[發明專利]存儲器故障檢測系統及方法

有效

• 申請號: 201410849720.5
• 申請日: 2014-12-29
• 公開（公告）號: CN104572385B
• 公開（公告）日: 2021-04-09
• 發明（設計）人: 馮穎俏;楊輝
• 申請（專利權）人: 中星技術股份有限公司;中星電子股份有限公司
• 主分類號: G06F11/26
• 分類號: G06F11/26
• 代理公司: 北京德恒律治知識產權代理有限公司 11409
• 代理人: 章社杲;盧軍峰

本發明公開了一種存儲器故障檢測系統，應用于對雙倍速率同步動態隨機存儲器DDR進行檢測，該系統包括：印刷線路板PCB、檢測插座Socket、開發測試板、檢測模塊，其中，PCB連接在開發測試板上，檢測插座連接在PCB上，DDR設置在檢測插座上，檢測模塊與開發測試板相連；檢測模塊用于對DDR進行檢測。本發明通過采用檢測插座可以將DDR焊接在該插座上，對DDR進行檢測，從而可以不采用傳統的直接焊接在檢測板上的方式，能夠打破cpu和DDR均采用BGA封裝的限制，并且本發明通過檢測插座可以提高檢測硬件的利用率多次使用，大大降低了在對DDR進行檢測時候的成本。

技術領域

本發明涉及計算機領域，具體來說，涉及一種存儲器故障檢測系統及方法。

背景技術

目前，在嵌入式系統中，除了CPU芯片外，經常會采用DDR動態存儲器用于程序的運行，存儲及數據緩存。目前本領域內DDR通常直接焊接到PCB板上，由于CPU和DDR芯片都是BGA封裝格式，一旦焊接到PCB上是無法直接測量DDR的控制信號，地址/數據信號，時鐘等信號的波形導致無法直接觀測DDR的控制信號，一旦DDR出問題往往耗費非常長時間以及高昂的成本去定位問題。

針對相關技術中的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

發明內容

針對相關技術中的問題，本發明提出一種存儲器故障檢測系統及方法，能夠快速簡便的定位出DDR的故障位置并且可以節約成本。

本發明的技術方案是這樣實現的：

根據本發明的一個方面，提供了一種存儲器故障檢測系統。

該系統包括：

印刷線路板PCB、檢測插座Socket、開發測試板、檢測模塊，其中，PCB連接在開發測試板上，檢測插座連接在PCB上，DDR設置在檢測插座上，檢測模塊與開發測試板相連；

檢測模塊用于對DDR進行檢測。

其中，該系統還可以包括：

檢測終端PC，PC與檢測模塊相連，用于將檢測指令發送至檢測模塊。

其中，該系統還可以包括：

示波器，示波器與DDR相連，用于對DDR進行測試。

其中，檢測插座存在多個測試引腳接口，其中多個測試引腳接口的部分或全部與DDR的引腳類型對應，并將DDR的引腳引出。

根據本發明的另一方面，還提供了一種存儲器故障檢測方法，該方法應用于上述存儲器故障檢測系統中，該方法包括：

檢測終端PC將檢測信息發送至測試模塊；

測試模塊根據檢測信息對雙倍速率同步動態隨機存儲器DDR進行檢測。

其中，檢測信息包括：

檢測步驟信息、寄存器的參數信息。

其中，測試模塊根據檢測信息對雙倍速率同步動態隨機存儲器DDR進行檢測，包括：

根據檢測DDR的串口的參數對DDR進行檢測。

其中，當參數異常的情況下，查看寄存器的參數信息用以確定DDR的初始化狀態，當初始化狀態為異常的情況下，配置寄存器的參數信息。

其中，當初始化狀態正常且參數異常的情況下，通過測試檢測插座引出的DDR的引腳的讀寫時序對DDR進行檢測。

此外，檢測模塊可以為主控CPU，用于對收集到的檢測信息進行分析及顯示。