溫控器,所述溫控器用于調整容器內溶劑的溫度,使得溫度傳感器傳送來的溶劑的溫度達到設定值。
根據上述的離子源裝置,可選地,所述溶劑提供模塊直接連通離子源模塊,具體包括:
容器,容器內裝溶劑;
溫度傳感器,所述溫度傳感器用于將測得容器內的溶劑的溫度傳送到溫控器;
溫控器,所述溫控器用于調整容器內溶劑的溫度,使得溫度傳感器傳送來的溶劑的溫度達到設定值。
根據上述的離子源裝置,優選地,所述載氣是氮氣。
根據上述的離子源裝置,可選地,所述離子源裝置進一步包括:
伴熱模塊,所述伴熱模塊設置在溶劑提供模塊和離子源模塊之間的管道上,使得該管道內的溶劑保持氣態。
本發明還提供了應用上述任一離子源裝置的工作方法,具有定性定量分析好、靈敏度高、可生產性和可維護性好等優點。該發明目的通過以下技術方案得以實現:
上述的離子源裝置的工作方法,所述工作方法包括以下步驟:
(A1)載氣進入放電腔內,之后送往離子源模塊;
(A2)在所述離子源模塊內,待測物質被離子化,其中,離子源模塊內含量穩定的溶劑分子參與質子轉移反應。
根據上述的工作方法,可選地,所述工作方法進一步包括如下步驟:
(B1)載氣被通入溶劑面之下;所述溶劑被控制在一定溫度;
(B2)攜帶著溶劑的載氣排出溶劑面,被送往所述放電腔內。
根據上述的工作方法,可選地,所述工作方法進一步包括如下步驟:
(C1)容器內的溶劑被控制在一定溫度,溶劑蒸發后進入所述離子源模塊內。
根據上述的工作方法,優選地,所述載氣為氮氣。
與現有技術相比,本發明具有的有益效果為:
1、通過調節特定溶劑的氛圍,使得樣品區域中,有足夠的溶劑分子(如水分子)參加樣品電離,使得樣品電離充分,系統靈敏度提高,增加儀器對樣品待測物的檢出能力,同時提升系統的定量分析能力;
2、在現場離子源中,特定溶劑分子的引入,保證了電離時候,不破壞目標化合物基團,使得目標化合物處于軟電離狀態,有利于目標化合物的精確質量數的直接檢測,增強定性分析能力;
3、載氣的選擇范圍增大,N2、Ar、He都可以作為分析的載氣,其中采用N2可以大幅度降低分析成本;
4、全程伴熱的模式,保證管路無水汽滯留,提升系統的穩定性。
附圖說明
參照附圖,本發明的公開內容將變得更易理解。本領域技術人員容易理解的是:這些附圖僅僅用于舉例說明本發明的技術方案,而并非意在對本發明的保護范圍構成限制。圖中:
圖1為本發明實施例1的離子源裝置的結構示意圖;
圖2為本發明實施例2的離子源裝置的結構示意圖。
具體實施方式
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